[發明專利]一種倒裝納米LED芯片及其制備方法有效
| 申請號: | 201310526518.4 | 申請日: | 2013-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN103560186A | 公開(公告)日: | 2014-02-05 |
| 發明(設計)人: | 陳志忠;焦倩倩;姜顯哲;姜爽;李俊澤;李順峰;張國義 | 申請(專利權)人: | 北京大學 |
| 主分類號: | H01L33/06 | 分類號: | H01L33/06;H01L33/24;H01L33/44;H01L33/38;H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京萬象新悅知識產權代理事務所(普通合伙) 11360 | 代理人: | 王巖 |
| 地址: | 100871*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 倒裝 納米 led 芯片 及其 制備 方法 | ||
1.一種倒裝納米LED芯片,其特征在于,所述倒裝納米LED芯片包括:外延芯片部分(1)、襯底(2)和倒裝焊接部分(3);外延芯片部分(1)位于襯底(2)上,包括p型接觸層、n型接觸層、納米柱陣列(13)、未刻蝕n型層(14)和鈍化層(15);P型接觸層包括p電極層(111)、p焊盤層(112)和P電極焊盤臺(113);n型接觸層包括n電極層(121)和n焊盤層(122);其中,納米柱陣列(13)分布在未刻蝕n型層(14)上;分立的P電極焊盤臺(113)分布在未刻蝕n型層(14)上;納米柱陣列(13)和分立的P電極焊臺(113)交錯排列;分立的p電極層(111)與納米柱陣列(13)相對應,位于納米柱陣列上;分立的p焊盤層(112)與分立的p電極層(111)相對應,位于p電極層(111)上;在未刻蝕n型層(14)和n電極層(121)之上且在p焊盤層(112)之下,納米柱陣列(13)與分立的P電極焊盤臺(113)之間充滿鈍化層(15);位于襯底(2)上的外延芯片部分(1)倒扣在倒裝焊接部分(3)上。
2.如權利要求1所述的倒裝納米LED芯片,其特征在于,所述倒裝焊接部分包括基板(31)、分立的基板焊盤(32)和底部填充材料(33);分立的基板焊盤(32)與外延芯片部分的p焊盤層(112)和n焊盤層(122)相對應地位于基板(31)上,倒扣的外延芯片部分通過凸點(34)焊接在基板焊盤(32)上,中間充滿底部填充材料(33)。
3.如權利要求1所述的倒裝納米LED芯片,其特征在于,每一個分立的p電極焊盤臺(113)的橫向尺度在50~80微米。
4.如權利要求1所述的倒裝納米LED芯片,其特征在于,所述p電極層(111)和n電極層(121)的尺寸為微米量級。
5.一種倒裝納米LED芯片的制備方法,其特征在于,所述制備方法,包括以下步驟:
1)根據需求繪制電子束曝光的圖形,利用電子束曝光制備納米壓印的模板;
2)通過納米壓印將模板上的圖形轉移到外延片上,外延片包括依次在襯底上的n型層、多量子阱層及p型層;
3)在外延片上制備金屬掩膜,通過刻蝕得到納米柱陣列和分立的p電極焊盤臺;
4)對納米柱的側壁進行去損傷處理;
5)制備n電極層;
6)在納米柱陣列與分立的P電極焊盤臺之間填充鈍化層;
7)與納米柱陣列相對應,在納米柱陣列上制備分立的p電極層;
8)在n電極層上制備n焊盤層,以及與分立的p電極層相對應,在p電極層上制備p焊盤層;
9)將上述在襯底上制備好的外延芯片部分倒扣過來,焊接在倒裝焊接部分。
6.如權利要求5所述的制備方法,其特征在于,在步驟1)中,在潔凈的底板上通過普通光刻和鍍膜的方法制備出金屬圖形,該金屬主要用于電子束曝光的對版標記和p電極焊盤臺的圖形;然后在底板上個旋涂電子束曝光專用膠后,經過電子束曝光、顯影得到納米量級的圓孔陣列;然后用電子束蒸發的方法在上表面蒸鍍金屬掩膜,將電子束曝光膠剝離后就會得到帶有金屬納米柱壓印陣列、p電極焊盤臺壓印陣列及對版標記的底板,以金屬為掩膜,刻蝕并做抗粘處理后得到納米壓印的模板。
7.如權利要求5所述的制備方法,其特征在于,在步驟3)中如果使用金屬為掩膜,則步驟在1)中模板只需制備金屬納米柱壓印陣列及對版標記,p電極焊盤臺壓印陣列就不必制備;在步驟2)中,在外延片的表面先蒸鍍一層金屬,再旋涂納米壓印膠;在步驟3)中去完殘膠以后,以納米壓印膠為掩膜,先刻蝕金屬,形成納米柱陣列的金屬掩膜,除去納米壓印膠后再利用光刻制備p電極焊盤臺的金屬掩膜,然后再以金屬為掩膜刻蝕外延片,得到納米柱陣列和p電極焊盤臺。
8.如權利要求5所述的制備方法,其特征在于,在步驟4)中,對納米柱的側壁去損傷處理可采用熱KOH、HCl清洗,或者可嘗試用退火的方式,針對樣片的特性選擇合適的退火條件。
9.如權利要求5所述的制備方法,其特征在于,在步驟7)中,在制備p電極層之前,需先采用化學機械拋光CMP的方法將覆蓋在納米柱頂端的鈍化層去除掉,使納米柱暴露出來;將除p電極層及n焊盤層外的區域以絕緣層覆蓋;然后利用光刻技術將p電極層限制在每個納米柱的頂端的區域。
10.如權利要求5所述的制備方法,其特征在于,在步驟9)中,在分立的基板焊盤處植凸點,凸點采用金屬球,金屬球的大小在30~50微米,將外延芯片部分的n焊盤層和p焊盤層對準后倒裝在基板焊盤上,然后在外延芯片部分和基板間進行底部填充材料的填充工藝。
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