[發(fā)明專(zhuān)利]光敏二極管有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310506692.2 | 申請(qǐng)日: | 2013-10-23 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103606587A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張寧;王本艷;劉小玲 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L31/103 | 分類(lèi)號(hào): | H01L31/103;H01L31/0352;H01L27/144 |
| 代理公司: | 上海申新律師事務(wù)所 31272 | 代理人: | 竺路玲 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光敏 二極管 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種半導(dǎo)體器件結(jié)構(gòu),尤其涉及一種光敏二極管結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
光敏二極管(即光敏電阻)是一種對(duì)光變化非常敏感的半導(dǎo)體器件,光敏二極管的管芯是一個(gè)具有光敏特征的PN結(jié),其具有單向?qū)щ娦浴R虼耍梢岳霉庹諒?qiáng)弱來(lái)改變電路中的電流。
光敏二極管也叫光電二極管,其管芯是一個(gè)具有光敏特征的PN結(jié)。當(dāng)無(wú)光照時(shí),有很小的飽和反向漏電流,即暗電流,此時(shí)光敏二極管截止。當(dāng)受到光照時(shí),飽和反向漏電流大大增加,形成光電流,它隨入射光強(qiáng)度的變化而變化。當(dāng)光線(xiàn)照射PN結(jié)時(shí),可以使PN結(jié)中產(chǎn)生電子空穴對(duì),使得少數(shù)載流子的密度增加。
光敏二極管的應(yīng)用也及其廣泛,現(xiàn)有的光敏二極管主要是由Ptap與Ntap構(gòu)成,并依靠該P(yáng)tap與Ntap形成PN結(jié)起到光敏二極管的作用,其剖面結(jié)構(gòu)如圖1所示,其版圖結(jié)構(gòu)(即俯視結(jié)構(gòu))如圖2所示。從圖中可以看出,這種光敏二極管版圖結(jié)構(gòu)由于其是不對(duì)稱(chēng)的,因此并不利于大規(guī)模的集成。
另外,由于這種結(jié)構(gòu)很明顯地區(qū)別于其他器件結(jié)構(gòu),因此在使用時(shí)容易被別有用心的人識(shí)別并加以利用,導(dǎo)致造成信息的外泄等問(wèn)題。
中國(guó)專(zhuān)利(CN101064351A)與中國(guó)專(zhuān)利(CN102544139A)均公開(kāi)了光電二極管的結(jié)構(gòu)和裝置,但該兩篇專(zhuān)利并未對(duì)上述技術(shù)問(wèn)題提出相應(yīng)的改進(jìn)措施。
發(fā)明內(nèi)容
鑒于上述問(wèn)題,本發(fā)明提供一種光敏二極管。
本發(fā)明解決技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案為:
一種光敏二極管,包括:多晶硅層、硅化物層、P型重?fù)诫s區(qū)域、N型重?fù)诫s區(qū)域、N型阱區(qū)、P型襯底和接觸孔,其中,所述P型襯底中形成有所述N型阱區(qū),所述N型阱區(qū)的表面設(shè)有硅化物層,所述硅化物層的表面設(shè)置有多晶硅層;
位于所述硅化物層左側(cè)的N型阱區(qū)內(nèi)設(shè)置有第一P型有源區(qū),位于所述硅化物層右側(cè)的N型阱區(qū)內(nèi)設(shè)置有第二P型有源區(qū),所述第一P型有源區(qū)和所述第二P型有源區(qū)通過(guò)所述硅化物層隔開(kāi);
所述第一P型有源區(qū)的表面設(shè)置有第一接觸孔,所述第二P型有源區(qū)的表面設(shè)置有第二接觸孔,所述第一接觸孔內(nèi)側(cè)與所述第二接觸孔內(nèi)側(cè)之間構(gòu)成感光區(qū);
位于所述第一P型有源區(qū)左側(cè)的N型阱區(qū)內(nèi)還設(shè)置有第一N型重?fù)诫s區(qū)域,位于所述第二P型有源區(qū)右側(cè)的N型阱區(qū)內(nèi)還設(shè)置有第二N型重?fù)诫s區(qū)域;
所述第一N型重?fù)诫s區(qū)域的表面設(shè)置有第三接觸孔,所述第二N型重?fù)诫s區(qū)域的表面設(shè)置有第四接觸孔;
位于所述第一N型重?fù)诫s區(qū)域左側(cè)的P型襯底中設(shè)置有第三P型重?fù)诫s區(qū)域,位于所述第二N型重?fù)诫s區(qū)域右側(cè)的P型襯底中設(shè)置有第四P型重?fù)诫s區(qū)域;
所述第三P型重?fù)诫s區(qū)域的表面設(shè)置有第五接觸孔,所述第四P型重?fù)诫s區(qū)域的表面設(shè)置有第六接觸孔。
所述的光敏二極管,其中,所述感光區(qū)內(nèi)不含有任何金屬。
所述的光敏二極管,其中,所述第一接觸孔的左側(cè)邊緣與所述第一P型有源區(qū)的左側(cè)邊緣在同一直線(xiàn)上。
所述的光敏二極管,其中,所述第二接觸孔的右側(cè)邊緣與所述第二P型有源區(qū)的右側(cè)邊緣在同一直線(xiàn)上。
所述的光敏二極管,其中,將位于所述多晶硅層中心位置的豎向直線(xiàn)設(shè)為中軸線(xiàn);
所述第一P型有源區(qū)與所述第二P型有源區(qū)關(guān)于所述中軸線(xiàn)對(duì)稱(chēng);
所述第一N型重?fù)诫s區(qū)域與所述第二N型重?fù)诫s區(qū)域關(guān)于所述中軸線(xiàn)對(duì)稱(chēng);
所述第三P型重?fù)诫s區(qū)域與所述第四P型重?fù)诫s區(qū)域關(guān)于所述中軸線(xiàn)對(duì)稱(chēng)。
所述的光敏二極管,其中,所述第一接觸孔與所述第二接觸孔關(guān)于所述中軸線(xiàn)對(duì)稱(chēng);
所述第三接觸孔與所述第四接觸孔關(guān)于所述中軸線(xiàn)對(duì)稱(chēng);
所述第五接觸孔與所述第六接觸孔關(guān)于所述中軸線(xiàn)對(duì)稱(chēng)。
所述的光敏二極管,其中,所述第一P型有源區(qū)的左側(cè)邊緣與所述N型阱區(qū)的左側(cè)邊緣之間的距離符合制程最小規(guī)定的間距;
所述第二P型有源區(qū)的右側(cè)邊緣與所述N型阱區(qū)的右側(cè)邊緣之間的距離符合制程最小規(guī)定的間距。
上述技術(shù)方案具有如下優(yōu)點(diǎn)或有益效果:
本發(fā)明通過(guò)將PMOS的源端和漏端以及P型襯底作為P型重?fù)诫s,把PMOS的阱襯底作為N型摻雜,并且把P型有源區(qū)上的接觸孔內(nèi)側(cè)之間作為感光區(qū),以使得光敏二極管在PMOS的基礎(chǔ)上形成,從而在版圖中的圖形與PMOS圖形較為相似,進(jìn)而使得在版圖上較難被發(fā)現(xiàn),提高了器件結(jié)構(gòu)的安全型,降低了造成信息外泄的可能性。
附圖說(shuō)明
參考所附附圖,以更加充分的描述本發(fā)明的實(shí)施例。然而,所附附圖僅用于說(shuō)明和闡述,并不構(gòu)成對(duì)本發(fā)明范圍的限制。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對(duì)紅外輻射、光、較短波長(zhǎng)的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專(zhuān)門(mén)適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專(zhuān)門(mén)適用于通過(guò)這樣的輻射進(jìn)行電能控制的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過(guò)該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個(gè)或多個(gè)電光源,如場(chǎng)致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





