[發(fā)明專利]磁場檢測裝置和磁場檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310467722.3
• 申請日: 2013-10-09
• 公開（公告）號: CN103728573B
• 公開（公告）日: 2018-09-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: T·錫南奧格魯;A·葉米利
• 申請（專利權(quán)）人: 羅伯特·博世有限公司
• 主分類號: G01R33/02
• 分類號: G01R33/02
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司 72002
• 代理人: 郭毅

1.一種磁場檢測裝置，其具有：

一個線圈芯(K)；

一個與所述線圈芯(K)直接耦合的接收線圈(S0)；

多個與所述線圈芯(K)直接耦合的、電分離的激勵線圈(S1-Sn)；

一個激勵裝置(2、A1-An；2’、A1’-An’)，其用于通過所述多個與所述線圈芯(K)直接耦合的激勵線圈(S1-Sn)的相應(yīng)的激勵電流(I1-In)產(chǎn)生磁場激勵；

一個分析處理裝置(1)，其用于分析處理通過與所述線圈芯(K)直接耦合的接收線圈(S0)接收的磁場信號(B)，

其中，所述激勵裝置(2、A1-An；2’、A1’-An’)如此設(shè)計，使得所述激勵裝置能夠選擇性地通過所述多個與所述線圈芯(K)直接耦合的激勵線圈(S1-Sn)的子組產(chǎn)生所述磁場激勵。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁場檢測裝置，其中，所述激勵裝置(2、A1-An；2’、A1’-An’)具有一個控制電路裝置(2；2’)和多個耦合輸入電路裝置(A1-An；A1’-An’)，所述多個耦合輸入電路裝置分別與所述控制電路裝置(2；2’)電連接，其中，每個耦合輸入電路裝置(A1-An；A1’-An’)與一個所屬的激勵線圈(S1-Sn)電連接。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的磁場檢測裝置，其中，所述耦合輸入電路裝置(A1-An；A1’-An’)具有相應(yīng)的驅(qū)動裝置(SE)，所述驅(qū)動裝置用于根據(jù)所述控制電路裝置(2；2’)的相應(yīng)的控制信號(L1-Ln；ST1-STn)驅(qū)動相應(yīng)的激勵線圈電流(I1-In)。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁場檢測裝置，其中，所述驅(qū)動裝置(SE)分別具有一個晶體管裝置(SE)，所述晶體管裝置連接在第一參考電位(VD)與第二參考電位(VS)之間。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁場檢測裝置，其中，所述控制信號(L1-Ln)并行地由所述控制電路裝置(2)引導(dǎo)至所述晶體管裝置(SE)的控制連接端(SA)。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁場檢測裝置，其中，在所述晶體管裝置(SE)的控制連接端(SA)前面前置相應(yīng)的開關(guān)元件(SW1)，并且所述控制信號(ST1-STn)并行地由所述控制電路裝置(2)引導(dǎo)至所述開關(guān)元件(SW1)，其中，一個共同的控制信號(L)由所述控制電路裝置(2)引導(dǎo)至所述開關(guān)元件(SW1)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1-6之一所述的磁場檢測裝置，其中，所述分析處理裝置(1)如此設(shè)計，使得所述分析處理裝置能夠由所分析處理的磁場信號(B)確定磁場強度和/或磁場方向。

8.根據(jù)權(quán)利要求1-6之一所述的磁場檢測裝置，其中，所有激勵電流(I1-In)基本相同。

9.根據(jù)權(quán)利要求1-6之一所述的磁場檢測裝置，其中，所有激勵線圈(S1-Sn)基本上具有相同的線圈電阻(R1-Rn)。

10.根據(jù)權(quán)利要求1-6之一所述的磁場檢測裝置，其中，所述激勵裝置(2、A1-An；2’、A1’-An’)是電池饋電的。

11.一種磁場檢測方法，其使用根據(jù)權(quán)利要求1-10之一所述的磁場檢測裝置。