[發明專利]檢查裝置

有效

• 申請號: 201310481443.2
• 申請日: 2013-10-15
• 公開（公告）號: CN103728505A
• 公開（公告）日: 2014-04-16
• 發明（設計）人: 三浦一佳;高木一也;夏堀公士
• 申請（專利權）人: 日本麥可羅尼克斯股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/067
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

技術領域

本發明涉及一種具備對如液晶面板那樣的顯示面板等被檢查體進行電性檢查的探測單元機構的檢查裝置。

背景技術

以往，如液晶顯示面板那樣的顯示面板等被檢查體一般在該被檢查體的側端部設置有多個電極。檢查裝置使探針與上述被檢查體的各電極接觸而通電，通過點亮確認等來進行電性檢查。

關于如液晶顯示面板那樣的顯示面板等被檢查體，不僅由于該被檢查體的大小的不同還由于規格等的差異，該被檢查體的種類也各式各樣。這種各式各樣的被檢查體的側端部的電極的數量、配置也與該被檢查體的種類對應地各不相同。因此，對于每個不同種類的被檢查體需要改變了探針的配置以接觸上述電極的不同的多個探測單元機構。

以往的檢查裝置是以被檢查體與探測單元機構為一一對應的關系而構成的。即，與一種被檢查體對應地設置有一種探測單元機構。因此，在一臺檢查裝置中僅能夠進行一種被檢查體的檢查。為了檢查不同種類的被檢查體，需要準備具備與各個被檢查體對應的探測單元機構的多種檢查裝置以進行檢查。

或者，需要在一臺檢查裝置中進行與被檢查體的種類相應地更換探測單元機構的操作。

存在一種能夠與大小不同的被檢查體的電極位置對應地變更上述探針的位置的檢查裝置(專利文獻1、專利文獻2)。

該檢查裝置具備如下的探測單元機構：具備探針的多個探測單元能夠沿著引導件進行移動。即，構成為用戶通過使上述探測單元沿著引導件進行移動并進行調整，能夠使各個探針與上述大小不同的被檢查體的電極位置相向。

專利文獻1：日本特開2007-316022號公報

專利文獻2：日本特開2008-122145號公報

發明內容

發明要解決的問題

以往的檢查裝置是與一種被檢查體對應地設置一種探測單元機構。因此，在一臺檢查裝置中僅能夠進行一種被檢查體的檢查。

用戶通能夠過將上述探測單元機構更換為其它種類的探測單元機構，來在一臺檢查裝置中進行不同種類的被檢查體的檢查。但是，無法在進行該更換操作的期間進行檢查。

在上述探測單元機構是專利文獻1、專利文獻2所記載的構造的情況下，也能夠通過使上述探測單元進行移動并進行調整，來在一臺檢查裝置中進行不同種類的被檢查體的檢查。但是，無法在進行上述調整操作的期間進行檢查。

上述調整操作通常花費大量時間，因此存在檢查裝置的運轉率低、該被檢查體的檢查工序的生產率低這樣的問題。

本發明是鑒于上述問題而完成的，其目的在于提供一種檢查裝置，在一臺檢查裝置中應對不同種類的被檢查體的檢查，并且提高檢查裝置的運轉率，從而提高該被檢查體的檢查工序的生產率。

用于解決問題的方案

為了達成上述課題，本發明的第一方式的檢查裝置是一種檢查被檢查體的檢查裝置，該檢查裝置的特征在于，上述檢查裝置具備：檢查上述被檢查體的多個探測單元機構；以及與上述多個探測單元機構對應的被檢查體的檢查位置，其中，上述多個探測單元機構能夠在相同的方向線上移動，在上述方向線上存在上述檢查位置。

本方式的檢查裝置在一臺檢查裝置中可移動地具備多個探測單元機構，且在其移動線上配置有被檢查體的檢查位置。因而，能夠通過與種類不同的被檢查體對應地安裝多個不同的探測單元機構，來容易地以一臺檢查裝置實現對種類不同的被檢查體的檢查。

另外，能夠在使一個探測單元機構移動到相應的上述檢查位置處并執行相應的被檢查體的檢查的期間，使其它探測單元機構移動到與上述檢查位置不同的調整操作位置，并進行上述探測單元機構所具有的探測單元的位置調整或者上述探測單元機構的更換、保養等調整操作。由此，能夠在開始利用上述其它探測單元機構進行的檢查工序之前，預先結束對該其它探測單元機構進行的調整操作來使該其它探測單元機構成為準備完成的狀態。

因而，能夠一旦到利用上述其它探測單元機構進行的檢查工序的開始時刻就立即開始檢查，能夠提高該檢查裝置的運轉率。即，能夠在一臺檢查裝置中檢查種類不同的被檢查體，并且能夠提高上述被檢查體的檢查工序的生產率。

并且，根據本方式，多個上述探測單元機構在相同的方向線上移動，因此能夠共用用于使多個各探測單元機構移動的驅動機構，從而使結構簡化。另外，在上述移動的方向線上存在上述檢查位置，因此只要使位于上述調整操作位置的探測單元機構相對于上述檢查位置在直線上移動就能夠到達上述檢查位置來進行檢查。因而，易于使上述探測單元機構進入上述檢查位置。