[發明專利]用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器和系統

有效

• 申請號: 201310503116.2
• 申請日: 2013-10-23
• 公開（公告）號: CN103674934A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 蔣興宇;沈海瀅;張偉
• 申請（專利權）人: 國家納米科學中心
• 主分類號: G01N21/76
• 分類號: G01N21/76
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 鞏克棟

1.一種用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，包括儀器框架及安裝在所述儀器框架上的光路固定模塊、芯片支持結構、反光鏡和光學透鏡組及檢測模塊，所述光路固定模塊用于固定光學透鏡組的位置及光路的調整和固定，所述芯片支持結構用于支持及移動芯片以調整芯片位置，所述反光鏡和光學透鏡組用于將芯片上的化學發光信號收集并聚焦到所述檢測模塊；所述檢測模塊用于接收化學發光信號并轉變為模擬電信號，再將模擬電信號轉變為數字電信號。

2.根據權利要求1所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，所述芯片支持結構為芯片托盤，優選推拉式芯片托盤。

3.根據權利要求1或2所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，所述檢測模塊為CCD相機。

4.根據權利要求3所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，所述CCD相機水平設置。

5.根據權利要求1-4任一項所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，所述儀器框架為光密閉結構。

6.根據權利要求1-5任一項所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，還包括開關電源。

7.根據權利要求1-6任一項所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，所述檢測模塊連接計算機，所述計算機接收并處理來自所述檢測模塊的數字電信號。

8.根據權利要求1-7任一項所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，整體呈長方體形。

9.根據權利要求8所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器，其特征在于，所述長方體形三個相鄰邊的長度分別是12-18cm、12-18cm和35-45cm，優選15cm、15cm和40cm。

10.一種用于化學發光檢測的微流控芯片成像系統，包括如權利要求1-9任一項所述的用于化學發光檢測的微流控芯片成像儀器及與其連接的計算機。