[發明專利]用于細胞凋亡調解子基因(BIM)缺失突變的檢測方法及其檢測試劑盒

在審

• 申請號: 201310513126.4
• 申請日: 2013-10-25
• 公開（公告）號: CN104561251A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發明（設計）人: 韓寶惠;夏金晶;邵敏華;黃迅威
• 申請（專利權）人: 上海市胸科醫院
• 主分類號: C12Q1/68
• 分類號: C12Q1/68
• 代理公司: 上海元一成知識產權代理事務所(普通合伙) 31268
• 代理人: 吳桂琴

1.一種用于細胞凋亡調解子基因缺失突變的檢測方法，其特征在于，檢測BIM基因第三、第四外顯子之間內含子上2903bp缺失情況；該方法包括步驟：

（a）抽提樣品的基因組DNA，擴增獲得BIM基因第三、第四外顯子之間的內含子上包含2903bp缺失的區域；

（b）檢測步驟（a）產物中BIM基因的缺失情況。

2.如權利要求1所述的檢測方法，其特征在于，所述的2903bp缺失位于BIM基因第三、第四外顯子之間的內含子上。

3.如權利要求1所述的檢測方法，其特在于，擴增BIM基因第三、第四外顯子之間的內含子上包含2903bp缺失的區域的引物序列如SEQ?ID?NO2、SEQ?ID?NO3和SEQ?ID?NO4所示。

4.如權利要求1所述的檢測方法，其特在于，該方法中還包括特異性擴增BIM基因第三、第四外顯子之間的內含子上包含2903bp缺失區域的引物。

5.如權利要求6所述的試劑盒，其特征在于，它含有與BIM基因第三、第四外顯子之間的內含子上2903bp缺失區域結合的探針，還包括特異性擴增BIM基因第三、第四外顯子之間的內含子上2903bp缺失區域的引物；與特異性擴增BIM基因第三、第四外顯子之間的內含子上2903bp缺失區域的引物的序列如SEQ?ID?NO?2和SEQ?ID?NO?3所示。