[發明專利]基于表面場強掃描的金具結構優化方法有效
| 申請號： | 201310529196.9 | 申請日： | 2013-10-30 |
| 公開（公告）號： | CN103530480A | 公開（公告）日： | 2014-01-22 |
| 發明（設計）人： | 余占清;戴夢婷;高志野;李敏;李銳海;曾嶸;高超;劉磊;楊蕓;田豐;張波 | 申請（專利權）人： | 清華大學;南方電網科學研究院有限責任公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 廖元秋 |
| 地址： | 100084*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 表面 場強 掃描 結構 優化 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種基于三維有限元場強計算的金具表面的曲率半徑優化方法，其特征在于，該方法具體包括以下步驟：
1）給定金具的結構和尺寸；
2）根據金具的結構和尺寸建立三維模型，根據三維模型采用有限元方法計算出金具整個表面場強；
3）搜索金具表面場強最大值Emax，并測量得到該值對應點的曲率半徑；
4）若表面場強最大值Emax在目標范圍之內，則優化步驟結束；否則進行步驟5）；
5）計算場強不均勻系數：將金具分解為若干個對稱結構，分別在每個對稱結構上取若干對稱路徑進行場強測量，取每條路徑上的場強最大值，并對所有路徑的場強最大值取平均得到場強值Eav；并計算場強不均勻系數為：K＝Emax/Eav；
6）優化步驟3）中表面場強最大點的曲率半徑，得到優化后的金具的結構和尺寸，轉至步驟2）；
優化步驟3）中表面場強最大點曲率半徑的具體方法為：
設步驟3）中表面場強最大點的曲率半徑為R，優化后的曲率半徑為：R'＝f(K)×R，其中f(K)是場強不均勻系數K的函數：
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