[發明專利]基于電成像測井孔隙度譜信息自動識別儲層裂縫的方法

有效

• 申請號: 201310507013.3
• 申請日: 2013-10-24
• 公開（公告）號: CN103592690A
• 公開（公告）日: 2014-02-19
• 發明（設計）人: 張翔;肖小玲;劉曉敏
• 申請（專利權）人: 長江大學
• 主分類號: G01V3/18
• 分類號: G01V3/18;G01N15/08
• 代理公司: 北京市中實友知識產權代理有限責任公司 11013
• 代理人: 熊成香

1.一種基于電成像測井孔隙度譜信息自動識別儲層裂縫的方法，其特征在于包括如下步驟：

（1）電成像測井孔隙度分布譜的計算：

根據阿爾奇公式，將經過淺側向電阻率刻度的電成像計算電成像測井孔隙度分布譜；

每個電扣電導率被轉換為孔隙度，采用公式（1）進行計算；

φi=[aRmfSxon·Ci]1/m---(1)]]>

式中：φ_i為計算出的電扣孔隙度，v/v；

a為阿爾奇公式的地層因子參數；

Rmf為泥漿濾液電阻率，單位為歐姆米；

Sxo為沖洗帶含水飽和度，v/v；

C_i為沖洗帶井壁的電導率,S/m；

M為阿爾奇公式中的孔隙度指數,取值在1－2之間；

對于一個圖像窗口，根據每個像素點的孔隙度計算結果值統計其直方圖，得到孔隙度分布譜；

（2）孔隙度分布譜統計特征的計算：

在電成像測井孔隙度分布譜的基礎上，計算孔隙度分布譜的能量、熵、對比度及期望值四個統計特征；

孔隙度分布譜的能量用公式（2）進行計算；

Energy=Σi=1np(xi)2---(2)]]>

孔隙度分布譜的熵用公式（3）進行計算；

Entropy=-Σi=1np(x1).log2p(xi)---(3)]]>

孔隙度分布譜的對比度用公式（4）進行計算；

Contrast=Σi=1np(xi)(xi-Expectation)2Σi=1np(xi)---(4)]]>

孔隙度分布譜期望值用公式(5)進行計算；

Expectation=Σi=1nxi.p(xi)/Σi=1n.p(xi)---(5)]]>

其中：x_i為孔隙度分布譜中第i采樣點的孔隙度；

p(x_i)為相應于孔隙度x_i的頻數，即像素點數；

n為孔隙度份數；

（3）單一特征的裂縫概率的計算：

依據能量、熵、對比度及期望值四種特征在儲層裂縫發育處具有的不同特性，采用不同的裂縫概率計算公式；

熵、對比度、期望值采用公式（6）計算裂縫概率；

P=(X-Xmin)(Xmax-Xmin)---(6)]]>

其中：X為相應計算的特征值；

X_max為相應計算的特征值的最大值；

X_min為相應計算的特征值的最小值；

能量采用公式（7）計算裂縫概率；

P=1-(X-Xmin)(Xmax-Xmin)---(7)]]>

其中：X為相應計算的特征值；

X_max為相應計算的特征值的最大值；

X_min為相應計算的特征值的最小值；

（4）建立多種特征信息融合的裂縫識別概率模型：

由公式（6）與公式（7）得到第i種特征曲線的第j個采樣點的概率為P_ij，(i=1,2,…,m；j=1,2,…,n)；第j個深度采樣點，第i種特征曲線的權值系數w_ij定義為：

wij=Pij/Σi=1mPij---(8)]]>

對應于目的井段的所有測量采樣點,第i種特征曲線的權值系數w_i定義為

wi=Σj=1nwij/n---(9)]]>

每個深度采樣點儲層裂縫發育的綜合概率為多種特征的概率加權和,即

Pj=Σi=1mwiPij---(10)]]>

（5）儲層裂縫的識別：

由式（10）計算出每個深度采樣點的儲層裂縫的預測概率；當P_j≥P₀時，為儲層裂縫發育；其中，P₀為儲層裂縫判別閾值，為目標地區的經驗參數，由巖心描述裂縫與研究區裂縫概率預測結果確定。