[發明專利]一種電能質量數據處理方法和裝置

有效

• 申請號: 201310530458.3
• 申請日: 2013-10-30
• 公開（公告）號: CN103605016A
• 公開（公告）日: 2014-02-26
• 發明（設計）人: 周剛;梅桂華;謝善益;常夏勤;趙云峰;曾強;李玎;翟瑞聰;楊強;馬明
• 申請（專利權）人: 廣東電網公司電力科學研究院;南京南瑞繼保工程技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 王茹;曾旻輝

1.一種電能質量數據處理方法，其特征在于，所述方法包括：

采集電能質量參數，

根據所述電能質量參數獲得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時刻采集的電能質量參數的數據構成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質量參數在不同時刻采集的數據構成；根據擾動事件波形典型異常庫所存儲的電能質量參數判斷所述矩陣M是否為異常擾動事件波形數據，

將所述異常擾動事件波形數據剔除；

利用剔除后的電能質量參數對電能質量進行分析。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述判斷所述矩陣M是否為異常擾動事件波形數據，具體包括：

從擾動事件波形典型異常庫中獲取特征矩陣D，所述特征矩陣D與所述矩陣M的行數和列數相同；

計算所述矩陣M與所述特征矩陣D的相似度S，所述相似度其中M_i,j是所述矩陣M中第i行第j列的元素，D_i,j是所述矩陣D中第i行第j列的元素；其中，m是所述矩陣M行的個數，n是所述矩陣M列的個數，i是大于0且小于m+1的整數，j是大于0且小于n+1的整數；

獲取相似度限值；

判斷所述相似度S是否大于相似度限值，若是，則所述矩陣M是異常擾動事件波形數據。

3.如權利要求2所述的方法，其特征在于，所述判斷所述相似度S是否大于相似度限值，若是，則所述矩陣M是異常擾動事件波形數據之后，還包括：

將所述矩陣M放入擾動事件波形典型異常庫。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟A和步驟B之間還包括：

獲取所述矩陣M每一行對應的第一系數和第二系數；

計算所述矩陣M每一行的最大值元素、最小值元素和平均值；

依次判斷所述矩陣M每一行的最大值元素是否大于當前行平均值和對應第一系數的乘積，

若是，則刪除所述最大值元素所在的列；

依次判斷所述矩陣M每一行最小值元素是否小于當前行平均值和對應第二系數的乘積，

若是，則刪除所述最小值元素所在的列。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述步驟A和步驟B之間還包括：

若所述矩陣M中第i行對應的電能質量參數P與其他t行對應的電能質量參數Q通過公式F關聯，即P＝f(Q1,Q2,...Qt)，則：

獲取所述第i行對應的第七系數；

針對所述M矩陣中第i行，依次計算該行第j列元素M_i，j的校驗數據

其中Qt_j為所述其他t行的第j列元素；其中，t是大于0且小于n的整數；

計算M_i,j與的差的絕對值X；

判斷所述絕對值X是否大于所述第七系數，若是，則刪除所述第j列。

6.一種電能質量數據處理裝置，其特征在于，所述裝置包括：

采集單元，用于采集電能質量參數；

第一獲取單元，用于根據所述電能質量參數獲得矩陣M，所述矩陣M的列元素由同一時刻采集的電能質量參數的數據構成，所述矩陣M的行元素由同一種電能質量參數在不同時刻采集的數據構成；

第一判斷單元，用于根據擾動事件波形典型異常庫所存儲的電能質量參數判斷所述第一獲取單元獲取的矩陣M是否為異常擾動事件波形數據，

處理模塊，用于將所述異常擾動事件波形數據剔除，以及利用剔除后的電能質量參數第電能質量進行分析。

7.如權利要求6所述的裝置，其特征在于，所述第一判斷單元，具體還用于：

從擾動事件波形典型異常庫中獲取特征矩陣D，所述特征矩陣D與所述矩陣M的行數和列數相同；

計算所述第一獲取單元獲取的矩陣M與所述特征矩陣D的相似度S，所述相似度其中M_i,j是所述矩陣M中第i行第j列的元素，D_i,j是所述矩陣D中第i行第j列的元素；其中，m是所述矩陣M行的個數，n是所述矩陣M列的個數，i是大于0且小于m+1的整數，j是大于0且小于n+1的整數；

獲取相似度限值；

判斷所述計算的相似度S是否大于所述獲取的相似度限值，若是，則所述矩陣M是異常擾動事件波形數據。