[發(fā)明專利]一種可應(yīng)對(duì)高動(dòng)態(tài)范圍紅外圖像的數(shù)字細(xì)節(jié)增強(qiáng)實(shí)現(xiàn)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310488375.2 | 申請(qǐng)日: | 2013-10-18 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104574330A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-04-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金炎勝;楊賀;程達(dá);霍曉江 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)航天科工集團(tuán)第三研究院第八三五八研究所 |
| 主分類號(hào): | G06T5/50 | 分類號(hào): | G06T5/50;G06T5/40 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 300192*** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 應(yīng)對(duì) 動(dòng)態(tài) 范圍 紅外 圖像 數(shù)字 細(xì)節(jié) 增強(qiáng) 實(shí)現(xiàn) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于光電成像技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種可應(yīng)對(duì)高動(dòng)態(tài)范圍紅外圖像的數(shù)字細(xì)節(jié)增強(qiáng)實(shí)現(xiàn)方法。
背景技術(shù)
隨著紅外探測(cè)器技術(shù)的不斷發(fā)展,紅外成像器越來(lái)越廣泛地應(yīng)用于諸多領(lǐng)域。紅外圖像表征場(chǎng)景的紅外輻射分布,主要取決于景物的發(fā)射率和溫度分布,其灰度波動(dòng)來(lái)源于場(chǎng)景輻射中各部分的輻射變化。
通常紅外探測(cè)器輸出的模擬信號(hào)通常采樣為14bit精度的數(shù)字信號(hào),理論上可表征16384個(gè)灰度等級(jí)。在普通場(chǎng)景下,由于場(chǎng)景中景物的紅外輻射相差不大和探測(cè)器靈敏度的限制,一般探測(cè)器響應(yīng)輸出的灰度范圍只占據(jù)16384個(gè)灰度等級(jí)中的很小的一段,這種場(chǎng)景下,應(yīng)用傳統(tǒng)的線性拉伸方法就能得到很好的圖像效果。
但是現(xiàn)實(shí)中經(jīng)常還會(huì)遇到另一種場(chǎng)景:高動(dòng)態(tài)范圍場(chǎng)景。比如海天、天地場(chǎng)景、海面亮帶,或者在普通場(chǎng)景中加入高溫或低溫物體等。這些場(chǎng)景的共同的特點(diǎn)是灰階分布范圍廣,在其灰階分布范圍內(nèi)有大量無(wú)效灰階存在。具有這種特點(diǎn)的場(chǎng)景稱之為高動(dòng)態(tài)范圍場(chǎng)景。傳統(tǒng)的線性處理方法處理這類場(chǎng)景下的紅外圖像會(huì)丟失大量細(xì)節(jié),甚至有可能處理后的圖像對(duì)比度過(guò)于劇烈,不適合人眼觀察,難以滿足使用需求,因此需要一種可應(yīng)對(duì)高動(dòng)態(tài)范圍場(chǎng)景的紅外圖像處理技術(shù)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明需要解決的技術(shù)問(wèn)題為:現(xiàn)有技術(shù)中的數(shù)字細(xì)節(jié)增強(qiáng)方法存在過(guò)沖、偽細(xì)節(jié)和細(xì)節(jié)增強(qiáng)不明顯的缺陷,不能滿足高動(dòng)態(tài)范圍紅外圖像數(shù)字細(xì)節(jié)增強(qiáng)的技術(shù)要求。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下所述:
一種可應(yīng)對(duì)高動(dòng)態(tài)范圍紅外圖像的數(shù)字細(xì)節(jié)增強(qiáng)實(shí)現(xiàn)方法,包括以下步驟:步驟1.利用向?qū)V波器對(duì)紅外圖像進(jìn)行基頻和細(xì)節(jié)的分離;步驟2.采用自適應(yīng)平臺(tái)直方圖均衡化對(duì)基頻圖像進(jìn)行對(duì)比度調(diào)整;步驟3.合成最終輸出圖像。
作為優(yōu)選方案:
步驟1中,采用下式進(jìn)行向?qū)V波:
式中,
pi為向?qū)D像中點(diǎn)i的像素值;
qi為輸出圖像中點(diǎn)i的像素值;
wk為一個(gè)窗口;
|w|為窗口wk內(nèi)像素的個(gè)數(shù);
k為wk窗口中每個(gè)像素點(diǎn);
i為wk窗口中正在處理的像素點(diǎn);
為向?qū)D像在窗口wk內(nèi)的方差;
為向?qū)D像在窗口wk內(nèi)的均值;
ε為平滑系數(shù);
采用下式分離細(xì)節(jié)圖像:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)航天科工集團(tuán)第三研究院第八三五八研究所,未經(jīng)中國(guó)航天科工集團(tuán)第三研究院第八三五八研究所許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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