[發明專利]功率電子電路、電子機械和檢測功率電子電路功能的方法

有效

• 申請號: 201310503083.1
• 申請日: 2013-10-23
• 公開（公告）號: CN103780067B
• 公開（公告）日: 2017-08-08
• 發明（設計）人: 米夏埃爾·朗漢斯;塞巴斯蒂安·策厄特鮑爾
• 申請（專利權）人: 庫卡羅伯特有限公司
• 主分類號: H02M1/092
• 分類號: H02M1/092;H02M1/32;H02P27/08
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司72003
• 代理人: 時永紅,黃艷

1.一種功率電子電路，具有：

包括至少一個功率半導體開關(23)的功率部件(22)，其根據所述至少一個功率半導體開關(23)的交替地接通和斷開，由供電電壓產生用于電負載(9)的時鐘電壓；和

控制電子裝置(25)，用于控制所述功率半導體開關(23)的交替地接通和斷開，該控制電子裝置具有：光電耦合器(26)，該光電耦合器(26)包括構成為光發射器(29)的輸入級和構成為光接收器(30)的輸出級；與所述光發射器(29)并聯連接的第一半導體開關(27)；和與由所述第一半導體開關(27)和所述光發射器(29)組成的并聯電路串聯連接的第二半導體開關(28)，其中，將所述第一半導體開關(27)設計為，根據脈沖模式(38)交替地打開和關閉，從而根據該脈沖模式使電流流過所述光發射器(29)，由此使所述光發射器(29)相應于所述脈沖模式(38)發射光，所發射的光由所述光接收器(30)接收，以產生相應的用于所述至少一個功率半導體開關(23)的控制信號(39)，并且

其中，在正常運行期間根據所述脈沖模式(38)交替地打開和關閉所述第一半導體開關(27)，并使所述第二半導體開關(28)關閉，并在測試運行期間根據所述脈沖模式(38)交替地打開和關閉所述第一半導體開關(27)，并使所述第二半導體開關(28)在所述至少一個功率半導體開關(23)打開的時間點打開，并在所述功率半導體開關(23)再次關閉之前再次關閉。

2.如權利要求1所述的功率電子電路，其中，將所述功率部件設計為逆變器(22)，和/或所述脈沖模式(38)基于脈沖寬度調制，和/或將所述第一半導體開關(27)設計為第一晶體管(33)和/或將所述第二半導體開關(28)設計為第二晶體管(34)。

3.如權利要求2所述的功率電子電路，其中，將所述功率部件設計為用于產生三相交流電壓的逆變器(22)。

4.如權利要求1所述的功率電子電路，其中，在測試運行期間對施加在所述第二半導體開關(28)上的電信號進行分析，以檢測所述第二半導體開關(28)是否可靠地打開。

5.一種電子機械，具有如權利要求1至4中任一項所述的功率電子電路，由該功率電子電路提供時鐘電壓的電負載(9)和控制裝置(10)，該控制裝置通過控制器根據脈沖模式(38)打開和關閉第一半導體開關(27)。

6.如權利要求5所述的電子機械，所述控制裝置(10)在正常運行期間，根據所述脈沖模式(38)交替地打開和關閉所述第一半導體開關(27)，并使第二半導體開關(28)關閉；在測試運行期間，根據所述脈沖模式(38)交替地打開和關閉所述第一半導體開關(27)，并使所述第二半導體開關(28)在至少一個功率半導體開關(23)打開的時間點打開，并在該功率半導體開關(23)再次關閉之前再次關閉。

7.如權利要求6所述的電子機械，所述控制裝置(10)在測試運行期間對施加在所述第二半導體開關(28)上的電信號進行分析，以檢測所述第二半導體開關(28)是否可靠地打開。

8.如權利要求5至7中任一項所述的電子機械，所述控制裝置(10)在所述功率電子電路初始化期間使所述第二半導體開關(28)打開。

9.一種用于測試如權利要求1或2所述的功率電子電路的方法，其具有以下方法步驟：

根據脈沖模式(38)交替地打開和關閉第一半導體開關(27)，以及

在至少一個功率半導體開關(23)打開的時間點打開第二半導體開關(28)，并在該功率半導體開關(23)再次關閉之前再次關閉所述第二半導體開關(28)。

10.如權利要求9所述的方法，具有以下步驟：對在所述第二半導體開關(28)打開的時間點上施加在所述第二半導體開關(28)上的電信號進行分析，以檢測所述第二半導體開關(28)是否可靠地打開。