[發明專利]一種十五點優化極譜譜線處理方法

在審

• 申請號: 201310485978.7
• 申請日: 2013-10-17
• 公開（公告）號: CN103630597A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 盛敏;李國志;夏洪海;彭建波;吳升海;方軍
• 申請（專利權）人: 江蘇天瑞儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N27/48
• 分類號: G01N27/48
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種分析方法，具體的涉及一種十五點優化極譜譜線處理方法。?

背景技術

極譜對樣品中離子濃度的計算，是通過計算電勢峰高或者面積并且與相同條件下的標準溶液相比較得出，默認濃度為0時電勢為0。所以在極譜對樣品進行測量前，先對標準溶液進行標定，找到當前樣品濃度和電流峰高或面積之間對應關系。?

極譜儀器在掃描得到譜線數據后，峰的基線不為簡單的直線；且峰型不規則，峰型與掃描前的富集時間、掃描過程中掃描速率（電壓改變速率）、掃描電壓范圍、掃描電壓步長和樣品本身濃度有關；所述富集時間的定義如下：以玻碳或者金盤作為工作電極，將還原電勢施加于工作電極并不停攪拌溶液，當電極電勢超過某種金屬離子的析出電勢，溶液中被分析的金屬離子還原為金屬電鍍于工作電極表面，電勢施加時間越長，還原出來電鍍于電極表面的金屬越多，電勢施加的時間就為富集時間。直接對譜線進行峰面積計算時本底扣除困難且誤差較大，導致金屬離子濃度計算誤差較大。?

發明內容

有鑒于此，需要克服現有技術中的上述缺陷中的至少一個。本發明提供的一種十五點優化極譜譜線處理方法，通過極譜儀掃描待測樣品得到初始數據和初始譜線，對其進行去噪、校正處理，得出新的基線，并在新的基線基礎上得到校正數據和校正譜線，包括以下步驟：?

step1去噪處理：?

對所述初始數據和所述初始譜線進行去噪處理，得到去燥數據和去燥譜線；?

step2校正處理?

對去燥處理后的所述去燥數據和所述去燥譜線進行校正處理，得到校正數據和校正譜線；?

step3得到校正基線?

根據step2中的計算成果，計算校正基線。?

在使用極譜儀掃描待測樣品得到初始數據和初始譜線時，采用的掃描參數包括，富集時間范圍為5-50s；所述掃描速率范圍為200-600mV/s；所述掃描電壓范圍為-4000mV～+4000mV；所述掃描電壓步長范圍為1-20mV。?

根據本發明背景技術中對現有技術所述，現有方法使用極譜儀器在掃描得到譜線數據后，峰的基線不為簡單的直線，且峰型不規則，同時，直接對譜線進行峰面積計算時本底扣除困難且誤差較大，導致金屬離子濃度計算誤差較大；本發明通過對使用去噪處理、校正處理，獲取校正基線、校正峰值、校正峰面積，可以使得基線、峰型更加規則易于計算，同時也可以使得計算結果更加準確。?

另外，根據本發明公開的十五點優化極譜譜線處理方法還具有如下附加技術特征：?

進一步地，所述Step1去噪處理對所述譜線采用15點加權平均的方法進行除噪，所述15點加權平均的公式為：?

??????公式1?

式1中f(x)表示采集數據P(n)中的第n坐標點的縱坐標值，當i值大于等于7且小于等于n-7時，依次取P(n)數列中{P(n-7)+P(n-6)+…+P(n)+P(n+1)+P(n+2)+…+P(n+7)}/15。?

進一步地，所述step2校正處理對所述譜線數據和譜線處理方法所指定的峰窗口范圍的所述初始數據和所述初始譜線進行校正，所述峰窗口范圍是確定進行基線處理的譜線的橫坐標范圍，還包括:?

step2.1.添加凸函數?

對所述初始譜線數據添加凸函數，公式為?

f(x)=(y_max-y_min)÷a×(x-x₀)²÷(x_e-x₀)²??????公式2?

其中，a為大于0的經驗值；?

step2.2.尋找下凸包?

對公式1中的集合P中點集進行排序，產生一個有序點列{P1，P2，…，Pn}，然后逐一引入P中的點，并且當凸包中每增加P中下一個點時，都對當前凸包做相應的調整和更新，此處P為添加過凸函數的譜線數據的數據集，所述的調整和更新包含如下步驟：?

step2.2.1：對P中點根據橫坐標從小到大進行字典排序，得到序列P1，P2，…，Pn；?

step2.2.2：在Llow中加入P1、P2，開始計算下凸包，此處，Llow為空的凸包列表；?

step2.2.3：依次向Llow加入點集P中的點Pi，i=3開始直到n結束，如果Llow中至少還有三個點，而且最末尾的三個點所構成的不是一個左拐，則將倒數第二個頂點從Llow中刪除，否則直接循環下一個數據點；?

即：?