[發(fā)明專利]光傳感器增益檢測(cè)裝置及光傳感器增益檢測(cè)方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310488956.6 | 申請(qǐng)日: | 2013-10-18 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103777226A | 公開(公告)日: | 2014-05-07 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王晉中;杜慧妮;王彥起 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社東芝;東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G01T1/208 | 分類號(hào): | G01T1/208 |
| 代理公司: | 中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 11038 | 代理人: | 肖靖 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 傳感器 增益 檢測(cè) 裝置 方法 | ||
1.一種光傳感器增益檢測(cè)裝置,具備:
檢測(cè)器,包括光傳感器,該光傳感器輸出信號(hào),該信號(hào)起因于響應(yīng)放射線的到達(dá)而發(fā)生的第1事件;
余脈沖/暗脈沖檢測(cè)器設(shè)備,檢測(cè)起因于從上述第1事件觸發(fā)且在上述第1事件之后在上述光傳感器內(nèi)發(fā)生的第2事件的余脈沖或者暗脈沖,響應(yīng)檢測(cè)出的該余脈沖或者上述暗脈沖而輸出指示信號(hào);
積分器,對(duì)由上述光傳感器輸出的上述信號(hào)進(jìn)行積分并輸出;
直方圖設(shè)備,與上述積分器以及上述余脈沖/暗脈沖檢測(cè)器設(shè)備連接,根據(jù)積分后的上述信號(hào)以及上述指示信號(hào),生成直方圖;
增益決定設(shè)備,根據(jù)所生成的上述直方圖來決定上述光傳感器的增益。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的光傳感器增益檢測(cè)裝置,其特征在于,
上述光傳感器增益檢測(cè)裝置還具備判斷單元,上述判斷單元根據(jù)所決定的上述增益和預(yù)先存儲(chǔ)的上述光傳感器的基準(zhǔn)增益,判斷上述光傳感器是否適當(dāng)?shù)匕l(fā)揮作用、上述光傳感器是否能夠恢復(fù)、上述光傳感器是否能夠修復(fù)中的至少某一個(gè)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的光傳感器增益檢測(cè)裝置,其特征在于,
上述光傳感器增益檢測(cè)裝置還具備存儲(chǔ)單元,上述存儲(chǔ)單元存儲(chǔ)用于確定與所決定的上述增益對(duì)應(yīng)的上述光傳感器的識(shí)別信息;
上述光傳感器增益檢測(cè)裝置還具備確定處理單元,上述確定處理單元根據(jù)上述識(shí)別信息,從多個(gè)光傳感器中確定與所決定的上述增益對(duì)應(yīng)的上述光傳感器。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的光傳感器增益檢測(cè)裝置,其特征在于,
上述光傳感器增益檢測(cè)裝置還具備校正單元,上述校正單元在判斷為上述光傳感器能夠恢復(fù)的情況下,根據(jù)所決定的上述增益,執(zhí)行與所確定的上述光傳感器相關(guān)的校正處理。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的光傳感器增益檢測(cè)裝置,其特征在于,
上述光傳感器增益檢測(cè)裝置還具備輸出單元,上述輸出單元在判斷為上述光傳感器不能修復(fù)的情況下,警告替換所確定的上述光傳感器。
6.根據(jù)權(quán)利要求1-5中的任一項(xiàng)所述的光傳感器增益檢測(cè)裝置,其特征在于,
上述余脈沖/暗脈沖檢測(cè)器設(shè)備還具有積分設(shè)備,該積分設(shè)備通過濾波排除上述余脈沖或上述暗脈沖以外的信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的光傳感器增益檢測(cè)裝置,其特征在于,
上述余脈沖/暗脈沖檢測(cè)器設(shè)備在濾波后的上述信號(hào)大于100keV的情況下,不檢測(cè)上述余脈沖或者上述暗脈沖。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7中的任一項(xiàng)所述的光傳感器增益檢測(cè)裝置,其特征在于,
上述光傳感器是光電倍增管(PMT)或者硅光電倍增管(SiPM)。
9.根據(jù)權(quán)利要求1-8中的任一項(xiàng)所述的光傳感器增益檢測(cè)裝置,其特征在于,
上述第1事件是電子-陽電子湮滅事件。
10.一種光傳感器增益檢測(cè)方法,具備:
通過光傳感器輸出信號(hào),該信號(hào)起因于響應(yīng)放射線的到達(dá)而發(fā)生的第1事件;
通過余脈沖/暗脈沖檢測(cè)器設(shè)備,檢測(cè)起因于從上述第1事件觸發(fā)且在上述第1事件之后在上述光傳感器內(nèi)發(fā)生的第2事件的余脈沖或者暗脈沖,響應(yīng)檢測(cè)出的該余脈沖或者上述暗脈沖而輸出指示信號(hào);
對(duì)由上述光傳感器輸出的上述信號(hào)進(jìn)行積分并輸出;
根據(jù)積分后的上述信號(hào)以及上述指示信號(hào),生成直方圖;
根據(jù)所生成的上述直方圖來決定上述光傳感器的增益。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社東芝;東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會(huì)社,未經(jīng)株式會(huì)社東芝;東芝醫(yī)療系統(tǒng)株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310488956.6/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





