[發(fā)明專利]基于有毒氣體檢測(cè)的面粉中吊白塊的檢測(cè)裝置與方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310478123.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-10-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103499597A | 公開(公告)日: | 2014-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙春城;趙煙橋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 無錫艾科瑞思產(chǎn)品設(shè)計(jì)與研究有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N25/00 | 分類號(hào): | G01N25/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 214070 江蘇省無錫市*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 有毒氣體 檢測(cè) 面粉 中吊白塊 裝置 方法 | ||
1.基于有毒氣體檢測(cè)的面粉中吊白塊的檢測(cè)裝置,其特征在于:包括壓力鍋(1)、設(shè)置在壓力鍋(1)上的出氣閥(2),進(jìn)氣閥(3),所述的進(jìn)氣閥(3)連接空氣供給裝置(6);設(shè)置在壓力鍋(1)內(nèi)部的壓力傳感器(4),溫度傳感器(5),甲醛傳感器(7),硫化氫傳感器(8)和二氧化硫傳感器(9);設(shè)置在壓力鍋(1)底部的加熱裝置(10);所述的出氣閥(2),進(jìn)氣閥(3),壓力傳感器(4),溫度傳感器(5),甲醛傳感器(7),硫化氫傳感器(8),二氧化硫傳感器(9)和加熱裝置(10)均連接計(jì)算機(jī)(11)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的基于有毒氣體檢測(cè)的面粉中吊白塊的檢測(cè)裝置,其特征在于:所述的加熱裝置(10)為電爐或煤氣爐。
3.基于有毒氣體檢測(cè)的面粉中吊白塊的檢測(cè)方法,其特征在于:包括以下步驟:
步驟a、配置面粉水溶液;
按照面粉與水的體積比為1:10的比例,配置面粉水溶液;
步驟b、常溫狀態(tài)下去除有毒氣體;
不利用加熱裝置(10)對(duì)壓力鍋(1)進(jìn)行加熱,保持壓力鍋(1)內(nèi)部為常溫,利用甲醛傳感器(7),硫化氫傳感器(8)和二氧化硫傳感器(9)對(duì)壓力鍋(1)進(jìn)行有害氣體檢查,如果不含有甲醛、硫化氫和二氧化硫,則此步驟結(jié)束;如果含有甲醛、硫化氫和二氧化硫中的任何一種,同時(shí)打開出氣閥(2)和進(jìn)氣閥(3),空氣供給裝置(6)通過進(jìn)氣閥(3)向壓力鍋(1)供給空氣,直至壓力鍋(1)不含有甲醛、硫化氫和二氧化硫?yàn)橹梗?/p>
步驟c、檢測(cè)110℃下的有害氣體濃度;
關(guān)閉出氣閥(2)和進(jìn)氣閥(3),利用加熱裝置(10)對(duì)壓力鍋(1)進(jìn)行加熱,蒸發(fā)的水蒸氣使壓力鍋(1)內(nèi)部壓強(qiáng)增加,水的沸點(diǎn)增高,當(dāng)溫度傳感器(5)監(jiān)測(cè)到壓力鍋(1)內(nèi)部溫度為110℃時(shí),利用甲醛傳感器(7),硫化氫傳感器(8)和二氧化硫傳感器(9)對(duì)壓力鍋(1)進(jìn)行有害氣體檢查,如果檢測(cè)結(jié)果同時(shí)含有甲醛、硫化氫和二氧化硫,說明面粉中含有吊白塊;如果不含有甲醛、硫化氫和二氧化硫,進(jìn)入步驟d;
步驟d、檢測(cè)130℃下的有害氣體濃度;
利用加熱裝置(10)繼續(xù)對(duì)壓力鍋(1)進(jìn)行加熱,蒸發(fā)的水蒸氣使壓力鍋(1)內(nèi)部壓強(qiáng)繼續(xù)增加,水的沸點(diǎn)繼續(xù)增高,當(dāng)溫度傳感器(5)監(jiān)測(cè)到壓力鍋(1)內(nèi)部溫度為310℃時(shí),利用甲醛傳感器(7),硫化氫傳感器(8)和二氧化硫傳感器(9)對(duì)壓力鍋(1)進(jìn)行有害氣體檢查,得到甲醛、硫化氫和二氧化硫的濃度;
步驟e、判斷面粉中是否含有吊白塊;
如果步驟e得到的甲醛、硫化氫和二氧化硫的濃度均超過步驟d得到的甲醛、硫化氫和二氧化硫的濃度2倍以上,說明面粉中含有吊白塊。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的基于有毒氣體檢測(cè)的面粉中吊白塊的檢測(cè)方法,其特征在于:步驟e為:
如果步驟e得到的甲醛、硫化氫和二氧化硫的濃度均超過步驟d得到的甲醛、硫化氫和二氧化硫的濃度1.5倍以上,說明面粉中含有吊白塊。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無錫艾科瑞思產(chǎn)品設(shè)計(jì)與研究有限公司,未經(jīng)無錫艾科瑞思產(chǎn)品設(shè)計(jì)與研究有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310478123.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)





