[發明專利]一種電容屏功能片智能測試機

有效

• 申請號: 201310469481.6
• 申請日: 2013-10-10
• 公開（公告）號: CN103487716A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發明（設計）人: 刁成龍;竇勝國;曾毅
• 申請（專利權）人: 南京華睿川電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 南京天翼專利代理有限責任公司 32112
• 代理人: 王玉梅

技術領域

本發明涉及觸摸屏性能測試技術領域，特別是一種電容屏功能片智能測試機。

背景技術

電容式觸摸屏相對于電阻式觸摸屏具有支持多點觸控、觸摸靈敏度高和耐磨等優點，逐漸成為手機市場乃至觸摸屏市場的主流產品。

在電容屏生產過程中，?需要對電容屏功能片(sensor)的開、短路進行測試，即對其ITO導通率作測試，主要依靠測試機上的頂針與電容屏功能片的焊盤區域的金手指接觸，主板芯片程序返回電容屏功能片的開、短路信號，顯示于電腦上。?然而現在大多數功能片測試機都需要手工操作，不能實現智能化，功能片定位難，押頭及頂針易損壞，測試繁瑣費時，產品生產效率很低。

發明內容

本發明的目的是提供一種電容屏功能片智能測試機，其能夠定位電容屏功能片，并自動控制測試押頭及探針的測試行程，以對定位后的功能片進行測試，測試效率高，且測試押頭和探針的損壞幾率大大降低。

為實現上述目的，本發明采取的技術方案為：一種電容屏功能片智能測試機，包括機殼，機殼內設有控制模塊，機殼上安裝有測試基臺和測試組件；

測試基臺滑動連接安裝于機殼上，控制模塊控制測試基臺在機殼上的滑動；

測試基臺上設有一個以上真空吸氣孔；真空吸氣孔連接有抽真空裝置；控制模塊控制抽真空裝置的運行，以使得真空吸氣孔吸緊上方功能片；

測試組件包括滑竿和測試押頭，測試押頭可沿滑竿上下滑動；測試押頭的頂端設有探針以及可將紅外線照射于測試基臺上的紅外測距模塊；紅外測距模塊的輸出端連接控制模塊；

控制模塊控制測試押頭的升降，探針隨測試押頭的升降在測試基臺上方升降。

在應用時，功能片覆蓋于真空吸氣孔上，抽真空裝置運行，功能片即被真空吸氣孔吸住；然后控制模塊控制測試押頭的下降，紅外測距模塊中的紅外線照射于功能片上經反射輸出信號至控制模塊，可實時測得探針與功能片之間的距離變化。控制模塊根據此距離變化繼續控制測試押頭的下降，直至探針與功能片之間的距離為零，則控制模塊控制測試押頭停止下降，即可開始進行正常的探針測量。在此過程中，可保證測試押頭不會因過度下壓而導致探針的損壞。當測試完畢，則控制模塊控制測試押頭帶動探針上升，等待下一次測試。

為了方便觸摸屏功能片的目測定位，測試基臺表面還設有定位線。在測試時可將觸摸屏功能塊靠定位線放置，進一步保證探針的測試點準確無誤，減少多個功能片測試時，調整功能片位置的時間，提高測試效率。

控制模塊包括押頭升降驅動機構和控制器，控制器控制押頭升降驅動機構的運行，從而帶動測試押頭沿滑竿上下滑動。押頭升降驅動機構可為氣缸等現有技術。控制器可采用現有的控制芯片配合繼電器等執行機構實現對押頭升降驅動機構的運行控制。

測試基臺上設有2個測試區，2個測試區隨測試基臺在機殼上的滑動，可交替位于探針下方。在利用一個測試區進行功能片探針測試時，可同時在另一測試區放置新的待測功能片，待前一測試區的功能片測試完畢，直接控制測試基臺滑動，至另一測試區位于探針下方，繼續進行測試，測試效率較高。

測試基臺上還設有橫向微調旋鈕和縱向微調旋鈕，以分別控制測試基臺在機殼上的橫向和縱向移動。測試基臺在機殼上的滑動可利用現有技術實現，如滑軌配合氣缸、絲桿配合電機等方式。微動旋鈕也可利用現有技術，實現測試基臺在橫向和縱向的微距調節。

紅外測距模塊包括紅外光源和紅外接收器，控制模塊控制紅外接收器發出紅外線，紅外接收器的輸出端連接控制模塊。紅外測距模塊可采用現有技術。紅外光源與探針位于同一高度，當紅外線照射于功能片時即反射，使得紅外接收器接收反射光，從而確定當前被測功能片與探針之間的距離。

本發明的有益效果為：測試基臺通過真空吸氣孔可保證被測功能片在整個測試過程中不會移動；紅外測距模塊能夠實時測得探針與待測功能片之間的距離，從而由控制器控制探針隨測試押頭的升降，保證探針在測試過程中能夠與功能片良好接觸，保證測試結果準確，且不因過度下壓而損壞，測試效率得到大大提高。

附圖說明

圖1所示為本發明的具體實施例結構示意圖。

具體實施方式

以下結合附圖和具體實施例做進一步描述。

如圖1所示，電容屏功能片智能測試機，包括機殼1，機殼1內設有控制模塊，機殼1上安裝有測試基臺2和測試組件；

測試基臺2滑動連接安裝于機殼1上，控制模塊控制測試基臺2在機殼1上的滑動；測試基臺2上設有左測試區21和右測試區22；