[發明專利]一種網絡分析儀分波段校準內插補償方法有效
| 申請號: | 201310512957.X | 申請日: | 2013-10-28 |
| 公開(公告)號: | CN103543426A | 公開(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發明(設計)人: | 李樹彪;劉丹;郭永瑞;李明太;趙立軍;莊志遠 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第四十一研究所 |
| 主分類號: | G01R35/00 | 分類號: | G01R35/00 |
| 代理公司: | 北京眾合誠成知識產權代理有限公司 11246 | 代理人: | 龔燮英 |
| 地址: | 266555 山東省*** | 國省代碼: | 山東;37 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 網絡分析 波段 校準 內插 補償 方法 | ||
技術領域
本發明屬于測試技術領域,尤其涉及的是一種網絡分析儀分波段校準內插補償方法。
背景技術
矢量網絡分析儀相對于其它儀器最復雜、最完備的地方就在于擁有誤差修正功能,它應用軟件的方法來彌補硬件設計的不足,通過建立合適的誤差模型,使用特性已知的校準件完成校準,從而極大地提高了系統的測量精度。
校準是個要求非常嚴格的過程,甚至連接校準件的力度不同都會影響最終測試精度,一般來說校準后是不允許改變儀器狀態的,改變狀態后必須重新校準。但是針對某些用戶的特殊要求,例如想同時測量不同頻段的被測件,同時對測量結果要求不是特別高,但是對測量效率要求很高,不適合多次校準,目前的解決方案是利用相近點的誤差系數完成誤差修正或者對校準數據進行簡單的內插。利用相近點進行誤差修正很可能因為相近點跨波段而導致插值錯誤;而僅考慮校準數據而不考慮引起插值誤差的各項因素的簡單內插法,也會出現插值結果不理想甚至不正確的情況。
因此,現有技術存在缺陷,需要改進。
發明內容
本發明所要解決的技術問題是針對現有技術的不足,提供一種網絡分析儀分波段校準內插補償方法。
本發明的技術方案如下:
一種網絡分析儀分波段校準內插補償方法,其中,包括以下步驟:
步驟一:保存儀器影響校準效果的當前設置狀態,所述當前設置狀態為頻率和功率;
步驟二:進行標準件的測量執行校準;
步驟三:計算得到誤差系數,保存到誤差系數矩陣中;
步驟四:判斷測量狀態是否改變,如果是則進入校準內插數據處理流程;如果否則進入步驟五;
步驟五:測量被測件,連接被測件,執行測量;
步驟六:誤差修正,從誤差系數矩陣中提取誤差系數,根據校準方式不同選擇合適的誤差模型,通過測量數據和誤差系數,求解方程得到被測件的真實值;
步驟七:判斷是否測量完成,如是結束程序;如否則返回步驟四。
所述的網絡分析儀分波段校準內插補償方法,其中,所述步驟四中,校準內插數據處理流程的具體步驟為:
步驟401:提取原始誤差系數,將實際校準狀態下的真實誤差系數提取出來;
步驟402:將復數誤差系數轉換為幅度數據及相位數據;
步驟403:將相位數據轉換為反折疊線性相位數據;
步驟404:分波段執行幅度數據、相位數據的內插,插值算法選取拉格朗日算法,根據當前實際測量狀態執行內插,得到所有測量點的誤差系數;
步驟405:將幅度、相位數據重新轉換成復數數據,生成新的誤差系數,回傳誤差系數矩陣。
所述的網絡分析儀分波段校準內插補償方法,其中,所述步驟401中,原始誤差系數為復數。
所述的網絡分析儀分波段校準內插補償方法,其中,所述步驟404中,分波段執行幅度數據、相位數據的內插時,不做跨波段內插。
采用上述校準內插的實現方案比較適合矢量網絡分析儀的測量特點,所以插值效果比較理想,利用合適的插值算法計算非校準點的誤差系數,從而完成誤差修正。本發明操作非常簡單,可以把整個算法嵌入到矢量網路分析儀主機軟件內,也可以在儀器外部利用程控的方式實現,實用性、擴展性非常好。
附圖說明
圖1為本發明內插補償方法的流程圖。
圖2為本發明校準內插數據處理流程圖。
圖3為不同方式內插效果示意圖。
具體實施方式
以下結合附圖和具體實施例,對本發明進行詳細說明。
實施例1
圖1是本發明矢量網絡分析儀測量過程流程圖。
矢量網絡分析儀的整個測量過程大體可以分為以下幾個步驟:
首先開始,啟動程序運行;
步驟一:保存儀器當前設置狀態,這里主要保存影響校準效果的諸如頻率、功率等儀器當前設置狀態;
步驟二:執行校準,矢量網絡分析儀的校準主要包括機械校準、電校準兩種校準模式,同時還可以細分為SOLT、TRL等多種校準方式,主要過程就是進行標準件的測量;
步驟三:利用矢量網絡分析儀的固化程序完成方程組的求解,最終得到誤差系數,保存到誤差系數矩陣中;
步驟四:判斷校準狀態是否改變,在正式測量前要監測系統的狀態變化,如果矢量網絡分析儀的當前狀態和保存的儀器狀態不一致了,就要進入校準內插流程。主要操作就是從誤差系數矩陣中提取原始誤差系數,使用合適的插值算法,生成新的誤差系數,回傳到誤差系數矩陣中;
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于中國電子科技集團公司第四十一研究所,未經中國電子科技集團公司第四十一研究所許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310512957.X/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:減少頭部相關傳遞函數數據量
- 下一篇:減小半導體開關對信號路徑的干擾





