[發(fā)明專利]硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)及其圓片級(jí)制作方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310492853.7 | 申請(qǐng)日: | 2013-10-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103500729A | 公開(公告)日: | 2014-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 葉交托;陳驍;朱春生;徐高衛(wèi);羅樂 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院上海微系統(tǒng)與信息技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/768 | 分類號(hào): | H01L21/768;H01L23/48 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務(wù)所 31219 | 代理人: | 李儀萍 |
| 地址: | 200050 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 轉(zhuǎn)接 板結(jié) 及其 圓片級(jí) 制作方法 | ||
1.一種硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于,至少包括以下步驟:
S1:提供一硅圓片,采用濕法腐蝕在所述硅圓片正面及背面形成上下分布的至少一對(duì)凹槽;一對(duì)凹槽共用凹槽底部;
S2:采用濕法腐蝕在所述凹槽底部中形成至少一個(gè)硅通孔;所述硅通孔由上下對(duì)稱的上通孔及下通孔連接而成;所述上通孔及下通孔具有傾斜側(cè)壁;
S3:在所述硅通孔的側(cè)壁表面形成通孔介質(zhì)層;
S4:在所述通孔介質(zhì)層表面形成通孔金屬層;
S5:最后劃片形成獨(dú)立的硅轉(zhuǎn)接板。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:所述上通孔的縱截面為倒梯形;所述下通孔的縱截面為梯形。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:所述上通孔的側(cè)壁與所述凹槽底部所在平面的夾角為54.7度,所述下通孔的側(cè)壁與所述凹槽底部所在平面的夾角為54.7度。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:所述硅通孔的橫截面為矩形或正方形。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:于所述步驟S4中,所述通孔金屬層為覆蓋滿所述通孔四個(gè)側(cè)壁表面的金屬層,或所述通孔金屬層為分布于所述硅通孔其中一個(gè)側(cè)壁表面的至少一根金屬線,或所述通孔金屬層為分布于所述硅通孔至少兩個(gè)側(cè)壁表面的至少兩根分立的金屬線。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:所述硅圓片為雙面拋光的(100)晶面硅片。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:采用第一腐蝕掩模形成所述凹槽,光刻形成所述第一腐蝕掩模時(shí)將第一光掩模板的圖形邊界與所述(100)晶面硅片的<110>晶向?qū)R;采用第二腐蝕掩模形成所述硅通孔,光刻形成所述第二腐蝕掩模時(shí)將第二光掩模板的圖形邊界與所述(100)晶面硅片的<110>晶向?qū)R。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:于所述步驟S3中,在形成所述通孔介質(zhì)層時(shí),同時(shí)在所述凹槽表面形成凹槽介質(zhì)層;于所述步驟S4中,在形成通孔金屬層時(shí),同時(shí)在所述凹槽介質(zhì)層表面形成金屬重布線層及金屬焊盤。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:于所述步驟S1及步驟S2中,所述濕法腐蝕均采用硅的各向異性腐蝕液。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu)的圓片級(jí)制作方法,其特征在于:所述凹槽具有傾斜側(cè)壁。
11.一種硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu),包括:
硅圓片;
上下分布的至少一對(duì)凹槽,分別形成于所述硅圓片正面及背面;一對(duì)凹槽共用凹槽底部;
形成于所述凹槽底部中的至少一個(gè)硅通孔;
形成于所述硅通孔側(cè)壁表面的通孔介質(zhì)層;
及形成于所述通孔介質(zhì)層表面的通孔金屬層;
其特征在于:
所述硅通孔由上下對(duì)稱的上通孔及下通孔連接而成;所述上通孔及下通孔具有傾斜側(cè)壁。
12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的硅轉(zhuǎn)接板結(jié)構(gòu),其特征在于:所述通孔金屬層為覆蓋滿所述通孔四個(gè)側(cè)壁表面的金屬層,或所述通孔金屬層為分布于所述硅通孔其中一個(gè)側(cè)壁表面的至少一根金屬線,或所述通孔金屬層為分布于所述硅通孔至少兩個(gè)側(cè)壁表面的至少兩根分立的金屬線。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





