[發明專利]基于D/8條件對SCI誤差修正的分光測色儀及其方法

有效

• 申請號: 201310511357.1
• 申請日: 2013-10-24
• 公開（公告）號: CN103542938A
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發明（設計）人: 袁琨;陳剛;王堅
• 申請（專利權）人: 杭州彩譜科技有限公司;中國計量學院
• 主分類號: G01J3/46
• 分類號: G01J3/46
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所 44268
• 代理人: 王永文;劉文求

1.一種基于D/8條件對SCI誤差修正的分光測色儀，用于測量樣品的顏色，其特征在于，所述分光測色儀包括：光阱、光源、積分球、第一撥片、第一撥片控制裝置、光譜儀、第二撥片、第二撥片控制裝置和用于進行數據處理的處理裝置；

所述積分球的側壁設置有一入射口，所述光源發出的光線通過所述入射口進入積分球；所述樣品設置在積分球的下部開孔處；所述光譜儀設置在積分球上垂直于樣品法線的-8°的位置處；所述光阱設置在積分球上垂直于樣品法線的+8°的位置處，且在所述積分球上垂直于樣品法線的+8°的位置處設置有上部開孔；所述第一撥片設置在光阱處，且第一撥片上涂覆與積分球內壁相同的白色漫反射涂料；所述第一撥片控制裝置連接第一撥片；所述第二撥片設置在積分球的下部開孔處，且在第二撥片上設置有標準白板；所述第二撥片控制裝置連接第二撥片；所述光譜儀連接所述處理裝置；

所述第一撥片控制裝置控制所述第一撥片關閉積分球上部開孔，得到無光阱的SCI測量條件；然后所述第二撥片控制裝置控制所述第二撥片關閉積分球下部開孔；所述光源發出的光經過積分球漫反射到所述標準白板上；所述光譜儀接收經標準白板表面反射過來的反射光；所述第二撥片控制裝置再控制所述第二撥片打開積分球下部開孔；所述光源發出的光經過積分球漫反射到所述樣品上；所述光譜儀接收經樣品表面反射過來的反射光；所述處理裝置對光譜儀兩次測量的信號進行數據處理而獲得相應的第一測量結果；

所述撥片控制裝置控制所述撥片打開積分球上部開孔，得到有光阱的SCE測量條件；然后所述第二撥片控制裝置控制所述第二撥片關閉積分球下部開孔；所述光源發出的光經過積分球漫反射到所述標準白板上；所述光譜儀接收經標準白板表面反射過來的反射光；所述第二撥片控制裝置再控制所述第二撥片打開積分球下部開孔；所述光源發出的光經過積分球漫反射到所述樣品上；所述光譜儀接收經樣品表面反射過來的反射光；所述處理裝置對光譜儀兩次測量的信號進行數據處理而獲得相應的第二測量結果；

所述處理裝置根據所述第一測量結果和第二測量結果計算樣品表面的光澤并對第一測量結果進行修正。

2.根據權利要求1所述的基于D/8條件對SCI誤差修正的分光測色儀，其特征在于，所述撥片控制裝置為步進電機，所述處理裝置為計算機。

3.根據權利要求1所述的基于D/8條件對SCI誤差修正的分光測色儀，其特征在于，所述光源為包括多個LED光源的LED復合光源。

4.根據權利要求3所述的基于D/8條件對SCI誤差修正的分光測色儀，其特征在于，所述LED復合光源包括5個LED光源，分別為色溫3500K的白光LED，及峰值波長為400nm、480nm、680nm和700nm的單色LED。