[發明專利]由單源單次掃描X光CT圖像生成雙能X光CT圖像方法

有效

• 申請號: 201310467446.0
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN103622717A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發明（設計）人: 馮遠明;霍杰;朱險峰;曹玉珍
• 申請（專利權）人: 天津大學
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 杜文茹

1.由單源單次掃描X光CT圖像生成雙能X光CT圖像方法，其特征在于，包括如下步驟：

1）對物體在能量為E₁的X光下進行單次掃描，得到物體在能量為E₁的X光下的CT圖像；

2）使用雙線性轉換算法將步驟1）得到的該物體在能量為E₁的X光下掃描的CT圖像的CT數轉換為該物體在能量為E₂的X光下的線性衰減系數；

3）使用CT數定義公式將步驟2）得到的線性衰減系數轉換為能量為E₂的X光下的CT數，從而得到能量為E₂的X光下的CT圖像；

4）分別對能量為E₁的X光下的CT圖像和能量為E₂的X光下的CT圖像生成數字重建影像圖像；

5）對步驟4）生成的數字重建影像圖像聯合使用對數雙能減影算法，選擇所需要的權重因子，得到消去不需要的物質的圖像。

2.根據權利要求1所述的由單源單次掃描X光CT圖像生成雙能X光CT圖像方法，其特征在于，步驟2）所述的雙線性轉換算法公式如下：

μx(E2)=[1+HUx(E1)1000]·μw(E2)HU≤0[1+(ρH·R(E2)-1)·HUx(E1)HUH(E1)]·μw(E2)HU>0---(1)]]>

公式中的參數說明如下：

μ_x(E₂)：需要轉換的物質在能量為E₂的X光下的線性衰減系數；

HU_x(E₁)：需要轉換的物質在原始掃描能量E₁的X光下的CT數；

μ_w(E₂)：水在能量為E₂的X光下的線性衰減系數；

HU_H(E₁)：高原子序數物質在能量為E₁的X光下的CT數；

ρ_H：高原子序數物質的密度；

R(E₂)：高原子序數物質與水在能量為E₂的X光下的質量衰減系數之比，由下式獲得：

R(E₂)=μ'_H(E₂)/μ'_w(E₂)????????（2）

其中μ'_H(E₂)為高原子序數物質在能量為E₂的X光下的質量衰減系數；μ'_w(E₂)為水在能量為E₂的X光下的質量衰減系數。

3.根據權利要求1所述的由單源單次掃描X光CT圖像生成雙能X光CT圖像方法，其特征在于，所述的步驟3）所述的CT數定義公式是：

HUx(E2)=μx(E2)-μw(E2)μw(E2)·1000---(3)]]>

將雙線性轉換算法公式得到的線性衰減系數代入上述CT數定義公式即能夠通過能量為E₁的X光下掃描得到的CT圖像的CT數獲得在能量為E₂的X光下CT圖像的CT數，然后由在能量為E₂的X光下CT圖像的CT數得到能量為E₂的X光下的CT圖像。