[發(fā)明專利]一種具有中紅外寬帶發(fā)光性能的晶體材料及其制備方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310485662.8 | 申請日: | 2013-10-16 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103526294A | 公開(公告)日: | 2014-01-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐慧麗;蔣先濤;蘇良碧;徐軍;吳鋒;汪傳勇;姜大朋;王靜雅;錢小波 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院上海硅酸鹽研究所 |
| 主分類號(hào): | C30B29/32 | 分類號(hào): | C30B29/32;C09K11/74 |
| 代理公司: | 上海海頌知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31258 | 代理人: | 何葆芳 |
| 地址: | 200050 *** | 國省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 具有 紅外 寬帶 發(fā)光 性能 晶體 材料 及其 制備 方法 | ||
1.一種具有中紅外寬帶發(fā)光性能的晶體材料,其特征在于:是在Bi12GeO20晶體中摻雜了2~4μm波段內(nèi)不具有發(fā)光性能的金屬離子。
2.如權(quán)利要求1所述的晶體材料,其特征在于:所述金屬離子選自Al3+、Mg2+、Ca2+和Mo6+中的一種。
3.一種如權(quán)利要求1所述的晶體材料的制備方法,其特征在于,包括如下步驟:
a)按Bi12GeO20的化學(xué)計(jì)量比稱取Bi2O3粉體和GeO2粉體后,加入摻雜粉體,混合均勻;
b)將步驟a)中得到的混合粉體制成坯體,在500~800℃下燒結(jié)5~20小時(shí)后進(jìn)行研磨,得到有摻雜的Bi12GeO20粉體;
c)將步驟b)中得到的Bi12GeO20粉體制備成中紅外寬帶發(fā)光晶體材料。
4.如權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于:所述摻雜粉體的加量為GeO2粉體的摩爾數(shù)的0.1~10%。
5.如權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于:所述摻雜粉體選自Al2O3、MgO、CaO和MoO3中的一種。
6.如權(quán)利要求3所述的制備方法,其特征在于:步驟c)中將Bi12GeO20粉體制備成中紅外寬帶發(fā)光晶體材料的方法采用提拉法、坩堝下降法和溫度梯度法中的一種。
7.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述的提拉法的工藝條件控制為:坩堝材料選擇貴金屬單質(zhì),體系用惰性氣體保護(hù),提拉速度為1~4毫米/小時(shí),轉(zhuǎn)速為18~28轉(zhuǎn)/分鐘。
8.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述的坩堝下降法的工藝條件控制為:坩堝材料選擇貴金屬單質(zhì)或鉬單質(zhì),化料溫度為950~1050℃,晶體生長區(qū)域溫度梯度為20~40℃/厘米,晶體生長時(shí)坩堝下降速度為1~4毫米/小時(shí)。
9.如權(quán)利要求6所述的制備方法,其特征在于,所述的溫度梯度法的工藝條件控制為:坩堝材料選擇貴金屬單質(zhì),體系為無氧條件,化料溫度為950~1050℃,晶體生長區(qū)域的溫度梯度為20~40℃/厘米,晶體生長時(shí)溫度下降速度為1~5℃/小時(shí)。
10.如權(quán)利要求7或8或9所述的制備方法,其特征在于:所述貴金屬為鉑或銥。
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