[發明專利]一種上下電測試電路及上下電測試裝置

有效

• 申請號: 201310516415.X
• 申請日: 2013-10-28
• 公開（公告）號: CN103559128A
• 公開（公告）日: 2014-02-05
• 發明（設計）人: 丁志鵬;孫鑫
• 申請（專利權）人: 深圳市宏電技術股份有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36
• 代理公司: 深圳中一專利商標事務所 44237
• 代理人: 張全文

1.一種上下電測試電路，其特征在于，所述電路與控制終端和待測設備連接，所述電路包括：

至少一電源，用于提供工作電源電壓以及測試電源電壓；

控制單元，用于將所述控制終端輸出的指令轉化為上電測試指令信號和測試選擇信號，所述控制單元的控制端與所述控制終端的輸出端連接，所述控制單元的電源端與所述電源的輸出端連接；

至少一測試選擇開關，用于在所述測試選擇信號的控制下導通或關斷，并于導通時輸出上電測試指令信號，所述測試選擇開關的控制端與所述控制單元的測試選擇輸出端連接，所述測試選擇開關的輸入端與所述控制單元的上電測試指令輸出端連接；

電源控制單元，用于選擇輸出一個或多個所述測試電源電壓，所述電源控制單元的輸入端與一個或多個所述電源的輸出端連接；

至少一可控開關單元，用于在上電測試指令信號的控制下導通或關斷，并于導通時利用所述測試電源電壓對所述待測設備進行上電測試，所述可控開關單元的控制端與所述測試選擇開關的輸出端連接，所述可控開關單元的輸入端與所述電源控制單元的輸出端連接，所述可控開關單元的輸出端與所述待測設備的電源端連接；

所述測試選擇開關與所述可控開關單元的數量相等。

2.如權利要求1所述的電路，其特征在于，所述控制單元為基于ARM架構的MCU，所述控制單元的控制端、測試選擇輸出端和上電測試指令輸出端均為串行數據通信接口。

3.如權利要求2所述的電路，其特征在于，所述控制單元的測試選擇輸出端和上電測試指令輸出端均為GPIO接口。

4.如權利要求2所述的電路，其特征在于，所述控制單元和所述待測設備均通過232、485或TTL協議進行數據傳輸。

5.如權利要求1所述的電路，其特征在于，所述測試選擇開關為N型MOS管，所述N型MOS管的柵極為所述測試選擇開關的控制端，所述N型MOS管的漏極為所述測試選擇開關的輸入端，所述N型MOS管的柵極為所述測試選擇開關的輸出端。

6.如權利要求1所述的電路，其特征在于，所述電源控制單元包括：

第一導通模塊和第二導通模塊；

所述電源控制單元的第一輸入端同時與所述電源控制單元的第一輸出端和所述第一導通模塊的第一輸入端連接，所述電源控制單元的第二輸入端同時與所述電源控制單元的第二輸出端和所述第一導通模塊的第二輸入端連接，所述電源控制單元的第二輸出端還同時與所述第一導通模塊的輸出端和所述第二導通模塊的第一輸入端連接，所述電源控制單元的第三輸入端同時與所述電源控制單元的第三輸出端和所述第二導通模塊的第二輸入端連接，所述電源控制單元的第三輸出端還與所述第二導通模塊的輸出端連接。

7.如權利要求1所述的電路，其特征在于，所述可控開關單元為繼電器，所述繼電器的線圈端為所述可控開關單元的控制端，所述繼電器的公共端為所述可控開關單元的輸入端，所述繼電器的常開端為所述可控開關單元的輸出端。

8.如權利要求1所述的電路，其特征在于，所述電源為多個，分別為第一電源和第二電源；

所述第一電源和所述第二電源的輸出端分別與所述電源控制單元的第一輸入端和第二輸入端連接。

9.如權利要求1所述的電路，其特征在于，所述測試選擇開關和所述可控開關單元均為多個；

多個測試選擇開關的控制端均與所述控制單元的一個或多個測試選擇輸出端連接，多個測試選擇開關的輸入端均與所述控制單元的一個或多個上電測試指令輸出端連接，多個測試選擇開關的輸出端分別與多個可控開關單元的控制端連接，多個可控開關單元的輸入端分別與所述電源控制單元的多個輸出端連接，多個可控開關單元的輸出端分別與多個待測設備的電源端連接。

10.一種上下電測試裝置，其特征在于，所述裝置包括如權利要求1至7任一項所述的上下電測試電路。