[發(fā)明專利]一種新型音叉晶體的動態(tài)測試電路

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310504769.2
• 申請日: 2013-10-23
• 公開（公告）號: CN103529326A
• 公開（公告）日: 2014-01-22
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王斌;李向東;劉坤
• 申請（專利權(quán)）人: 湖北泰晶電子科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及到測試電路領(lǐng)域，是一種新型音叉晶體的動態(tài)測試電路。具體是石英音叉晶體在分析其穩(wěn)定度時使用激勵電壓動態(tài)變化檢測其頻率、阻抗等參數(shù)的一種測試方法。

背景技術(shù)

在石英晶體生產(chǎn)領(lǐng)域，需要對成品的電氣性能進行測試，現(xiàn)有的一般性測試都是在電壓處于穩(wěn)態(tài)時進行的測試，由于石英音叉晶體應(yīng)用在不同領(lǐng)域，在不同的發(fā)振電路中發(fā)振激勵電壓是各不相同的，導(dǎo)致有些晶體由于穩(wěn)定度性能達不到要求，頻率會發(fā)生很大變化，與出廠時的標稱頻率發(fā)生了差異。為了避免這種差錯，需要對晶體進行動態(tài)測試。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是要提供一種用于音叉晶體的動態(tài)測試電路。

本發(fā)明的技術(shù)方案是：一種新型音叉晶體的動態(tài)測試電路，其特征是分壓調(diào)節(jié)電路A、分壓調(diào)節(jié)電路B分壓調(diào)節(jié)電路C和分壓調(diào)節(jié)電路D分別與選通網(wǎng)絡(luò)一端連接，選通網(wǎng)絡(luò)的另一端與加法電路連接，加法電路的另一端通過與信號輸入端與自動增益控制反相控制電路連接，加法電路的另一端通過小信號整流電路與自動增益控制反相控制電路和同相比例運算放大電路的連接線相連，同相比例運算放大電路的另一端與測試音叉晶體的一端連接，測試音叉晶體的另一端與自動增益控制反相控制電路連接。

由于采用了上述技術(shù)方案，在石英音叉晶體的振蕩回路中，增加四個分壓調(diào)節(jié)電路，選通網(wǎng)絡(luò)，加法電路，在選通網(wǎng)絡(luò)的控制下，使發(fā)振回路的振幅控制電壓發(fā)生變化，使加在石英音叉晶體兩端的激勵電壓改變，從而實現(xiàn)對石英音叉晶體的動態(tài)測量。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的結(jié)構(gòu)示意圖。

在圖中：1、分壓調(diào)節(jié)電路A；2、分壓調(diào)節(jié)電路B；3、分壓調(diào)節(jié)電路C；4、分壓調(diào)節(jié)電路D；5、選通網(wǎng)絡(luò)；6、加法電路；7、小信號整流電路；8、同相比例運算放大電路；9、自動增益控制反相控制電路；10、測試音叉晶體；11、信號輸入端。?

具體實施方式

下面結(jié)合實施例對本發(fā)明作進一步的說明。

在圖1中，分壓調(diào)節(jié)電路A1、分壓調(diào)節(jié)電路B2分壓調(diào)節(jié)電路C3和分壓調(diào)節(jié)電路D4分別與選通網(wǎng)絡(luò)5一端連接，選通網(wǎng)絡(luò)5的另一端與加法電路6連接，加法電路6的另一端通過與信號輸入端11與自動增益控制反相控制電路9連接，加法電路6的另一端通過小信號整流電路7與自動增益控制反相控制電路9和同相比例運算放大電路8的連接線相連，同相比例運算放大電路8的另一端與測試音叉晶體10的一端連接，測試音叉晶體10的另一端與自動增益控制反相控制電路9連接。

實施例，測試音叉晶體10，在同相比例運算放大電路8，和反相比例運算放大電路9構(gòu)成的主回路作用下，開始振蕩，主回路中振蕩產(chǎn)生的頻率由測試音叉晶體10決定。由于測試音叉晶體在振蕩時有特性阻抗，不同的晶體特性阻抗有差異，在回路中表現(xiàn)為主回路電流幅度不同，主回路中的電流經(jīng)過小信號整流電路7，把交變電流轉(zhuǎn)換為穩(wěn)恒直流電壓，輸入到自動增益控制反相控制電路9的信號輸入端11端中，該反饋信號為電壓幅度控制負反饋，有了反饋信號電路的自動調(diào)節(jié)使不同晶體兩端激勵電壓保持穩(wěn)定，改變反饋信號，晶體兩端激勵電壓會改變，在這個基本電路中，通過加法電路6，加入一個直流電壓信號，根據(jù)疊加原理，附加的電壓信號疊加在原有主回路反饋信號上，使晶體兩端激勵電壓固定增大或減小。為了判別晶體的穩(wěn)定性需要在不同的激勵電壓下測試，分壓調(diào)節(jié)電路A?1、分壓調(diào)節(jié)電路B?2、分壓調(diào)節(jié)電路C?3、分壓調(diào)節(jié)電路D?4分別為分壓電路，得到不同的電壓，在選通網(wǎng)絡(luò)5的控制下，這4個大小不同的電壓分時通過加法電路6，得到動態(tài)的輸入信號，輸入信號動態(tài)變化，被測音叉晶體的激勵功率也動態(tài)變化，這樣實現(xiàn)了對音叉晶體的動態(tài)測量。