[發明專利]一種雙泥質指示因子含水飽和度模型的建立方法

有效

• 申請號: 201310512981.3
• 申請日: 2013-10-26
• 公開（公告）號: CN103615230A
• 公開（公告）日: 2014-03-05
• 發明（設計）人: 張晉言;孫建孟;劉海河;趙建鵬;陳錫武
• 申請（專利權）人: 中國石油化工集團公司;中石化勝利石油工程有限公司測井公司
• 主分類號: E21B47/00
• 分類號: E21B47/00;E21B49/00
• 代理公司: 東營雙橋專利代理有限責任公司 37107
• 代理人: 侯華頌

1.一種“雙泥質指示因子”含水飽和度模型的建立方法，其特征在于：首先在縱向上通過電成像對薄互層進行分層，根據“縱向泥質指示因子”給出層間耦合條件下薄互層之間導電物理模型，根據“橫向泥質指示因子”給出層內含泥質砂巖導電物理模型，然后在假設條件下，推導出針對于灘壩砂薄互層物理導電模型的數學公式。

2.根據權利要求1所述的“雙泥質指示因子”含水飽和度模型的建立方法，其特征在于按如下步驟實現：

a.建立等效物理模型

根據砂泥巖薄互層電成像測井資料，對處理窗長內的薄層進行巖性劃分，將巖性劃分為泥巖、砂巖、泥質砂巖三類并統計處理窗長內不同巖性的厚度，處理窗長內的電阻率是不同巖性薄層并聯的結果，不同巖性的權系數由“縱向泥質指示因子”給出；每一薄層的電阻率看作是泥質砂巖導電，通過“橫向泥質指示因子”控制薄層的泥質含量；

b.給出假設條件

模型的提出是基于以下假設的：

(1)

砂泥薄互層主要有三種導電形式：泥巖導電、砂巖導電和泥質砂巖導電；

(2)薄層厚度大于電成像測井的縱向分辨率；

(3)泥巖含水飽和度為100%，電阻率為定值；

(4)對于泥質砂巖地層，認為泥質在層內均勻分布；

(5)薄層在縱向上相互平行，在徑向上是等厚度的；

c.確定數學模型公式：針對砂泥薄互層儲層，在縱向上，采用“縱向泥質指示因子”考慮層間的耦合，在層內，采用“橫向泥質指示因子”考慮泥質對砂巖電性的影響；泥巖含水飽和度為100%，電阻率為定值R_sh；在處理窗長內，考慮到層間的耦合作用有：

1Rt=1-FVRs-sh+FVRsh]]>

針對于泥質砂巖層，在橫向上有：

1Rs-sh=1-FHRs+FHRsh]]>

對于純凈砂巖，根據阿爾奇公式有：

將上述三式合并可得：

Rt=abRshRwabFVRw+(1-FV)(RshφmSwn+FH(abRw-RshφmSwn))]]>

上面各式中，Rt為巖石等效電阻率(Ω·m)；Rw為地層水電阻率(Ω·m)；Rs

是純砂巖地層電阻率；Rsh是泥巖地層電阻率；φ為地層孔隙度(%)；Sw為含水飽和度(%)；

a，b，m，n為常數，F_V為縱向泥質指示因子，F_H為橫向泥質指示因子；

d.“雙泥質指示因子”的確定

“縱向泥質指示因子”不僅反映了處理窗長內的巖性信息，也反映了處理窗長內泥巖薄層的厚度與窗長長度的比值；當F_V=0時，處理窗長內巖性為泥質砂巖，根據泥質砂巖電阻率公式計算；當F_V=1時，處理窗長內為純泥巖，退化為純泥巖電阻率；“縱向泥質指示因子”通過處理窗長內純泥巖薄層的總厚度與窗長的比值給出：

FV=HshL]]>

“橫向泥質指示因子”反映了泥質砂巖中泥質含量的變化，當F_H=0時，泥質砂巖電阻率退化為純砂巖電阻率，當F_H=1時，泥質砂巖電阻率退化為純泥巖電阻率；“橫向泥質指示因子”由中子密度差值法計算得出。