[發(fā)明專(zhuān)利]單光源雙波長(zhǎng)激光誘導(dǎo)擊穿光譜測(cè)量裝置及方法無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310488774.9 | 申請(qǐng)日: | 2013-10-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103529000A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李新忠;湯潔;王屹山;趙衛(wèi);段憶翔 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01N21/63 | 分類(lèi)號(hào): | G01N21/63 |
| 代理公司: | 西安智邦專(zhuān)利商標(biāo)代理有限公司 61211 | 代理人: | 胡樂(lè) |
| 地址: | 710119 陜西省西*** | 國(guó)省代碼: | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光源 波長(zhǎng) 激光 誘導(dǎo) 擊穿 光譜 測(cè)量 裝置 方法 | ||
1.一種單光源雙波長(zhǎng)激光誘導(dǎo)擊穿光譜測(cè)量裝置,其特征在于:包括脈沖激光器、倍頻晶體、分光鏡、第一全反射鏡、第二全反射鏡、光快門(mén)、待測(cè)樣品載臺(tái)、光纖收集頭、光譜儀、同步延遲控制器和計(jì)算機(jī);
所述的脈沖激光器產(chǎn)生的激光通過(guò)倍頻晶體后分為基頻光和倍頻光,照射在分光鏡上;
所述的分光鏡對(duì)基頻光高反射、對(duì)倍頻光高透射,經(jīng)過(guò)分光鏡后,基頻光和倍頻光被分為兩個(gè)光路;所述的倍頻光經(jīng)所述第一全反射鏡反射后垂直照射于待測(cè)樣品的表面;所述的基頻光經(jīng)過(guò)所述光快門(mén)、然后被所述第二全反射鏡反射后平行照射在待測(cè)樣品表面的上方1-5mm處;
待測(cè)樣品被激發(fā)出的等離子體產(chǎn)生的光譜信號(hào)會(huì)聚至光纖收集頭,傳送至光譜儀;
所述的計(jì)算機(jī)與同步延遲控制器、光譜儀分別相連,用以負(fù)責(zé)參數(shù)設(shè)置、通信和總體控制;所述的同步延遲控制器根據(jù)計(jì)算機(jī)設(shè)置的參數(shù)對(duì)脈沖激光器、光快門(mén)以及光譜儀的同步和延遲進(jìn)行控制;所述的光譜儀獲得的光譜信號(hào)傳遞給計(jì)算機(jī)進(jìn)行數(shù)據(jù)分析。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的單光源雙波長(zhǎng)激光誘導(dǎo)擊穿光譜測(cè)量裝置,其特征在于:在第一全反射鏡后方設(shè)置有第一會(huì)聚透鏡,在第二全反射鏡后方設(shè)置有第二會(huì)聚透鏡,在光纖收集頭與待測(cè)樣品載臺(tái)之前設(shè)置有第三會(huì)聚透鏡。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的單光源雙波長(zhǎng)激光誘導(dǎo)擊穿光譜測(cè)量裝置,其特征在于:所述待測(cè)樣品載臺(tái)為可移動(dòng)平臺(tái),由計(jì)算機(jī)控制可移動(dòng)平臺(tái)的水平移動(dòng);光纖收集頭收集到的光譜信號(hào)通過(guò)多路光纖傳送至光譜儀。
4.采用如權(quán)利要求3所述單光源雙波長(zhǎng)激光誘導(dǎo)擊穿光譜測(cè)量裝置進(jìn)行光譜測(cè)量的方法,其特征在于:包括以下步驟:
步驟1、放置待測(cè)樣品,利用計(jì)算機(jī)設(shè)置同步延遲控制器、光譜儀和移動(dòng)平臺(tái)的參數(shù);
步驟2、脈沖激光器發(fā)出高功率激光照射在倍頻晶體上,激光束被分為基頻光和倍頻光,經(jīng)過(guò)分光鏡后,基頻光和倍頻光被分為兩個(gè)光路;倍頻光經(jīng)第一全反射鏡反射后垂直照射在待測(cè)樣品上,產(chǎn)生等離子體火花;
步驟3、經(jīng)過(guò)10-30μs的時(shí)間延遲后,同步延遲控制器給光快門(mén)發(fā)布打開(kāi)命令,基頻光通過(guò)光快門(mén)后照射在第二全反射鏡上,反射光平行于待測(cè)樣品表面的方向?qū)Φ入x子體羽再次加熱;
步驟4、經(jīng)過(guò)300-400ns的時(shí)間延遲后,同步延遲控制器給光譜儀觸發(fā)信號(hào),光譜儀開(kāi)始收集光譜信號(hào);
步驟5、光譜儀收集到的光譜信號(hào)傳送給計(jì)算機(jī)進(jìn)行分析,把待測(cè)樣品的等離子體光譜信號(hào)與標(biāo)準(zhǔn)光譜進(jìn)行對(duì)比分析,得出待測(cè)樣品中的元素及元素濃度。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的光譜測(cè)量的方法,其特征在于:
還包括步驟6:待測(cè)樣品在移動(dòng)平臺(tái)的帶動(dòng)下進(jìn)行移動(dòng),重復(fù)步驟1至步驟5進(jìn)行多次測(cè)量,以消除元素誤判,對(duì)多次測(cè)量獲得的元素濃度取平均值,以消除隨機(jī)誤差;最終,獲得待測(cè)樣品中所含有的元素及其濃度值。
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