[發(fā)明專利]一種制造半導體芯片的方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310498819.0 | 申請日: | 2013-10-22 |
| 公開(公告)號: | CN103606602A | 公開(公告)日: | 2014-02-26 |
| 發(fā)明(設計)人: | 叢國芳 | 申請(專利權)人: | 溧陽市東大技術轉(zhuǎn)移中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00;H01L21/00 |
| 代理公司: | 南京天翼專利代理有限責任公司 32112 | 代理人: | 黃明哲 |
| 地址: | 213300 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 制造 半導體 芯片 方法 | ||
1.一種制造半導體芯片的方法,依次包括如下步驟:
(1)用光刻和ICP刻蝕技術將已經(jīng)生長好發(fā)光二極管結構外延片刻蝕出AlInN層側(cè)壁;
(2)將外延層結構粘合到玻璃襯底上,用二乙醇胺(DAE)腐蝕掉AllnN層,形成外延層和藍寶石襯底的分離;
(3)在藍寶石襯底分離后,采用光刻工藝在發(fā)光二極管外延層上圖形化;
(4)采用電鍍工藝在發(fā)光二極管外延層上已圖形化的區(qū)域電鍍銅,從而形成銅金屬襯底。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于:
其中,所述在步驟(1)中的發(fā)光二極管結構為:自下而上依次具有藍寶石襯底、GaN緩沖層、AlInN層、n-GaN層、多量子阱層、p-AGaN層、p-GaN層,其中,GaN緩沖層的厚度為30-45nm,AlInN層的厚度為80-150nm,n-GaN層的厚度為3-5μm,多量子阱層厚度為30-80nm,p-AGaN層40-60nm,p-GaN層200-300nm;
其中,步驟(2)中,利用環(huán)氧樹脂膠將發(fā)光二極管外延結構粘到玻璃襯底上;
其中,步驟(4)中,將外延片置于CuSO4溶液中進行電鍍,形成發(fā)光二極管結構的銅襯底轉(zhuǎn)移,具體工藝為:將發(fā)光二極管結構置于電鍍級CuSO4溶液中,通電1小時后在發(fā)光二極管外延層的原藍寶石襯底表面電鍍上一層厚度均勻銅襯底,厚度約為120-150微米,優(yōu)選為130微米。
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