[發明專利]一種非均勻水淹層剩余油飽和度的確定方法

有效

• 申請號: 201310523076.8
• 申請日: 2013-10-29
• 公開（公告）號: CN104100263A
• 公開（公告）日: 2014-10-15
• 發明（設計）人: 任杰;畢建霞;陳彬;趙偉新;韓圓慶;趙真
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司中原油田分公司勘探開發科學研究院
• 主分類號: E21B49/08
• 分類號: E21B49/08
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 牛愛周

技術領域

本發明涉及地球物理測井評價儲層飽和度技術領域，具體為一種非均勻水淹層剩余油飽和度的確定方法。

背景技術

單井剩余油飽和度的確定是油田開發時期油藏剩余油分布規律研究的基礎，套后剩余油飽和度監測是目前國內外廣泛采用的手段，但套后飽和度檢測儀無法適用于高溫、高壓油藏，同時在油田老區，新鉆井有限，也不能僅僅依賴完井組合測井資料來確定剩余油飽和度。現有的解決方法是利用產出剖面資料確定剩余油飽和度。

據教材《生產測井原理與資料解釋》（郭海敏，戴家才，2007，270～272），利用水淹層的生產測井產出剖面資料，結合LEVERETT方程用油水相對滲透率為中間變量可建立產水率與地層在井點處的剩余油飽和度的關系式，利該關系式可以得到含水飽和度和產水率的關系圖版，對于某一油田，利用產出剖面資料可以得到單個井點處的縱向產水率，通過查圖版確定井點處的含水飽和度，進而得到水淹層剩余油飽和度。

對于陸相沉積儲層來說，儲層的巖性、物性不均勻以及沉積韻律的變化，必然造成油層的水淹程度不均勻。在用產出剖面資料確定水淹層剩余油飽和度的過程中，通過對產出剖面和不同時期的完井組合測井資料對比分析發現，產出剖面顯示只產水的層并不意味著該層的剩余油飽和度一定接近殘余油飽和度，當儲層非均勻水淹嚴重時，只能反映該層局部的剩余油飽和度接近殘余油飽和度，其它部位可能還有可動的剩余油飽和度，這種情形在非均勻水淹的中、厚層反映更為明顯。

圖1為東濮凹陷文東油田同一小層在相鄰井不同時期的深感應電阻率對比圖。W13-418井是該井完鉆時2005年3月31日測得的資料，沙三中8砂組的41號層深感應電阻率明顯表現出底部水淹強的特征，而上部水淹程度弱。與其相鄰且所處構造位置相近的W13-388井、W13-212井、W13-315井分別在2000年4月、1991年1月和1987年10月完井測井，W13-388井對應層顯示的特征為底部水淹強，W13-212和W13-315井的對應層為油層，對比這4口井可以看出，隨著開發時間的推移，電阻率在逐漸減低，儲層非均勻水淹特征明顯，注入水一旦突破形成水道，弱淹部位的剩余油被驅替的效果將會明顯減低，使用現有技術的方法求得的水淹層剩余油飽和度只能表明被水突破的部位剩余油飽和度，近似等于殘余油飽和度，在這種情況下,通常判斷為該層沒有可動油，而實際上，由于儲層非均質帶來的非均勻水淹效果，該儲層應當還有部分可動油，即井點處剩余油飽和度實際上是大于用現有技術方法求得的水淹層剩余油飽和度。因此，僅利用產出剖面資料確定的水淹層剩余油飽和度只能反映強水淹部位的剩余油飽和度，難以反映相對較弱水淹部位的剩余油飽和度，導致該方法確定的水淹層剩余油飽和度整體偏小，不能準確的反映儲層的實際情況。

發明內容

本發明的目的在于克服現有方法在利用產出剖面資料確定剩余油飽和度的過程中，未能考慮水淹層水淹程度的非均勻性，使確定的水淹層剩余油飽和度偏小、與儲層實際情況相差較大的缺陷，提供一種非均勻水淹層剩余油飽和度確定方法。其具體包括以下步驟：

1、利用水淹層的產出剖面資料確定水淹層的產水率，建立產水率與地層在井點處的剩余油飽和度的關系。

2、利用水驅油相滲實驗資料確定束縛水飽和度、殘余油飽和度以及水油粘度比。

3、采用多元統計分析方法和數學反演處理確定區塊產水率和含水飽和度的關系，建立產水率和含水飽和度的關系圖版。

4、通過查找產水率和含水飽和度的關系圖版，確定水淹層剩余油飽和度。

5、利用步驟4確定的水淹層剩余油飽和度，構建非均勻水淹層飽和度等效模型圖，建立非均勻水淹層平均剩余油飽和度與水淹層的原始含有飽和度、水淹層剩余油飽和度和水淹層厚度比例系數的關系式，并由此確定出對應非均勻水淹層的剩余油飽和度。其中，水淹層的原始含油飽和度由開發初期完井測井資料確定的。

使用本發明提供的一種非均勻水淹層剩余油飽和度確定的方法，通過構建非均勻水淹層飽和度等效模型圖，修正了產出剖面資料確定剩余油飽和度的方法，得到一種非均勻水淹層剩余油飽和度的確定方法，求得的非均勻水淹層剩余油飽和度更能反映水淹層的整體剩余油飽和度，與儲層的實際情況更加相符合，進而實現準確掌握區域剩余油飽和度分布規律，為油藏合理有效開發提供科學依據。

附圖說明

圖1是利用現有技術編制的同一小層在相鄰井中不同時期電阻率對比圖；

圖2是本發明技術方案流程框圖；

圖3是利用本發明編制的非均勻水淹層飽和度等效模型圖；