[發(fā)明專利]一種勵磁裝置的靜態(tài)測試方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310476737.6
• 申請日: 2013-10-12
• 公開（公告）號: CN104569805A
• 公開（公告）日: 2015-04-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃超
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州熱工研究院有限公司;中國廣核集團(tuán)有限公司
• 主分類號: G01R31/34
• 分類號: G01R31/34
• 代理公司: 深圳市順天達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 44217
• 代理人: 郭偉剛

1.一種勵磁裝置的靜態(tài)測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

S1、設(shè)置所述勵磁裝置的可控硅的工頻陽極電壓；

S2、將所述勵磁裝置中勵磁調(diào)節(jié)器的給定標(biāo)稱設(shè)置為0，然后將所述勵磁調(diào)節(jié)器的反饋電壓設(shè)置為0；

S3、向所述勵磁調(diào)節(jié)器輸入用于模擬發(fā)電機(jī)運行在額定轉(zhuǎn)速下的狀態(tài)的發(fā)電機(jī)運行狀態(tài)信號和轉(zhuǎn)速信號參數(shù)；

S4、對所述勵磁裝置起勵；

S5、向所述勵磁調(diào)節(jié)器輸入白噪聲測試信號，測量所述勵磁裝置的測試參數(shù)，并根據(jù)測得的測試參數(shù)生成相應(yīng)的測試結(jié)果。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的勵磁裝置的靜態(tài)測試方法，其特征在于，所述勵磁裝置的工作頻率陽極電壓低于整流橋陽極標(biāo)稱電壓。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的勵磁裝置的靜態(tài)測試方法，其特征在于，所述白噪聲信號的頻率為0.1-10HZ。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的勵磁裝置的靜態(tài)測試方法，其特征在于，所述測試參數(shù)包括所述勵磁裝置中的D/A電壓參數(shù)、A/D電壓參數(shù)、PID頻率特性參數(shù)、PSS頻率特性參數(shù)中的至少一種。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的勵磁裝置的靜態(tài)測試方法，其特征在于，所述測試參數(shù)包括所述勵磁裝置中的D/A電壓參數(shù)、A/D電壓參數(shù)時，所述步驟S5包括以下子步驟：

S51a、向所述勵磁調(diào)節(jié)器輸入用于模擬所述發(fā)電機(jī)在額定工作狀況下工作的狀態(tài)的定子電壓；

S52a、通過勵磁調(diào)節(jié)器對所述定子電壓進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換并輸出所述D/A電壓；

S53a、閉合所述勵磁系統(tǒng)的電壓回路，并通過勵磁調(diào)節(jié)器對所述定子電壓進(jìn)行A/D轉(zhuǎn)換并輸出所述A/D電壓；

S54a、分別記錄所述勵磁調(diào)節(jié)器輸出的D/A、A/D電壓測量值，完成對所述勵磁裝置中D/A、A/D電壓參數(shù)的測試。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的勵磁裝置的靜態(tài)測試方法，其特征在于，所述測試參數(shù)包括所述勵磁裝置中的PID頻率特性參數(shù)時，所述步驟S5包括以下子步驟：

S51b、根據(jù)所述勵磁調(diào)節(jié)器的參數(shù)進(jìn)行第一模型識別計算，獲得所述PID頻率特性參數(shù)的測試環(huán)節(jié)的幅頻特性和相頻特性計算結(jié)果；

S52b、所述勵磁調(diào)節(jié)器采集頻譜分析儀輸出的白噪聲信號并作為所述PID頻率特性參數(shù)的測試環(huán)節(jié)的輸入信號；

S53b、對所述白噪聲信號進(jìn)行0.1步長的離散運算并進(jìn)行D/A轉(zhuǎn)換，輸出到所述頻譜分析儀作為所述PID頻率特性參數(shù)的測試環(huán)節(jié)的輸出信號；

S54b、通過所述頻譜分析儀測量所述輸入信號和所述輸出信號的幅頻特性和相頻特性；

S55b、判斷步驟S54b測量的幅頻特性和相頻特性與步驟S51b所述幅頻特性和相頻特性計算結(jié)果是否一致，如果一致，則判斷所述勵磁裝置中的PID頻率特性參數(shù)測試正確；如果不一致，則判斷所述勵磁裝置中的PID頻率特性參數(shù)測試錯誤。