[發明專利]一種磁控形狀記憶合金性能的測試裝置無效
| 申請號: | 201310528270.5 | 申請日: | 2013-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN103557887A | 公開(公告)日: | 2014-02-05 |
| 發明(設計)人: | 涂福泉;李賀;劉小雙;陳奎生;曾良才;傅連東;許仁波;歐陽惠;周浩;王琦琳 | 申請(專利權)人: | 武漢科技大學 |
| 主分類號: | G01D21/02 | 分類號: | G01D21/02 |
| 代理公司: | 武漢科皓知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人: | 張火春 |
| 地址: | 430081 *** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 形狀 記憶 合金 性能 測試 裝置 | ||
1.一種磁控形狀記憶合金性能的測試裝置,其特征在于在所述裝置的底座(8)前后對稱地固定有前支撐架(9)和后支撐架(21),前支撐架(9)和后支撐架(21)上設置有鐵芯(14),鐵芯(14)前部的上平面設置有連接板(17);前左夾板(5)和前右夾板(16)的上端對應地壓在連接板(17)左端和右端,前左夾板(5)和前右夾板(16)的下端對應地固定在前支撐架(9)的左端和右端;后左夾板(22)和后右夾板(20)的上端對應地壓在鐵芯(14)的后左角和后右角的上平面,后左夾板(22)和后右夾板(20)的下端對應地固定在后支撐架(21)的左端和右端;連接板(17)的上平面固定有加載架(2);鐵芯(14)的左側纏繞有左線圈(6),鐵芯(14)的右側纏繞有右線圈(15);
加載架(2)的上部中心位置處設有螺孔,調節手柄(1)的下端旋出螺孔,靠近調節手柄(1)的下端處裝有彈簧擋片(3),連接板(17)的中心孔活動地裝有上頂桿(18),上頂桿(18)的上部設有環狀凸臺,在上頂桿(18)的環狀凸臺和調節手柄(1)的彈簧擋片(3)間裝有彈簧(19);底座(8)裝有力傳感器(10),力傳感器(10)上裝有下頂桿(11),下頂桿(11)的上端穿出前支撐架(9)的中心孔,下頂桿(11)與上頂桿(18)間裝有磁控形狀記憶合金(13);力傳感器(10)、下頂桿(11)、磁控形狀記憶合金(13)、上頂桿(18)和調節手柄(1)的中心線位于同一鉛垂線;
連接板(17)的中心孔孔口旁裝有位移傳感器(4),在鐵芯間隙的左側面或右側面的中間位置處固定有霍爾傳感器(12);在底座(8)上固定有隔磁罩(7),本裝置除底座(8)外的其余零部件均位于隔磁罩(7)內,加載架(2)的上部穿出隔磁罩(7)。
2.根據權利1所述的磁控形狀記憶合金性能的測試裝置,其特征在于所述隔磁罩(7)的材質為隔磁材料;底座(8)、前支撐架(9)、后支撐架(21)、下頂桿(11)、前左夾板(5)、前右夾板(16)、后左夾板(22)、后右夾板(20)、連接板(17)、上頂桿(18)和加載架(2)的材質為非導磁材料。
3.根據權利1或2所述的磁控形狀記憶合金性能的測試裝置,其特征在于所述的前左夾板(5)、前右夾板(16)、后左夾板(22)和后右夾板(20)的形狀相同,上端為倒“L”型,下端為“L”型。
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