[發明專利]一種薄單砂層厚度預測方法

有效

• 申請號: 201310517846.8
• 申請日: 2013-10-28
• 公開（公告）號: CN104142516A
• 公開（公告）日: 2014-11-12
• 發明（設計）人: 劉忠亮;李勤英;蔡其新;郝加良;苗翠芝;王同錘;陳喜萍;李清辰
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司中原油田分公司物探研究院
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30
• 代理公司: 鄭州睿信知識產權代理有限公司 41119
• 代理人: 趙敏

技術領域

本發明涉及一種薄單砂層厚度預測方法，屬于油藏地震儲層預測技術領域。

背景技術

陸相斷陷湖盆，一般具有構造復雜、斷塊小而碎，多物源、小物源的特點，常見河流及三角洲砂體多期疊置類型，沉積地層縱向上常呈頻繁的砂泥巖薄互層韻律組合，砂巖儲層發育但單層厚度薄，橫向上砂巖儲層分布連續性差、變化大，單個砂體橫向展布范圍有限。利用相鄰鉆井鉆遇的砂體對比不能有效區分是否是同一砂體，影響了對砂體橫向分布的認識。受地震分辨率的限制，如何利用地震資料有效描述單砂層平面展布特征一直是困擾物探技術的難題，尤其是針對復雜斷塊油藏密集井網區小于1/4波長厚度的單砂層的預測更是困難，常規的地震方法不能有效識別和預測。

目前預測單砂層的厚度及平面展布的方法有限，主要有多井單砂層勾畫厚度圖、波阻抗反演技術、三維可視化解釋技術。

多井單砂層勾畫厚度圖：是通過讀取多口井的同一沉積環境下的單砂層厚度值標于這些井的井位坐標圖上，將相同值的點連成等值線，形成砂巖等厚圖。該方法直觀，缺陷是不能有效識別和描述單砂層在井間及無井區的變化分布，且同一等值線的砂層厚度值不能保證是代表的同一個砂體。

波阻抗反演技術：反演技術預測單砂層的方法是利用地震數據信息與井數據信息建立一種聯系并在構造模型約束的基礎上進行處理，計算出波阻抗體，再利用不同巖性對應不同波阻抗值的特點預測砂體的厚度與平面展布。優點，在測井約束下對模型進行迭代修改，得到高分辨率的地層波阻抗資料，為儲層厚度、物性等精細解釋提供了一種可能性解答，但是反演結果的可靠性受到地質條件和測井資料的控制，在斷層發育、尖滅頻繁、薄互層分布的復雜地質條件下，斷層邊界效應的影響使得斷層附近的反演精度受到影響，反演建模受到限制、效率降低。

三維可視化解釋主要是面塊切片的快速掃描、透視、雕刻，主要是以地震剖面上的波形變化點作為砂體的邊界，其優點是快速、直觀，但是種子點追蹤時易串層，厚度預測精度偏低。

專利申請號201310088179.6公開了“一種基于地震基準弧長對數屬性的砂巖厚度預測方法”，其優點是快捷、準確預測砂巖厚度，但是僅適用于少井地區的油氣勘探中，對復雜斷塊密集井網區的薄單砂層不適用。申請號200610126807.5公開了“基于地震屬性的煤層厚度分析方法”，該方法優點是考慮了多屬性參數，更接近實際，反映地震屬性預測煤層厚度效果較好。但是它不是針對的單砂層，且工序步驟較多。

綜上所述，目前針對復雜斷塊密集井網區的薄單砂層預測研究甚少，存在由于斷塊破碎，砂層地震反射特征及其位置難以確定；受地震分辨率限制，儲層界面難以分辨；由于斷層多，建模難度大、斷層邊界效應影響大，地震反演技術應用受到限制、效果不好的問題。為解決上述問題及現有技術的不足，我們發明一種利用高精度三維地震資料快捷、簡單、有效的預測復雜斷塊密集井網區薄單砂層的方法。

發明內容

本發明在于克服現有技術存在的由于斷塊破碎，砂層地震反射特征及其位置難以確定；受地震分辨率限制，儲層界面難以分辨；由于斷層多，建模難度大、斷層邊界效應影響大，地震反演技術應用受到限制、效果不好的問題。建立一種利用利用高精度三維地震資料中提取的平均反射強度預測單砂層厚度，為復雜斷塊密集井網區井間單砂層的變化提供一種簡便可行、快捷有效的方法，解決開發區井間注采矛盾。

本發明通過以下步驟實現：利用高精度三維地震信息的空間連續性，在復雜斷塊油藏密集井網區通過平均反射強度屬性簡單快速有效的對薄單砂體的厚度及平面展布進行定量描述，包括以下步驟：

①地震屬性的優選：通過優選確定平均反射強度屬性為對砂巖變化最敏感的地震屬性；

②確定提取時窗范圍：根據步驟①確定平均反射強度屬性，結合統計的已鉆井同一沉積旋回的單砂層厚度范圍，確定提取平均反射強度的時窗范圍；

③提取平均反射強度屬性并歸一化處理：沿追蹤的目標單砂層頂或底在確定的時窗范圍內提取平均反射強度，并對平均反射強度進行歸一化處理。

④建立平均反射強度值與單砂層厚度的關系式：根據單砂層厚度值與對應的平均反射強度值數據表形成交匯圖，并擬合線性關系，即y=kx+b其中：y為平均反射強度，x為單砂層厚度，k為隨不同沉積時期的單砂層而變化的可變常數，b為單砂層厚度為0時的平均反射強度值。

⑤單砂層厚度計算與極值矯正：利用步驟④的線性關系式將平均反射強度值換算出單砂層厚度值；再利用經驗公式低值區的經驗公式為

D_n=（C_n-C_min)/P