[發明專利]鐵磁構件非磁性覆層的大量程磁性測厚裝置及其檢測方法

在審

• 申請號: 201310470185.8
• 申請日: 2013-10-10
• 公開（公告）號: CN103499272A
• 公開（公告）日: 2014-01-08
• 發明（設計）人: 宋凱;劉堂先;張麗攀;鄔冠華
• 申請（專利權）人: 南昌航空大學
• 主分類號: G01B7/06
• 分類號: G01B7/06
• 代理公司: 南昌洪達專利事務所 36111
• 代理人: 劉凌峰

1.一種鐵磁構件非磁性覆層的大量程磁性測厚裝置，它包括墊板、磁敏傳感器、第一永磁體、第二永磁體、條形軛鐵、探頭連接線、處理電路、信號采集模塊、計算機采集測量裝置和探頭外殼，其特征在于，第一永磁體的上端和第二永磁體的上端分別連接在條形軛鐵兩端，第一永磁體的下端和第二永磁體的下端固定連接在墊板上，磁敏傳感器位于第一永磁體和第二永磁體之間，并固定在墊板上，探頭數據線連接在磁敏傳感器和處理電路之間，處理電路和計算機采集測量裝置之間連有信號采集模塊，磁敏傳感器、第一永磁體、第二永磁體和條形軛鐵均位于探頭外殼和墊板構成的空間內；所述墊板為非鐵磁性硬質材料。

2.如權利要求1所述的一種鐵磁構件非磁性覆層的大量程磁性測厚裝置，其特征在于，所述的第一永磁體、第二永磁體和條形軛鐵連接構成U型磁軛。

3.如權利要求1所述的一種鐵磁構件非磁性覆層的大量程磁性測厚裝置，其特征在于，所述的第一永磁體和第二永磁體異極相對，中間形成平行磁場。

4.???如權利要求1所述的一種鐵磁構件非磁性覆層的大量程磁性測厚裝置，其特征在于，所述的磁敏傳感器的敏感面法線平行于鐵磁構件表面，且垂直于U型磁軛兩腳連線。

5.如權利要求1所述的一種鐵磁構件非磁性覆層的大量程磁性測厚裝置，其特征在于，所述的處理電路包括信號第一級放大模塊、信號第二級放大模塊和濾波模塊。

6.一種鐵磁構件非磁性覆層的大量程磁性測厚裝置的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括如下步驟：

????第(1)步制作探頭，將相同兩塊矩形永磁體不同極相對分別吸附在條形軛鐵兩端形成U型磁軛，將磁敏傳感器放置于永磁體中間，并通過探頭連接線接處理電路；

第(2)步利用制作的探頭進行標定，使用與被測構件內部鐵磁性材料相同的材料，在其表面覆蓋已知厚度的非鐵磁性材料，探頭平放測得磁場大小，后增加覆層厚度并記錄磁場大小，利用兩組測得的磁場值與相應的厚度值作出磁場隨厚度變化的趨勢線；

第(3)步實際測量，探頭平放于被測覆層表面，記錄磁場大小，對照該值在步驟2趨勢線中的位置，計算覆層厚度。

7.如權利要求1所述的一種鐵磁構件非磁性覆層的大量程磁性測厚裝置的檢測方法，其特征在于，所述U型磁軛在使用時平穩放置于覆層表面。