[發明專利]恒溫箱及測溫系統有效
| 申請號: | 201310514209.5 | 申請日: | 2013-10-25 |
| 公開(公告)號: | CN103537326A | 公開(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發明(設計)人: | 闕秀福;張建華;楊連喬 | 申請(專利權)人: | 上海大學 |
| 主分類號: | B01L1/00 | 分類號: | B01L1/00;B01L7/00;G01N25/00 |
| 代理公司: | 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224 | 代理人: | 吳平 |
| 地址: | 200444*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 恒溫箱 測溫 系統 | ||
技術領域
本發明涉及實驗儀器領域,特別是涉及恒溫箱及測溫系統。
背景技術
測試半導體器件熱阻及熱結構函數時,需將半導體器件放置于一個恒溫環境內,通常是將其放入恒溫箱內。恒溫箱是一種外壁裝有絕熱材料的箱子或柜櫥,通過與外界熱隔離,使箱體內空間的溫度保持恒定。恒溫箱現今被廣泛使用在實驗室、工業和醫藥領域中。傳統恒溫箱機械機構較復雜,使用的零件多,與外界熱傳導面積大,達不到較好的恒溫效果。
發明內容
基于此,有必要針對恒溫效果不理想問題,提供一種恒溫箱。
一種恒溫箱,包括:恒溫腔體,包括蓋體與抽屜槽,所述蓋體收容所述抽屜槽;溫度傳感器,與所述恒溫腔體相連,用于檢測所述恒溫腔體內溫度;以及溫度調節裝置,與所述恒溫腔體相連,用于調節所述恒溫腔體內溫度。
在其中一個實施例中,溫度調節裝置包括相互電連接的半導體加熱制冷片及驅動組件,所述驅動組件用于驅動所述半導體加熱制冷片工作,所述半導體加熱制冷片與所述恒溫腔體接觸。
在其中一個實施例中,還包括處理裝置,所述處理裝置連接所述溫度傳感器與所述溫度調節裝置,所述處理裝置根據所述溫度傳感器檢測到的溫度,調節所述溫度調節裝置。
在其中一個實施例中,溫度調節裝置還包括散熱器,所述散熱器與所述半導體加熱制冷片相連,用于對所述半導體加熱制冷片散熱。
在其中一個實施例中,抽屜槽包括相互連接的前面板與底板,所述底板與所述蓋體滑動連接,所述前面板與所述蓋體接合處設置有扣緊件,所述前面板通過所述扣緊件緊扣所述蓋體。
在其中一個實施例中,扣緊件為電磁鐵。
在其中一個實施例中,蓋體的兩側壁設有導軌,所述抽屜槽的兩側設有滑輪,所述滑輪在所述導軌方向滾動。
在其中一個實施例中,導軌包括水平導軌及豎直圓弧導軌,所述豎直圓弧導軌一端部位于所述水平導軌中段;所述滑輪數量為兩個,所述兩滑輪間隔等于所述豎直圓弧導軌半徑。
在其中一個實施例中,還包括隔熱塊,所述隔熱塊包覆所述蓋體。
本發明還提出一種恒溫測溫系統,包括恒溫箱,與所述恒溫箱連接的熱阻儀。
上述恒溫箱采用抽屜式結構,將箱體開口設于面積較小的側面,熱量上升至密封的箱體頂部也會被阻隔溢出,達到較好的恒溫效果。
附圖說明
圖1為本發明的恒溫箱結構圖;
圖2為圖1中的溫度調節裝置結構圖;
圖3為一種實施例中的恒溫箱結構圖;
圖4為裝有散熱器的恒溫箱結構圖;
圖5為裝配有扣緊件的恒溫箱結構圖;
圖6為設有導軌與滑輪的恒溫腔體結構示意圖;
圖7為一種實施例中蓋體軌道與抽屜槽滑輪裝配側視圖;
圖8為本發明的恒溫測溫系統結構圖。
具體實施方式
本發明提出一種恒溫箱結構,具體參考圖1~圖6,恒溫箱結構包括:恒溫腔體100、溫度傳感器200、溫度調節裝置300。
恒溫腔體100,包括蓋體120以及抽屜槽140,其中蓋體120可收容抽屜槽140。具體地,蓋體120收容抽屜槽140形成抽屜結構,該抽屜結構內部空間作為恒溫場所,用于放置待測器件。
溫度傳感器200,與恒溫腔體100相連,用于檢測恒溫腔體100內的溫度。具體地,溫度傳感器200可以采用非接觸式或接觸式的,優選為接觸式傳感器,例如熱電偶傳感器、PN結溫度傳感器等。溫度傳感器200的探頭伸進恒溫腔體100內,探測恒溫腔體100內的溫度。此外,溫度傳感器200的探頭也可以連接溫度調節裝置
溫度調節裝置300,與恒溫腔體100相連,用于調節恒溫腔體100內的溫度。具體地,溫度調節裝置300可以是制冷壓縮機、紅外線加熱機或者電加熱機的一種或幾種組合,具體可根據實驗要求而設置。根據溫度傳感器200檢測的參數,溫度調節裝置300對恒溫腔體100內溫度進行調節,直到箱內溫度等于或在允許誤差范圍內接近預設溫度。溫度調節裝置300可以安裝在恒溫腔體100內部或外部,在一個實施例中,溫度調節裝置300安裝于恒溫腔體100外底部,貼緊恒溫腔體100。
測試半導體器件熱阻及熱結構函數時,待測器件需要放置在熱損失小、恒溫精度高的恒溫箱內。上述恒溫箱設置成抽屜結構,結構簡單,且將腔體開口設置在面積較小的側面,減少了開口面積大小,降低熱損失,可以有效提高恒溫精度。
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