[發明專利]接觸式CPU芯片生產測試方法有效
| 申請號： | 201310533597.1 | 申請日： | 2013-10-31 |
| 公開（公告）號： | CN104598350A | 公開（公告）日： | 2015-05-06 |
| 發明（設計）人： | 崔麗華 | 申請（專利權）人： | 上海華虹集成電路有限責任公司 |
| 主分類號： | G06F11/26 | 分類號： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產權代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴廣志 |
| 地址： | 201203 上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 接觸 cpu 芯片 生產 測試 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種接觸式CPU芯片生產測試方法，其特征在于：
接觸式CPU芯片上電后，首先判斷該接觸式CPU芯片處于何種模式；
如果為非測試模式，則直接進入應用模式，此時接觸式CPU芯片仍采用內部時鐘作為其工作時鐘；
如果為測試模式，則測試接觸式CPU芯片所有功能；此時接觸式CPU芯片同樣采用內部時鐘作為其工作時鐘，測試后的結果保存在SRAM中；完成功能測試后，再將接觸式CPU芯片的工作頻率切換到外部頻率，并對測試結果數據進行比對，如果和預期值一致，則通過，否則為失敗。
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