[發(fā)明專利]阻抗測量的肯內(nèi)利圓插值法

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310524978.3
• 申請日: 2013-10-30
• 公開（公告）號: CN104602175A
• 公開（公告）日: 2015-05-06
• 發(fā)明（設(shè)計）人: A·埃德格倫;趙娜
• 申請（專利權(quán)）人: 索尼公司
• 主分類號: H04R29/00
• 分類號: H04R29/00
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127
• 代理人: 呂俊剛;劉久亮

1.一種對與電子裝置相關(guān)聯(lián)的復阻抗數(shù)據(jù)進行插值的方法，該方法包括以下步驟：

利用計算裝置處理器來接收所述復阻抗數(shù)據(jù)；

利用計算裝置處理器將所述復阻抗數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成極坐標阻抗數(shù)據(jù)，其中，所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)限定了肯內(nèi)利圓；

利用計算裝置處理器，基于與所述肯內(nèi)利圓相關(guān)聯(lián)的至少一個參數(shù)來歸一化所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)；以及

利用計算裝置處理器，針對選定頻率來對所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)進行插值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述方法還包括以下步驟：確定與所述肯內(nèi)利圓相關(guān)聯(lián)的半徑參數(shù)和位置參數(shù)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，所述方法還包括以下步驟：基于與所述電子裝置的掛起損耗相關(guān)聯(lián)的電阻和與所述電子裝置相關(guān)聯(lián)的直流（DC）電阻，來確定所述半徑參數(shù)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，所述方法還包括以下步驟：基于所述半徑參數(shù)來確定所述位置參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，所述方法還包括以下步驟：基于所述半徑參數(shù)和所述位置參數(shù)來確定與所述肯內(nèi)利圓相關(guān)聯(lián)的轉(zhuǎn)角頻率指數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，所述方法還包括以下步驟：基于所確定的轉(zhuǎn)角頻率指數(shù)來修訂所述半徑參數(shù)和所述位置參數(shù)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述方法還包括以下步驟：對經(jīng)歸一化的阻抗數(shù)據(jù)進行中心化。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述方法還包括以下步驟：基于經(jīng)插值的阻抗數(shù)據(jù)來確定所述電子裝置的品質(zhì)值。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述選定頻率包括諧振頻率。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述選定頻率包括-3dB截止頻率。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述方法還包括以下步驟：基于經(jīng)插值的阻抗數(shù)據(jù)來模擬阻抗曲線。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述電子裝置的分辨率小于等于預定分辨率。

13.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，所述方法還包括以下步驟：確定與所述肯內(nèi)利圓相關(guān)聯(lián)的形狀，將該形狀與至少一個所存儲的形狀進行比較，以及確定在所確定的形狀與所述至少一個所存儲的形狀之間是否存在匹配。

14.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述電子裝置是以下裝置中的至少一個的一部分：揚聲器、移動電話、手表、音樂播放器、攝像機、臺式計算裝置、非移動計算裝置，或移動計算裝置。

15.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述電子裝置與閉環(huán)控制系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)。

16.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，所述電子裝置與開環(huán)控制系統(tǒng)相關(guān)聯(lián)。

17.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中，經(jīng)插值的阻抗數(shù)據(jù)使得能夠控制由所述電子裝置生成的音頻，并且其中，所述電子裝置包括揚聲器。

18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其中，所述音頻包括音樂或語音。

19.一種對與電子裝置相關(guān)聯(lián)的復阻抗數(shù)據(jù)進行插值的設(shè)備，該設(shè)備包括：

存儲器；

處理器；以及

存儲在所述存儲器中的可由所述處理器執(zhí)行的模塊，該模塊被設(shè)置成：

接收所述復阻抗數(shù)據(jù)；

將所述復阻抗數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成極坐標阻抗數(shù)據(jù)，其中，所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)限定了肯內(nèi)利圓；

基于與所述肯內(nèi)利圓相關(guān)聯(lián)的至少一個參數(shù)來歸一化所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)；以及

針對選定頻率來對所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)進行插值。

20.一種對與電子裝置相關(guān)聯(lián)的復阻抗數(shù)據(jù)進行插值的計算機程序產(chǎn)品，該計算機程序產(chǎn)品包括：

非暫時計算機可讀介質(zhì)，其包括使計算機執(zhí)行以下操作的一組代碼：

接收所述復阻抗數(shù)據(jù)；

將所述復阻抗數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換成極坐標阻抗數(shù)據(jù)，其中，所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)限定了肯內(nèi)利圓；

基于與所述肯內(nèi)利圓相關(guān)聯(lián)的至少一個參數(shù)來歸一化所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)；以及

針對選定頻率來對所述極坐標阻抗數(shù)據(jù)進行插值。