[發明專利]用于發火的半導體橋無效
| 申請號: | 201310501414.8 | 申請日: | 2013-10-23 |
| 公開(公告)號: | CN103499245A | 公開(公告)日: | 2014-01-08 |
| 發明(設計)人: | 黃友華 | 申請(專利權)人: | 成都市宏山科技有限公司 |
| 主分類號: | F42B3/13 | 分類號: | F42B3/13 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 610000 四川省*** | 國省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 發火 半導體 | ||
1.用于發火的半導體橋,其特征在于:它包括襯底(1)、沉積在襯底(1)上的絕緣層(2)、沉積在絕緣層(2)上的半導體層(3)和沉積在半導體層(3)上的金屬層(4),所述的金屬層(4)上沉積有第一電極(5)和第二電極(6),所述的金屬層(4)上還沉積有發火物質(7)。
2.根據權利要求1所述的用于發火的半導體橋,其特征在于:所述的半導體層(3)為硅。
3.根據權利要求1所述的用于發火的半導體橋,其特征在于:所述的第一電極(5)和第二電極(6)為銅或者鋁。
4.根據權利要求1所述的用于發火的半導體橋,其特征在于:所述的發火物質(7)為金屬氧化物。
5.根據權利要求4所述的用于發火的半導體橋,其特征在于:所述的發火物質(7)為氧化銅或氧化鐵。
6.根據權利要求1所述的用于發火的半導體橋,其特征在于:所述的半導體層(3)的厚度大于0.5毫米且小于1毫米。
7.根據權利要求6所述的用于發火的半導體橋,其特征在于:所述的金屬層(4)的厚度大于半導體層(3)的厚度。
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