[發明專利]參考電壓產生電路及其具負電荷保護機制的電壓調整裝置

在審

• 申請號: 201310466710.9
• 申請日: 2013-10-09
• 公開（公告）號: CN104345761A
• 公開（公告）日: 2015-02-11
• 發明（設計）人: 溫文瑩;江宏澤;張景富
• 申請（專利權）人: 新唐科技股份有限公司
• 主分類號: G05F1/56
• 分類號: G05F1/56
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司 11127
• 代理人: 湯在彥

技術領域

本發明是有關于一種電路保護技術，且特別是有關于一種參考電壓產生電路及其具負電荷保護機制的電壓調整裝置。

背景技術

參考電壓產生電路能將系統電壓轉換為一個電路系統中各模塊所能接收并賴以運作的參考電壓。因此，如何產生穩定的參考電壓，以使各個電路模塊在接收到參考電壓后進行正常的運作，對整個系統是否能發揮正常的功效是十分重要的課題。

在參考電壓產生電路中，可能有部份端點是為了對電壓進行微調或是量測之用，而需設置連接墊。連接墊容易產生天線聚集的效應而將負電荷導入電路中。當負電荷累積于部份元件中，將可能對元件特性造成影響，進一步使電路無法正常運作。

因此，如何設計一個新的參考電壓產生電路及其具負電荷保護機制的電壓調整裝置，以解決上述的問題，乃為業界亟待解決的問題。

發明內容

因此，本發明的一實施例提供一種具負電荷保護機制的電壓調整裝置，該電壓調整裝置包含：電壓調整模塊以及具反向二極管特性的整流元件。電壓調整模塊耦接于參考電壓輸出端，且參考電壓輸出端耦接至后端電路，其中電壓調整模塊具有多個控制輸入端，于接收到控制電壓時改變電壓調整模塊的電阻值，對參考電壓輸出端輸出的參考電壓進行調整。整流元件耦接于參考電壓輸出端以及接地端，于輸入負電荷自電壓調整模塊的控制輸入端傳送至參考電壓輸出端時，將輸入負電荷導入接地端。

本發明的另一實施例提供一種具負電荷保護機制的電壓調整裝置，該電壓調整裝置包含：電壓調整模塊以及電荷緩沖元件。電壓調整模塊耦接于參考電壓輸出端，且參考電壓輸出端耦接至后端電路，其中電壓調整模塊具有多個控制輸入端，于接收到控制電壓時改變電壓調整模塊的電阻值，對參考電壓輸出端輸出的參考電壓進行調整。電荷緩沖元件的第一端耦接于參考電壓輸出端，電荷緩沖元件的第二端耦接于后端電路，于輸入負電荷自控制輸入端傳送至參考電壓輸出端時，延遲輸入負電荷傳送至后端電路的時間。

本發明的又一實施例提供一種參考電壓產生電路，該參考電壓產生電路包含：參考電壓產生裝置以及電壓調整裝置。參考電壓產生裝置根據系統電壓于參考電壓輸出端產生參考電壓，其中參考電壓輸出端耦接至后端電路。電壓調整裝置包含：電壓調整模塊以及具反向二極管特性的整流元件。電壓調整模塊耦接于參考電壓輸出端，其中電壓調整模塊具有多個控制輸入端，于接收到控制電壓時改變電壓調整模塊的電阻值，對參考電壓輸出端輸出的參考電壓進行調整。整流元件耦接于參考電壓輸出端以及接地端，于輸入負電荷自電壓調整模塊的控制輸入端傳送至參考電壓輸出端時，將輸入負電荷導入接地端。

本發明的再一實施例提供另一種參考電壓產生電路，該參考電壓產生包含：參考電壓產生裝置以及電壓調整裝置。參考電壓產生裝置根據系統電壓于參考電壓輸出端產生參考電壓，其中參考電壓輸出端耦接至后端電路。電壓調整裝置包含：電壓調整模塊以及電荷緩沖元件。電壓調整模塊耦接于參考電壓輸出端，其中電壓調整模塊具有多個控制輸入端，于接收到控制電壓時改變電壓調整模塊的電阻值，對參考電壓輸出端輸出的參考電壓進行調整。電荷緩沖元件的第一端耦接于參考電壓輸出端，電荷緩沖元件的第二端耦接于后端電路，于輸入負電荷自控制輸入端傳送至參考電壓輸出端時，延遲輸入負電荷傳送至后端電路的時間。

本發明的再一實施例提供一種集成電路，該集成電路包含：至少一內部量測接墊與至少一具反向二極管特性的整流元件。內部量測接墊能用以藉由探針測得內部量測點的電位，內部量測接墊耦接至后端電路；具反向二極管特性的整流元件耦接于內部量測接墊以及接地端，用以將內部量測接墊的輸入負電荷導入接地端。

應用本發明的優點在于藉由具反向二極管特性的整流元件及/或電荷緩沖元件的設置，將自電壓調整模塊產生的負電荷導至接地端或是延遲其由參考電壓輸出端進入后端電路的時間，避免負電荷累積于后端電路，而輕易地達到上述的目的。

附圖說明

圖1為本發明一實施例中，一種參考電壓產生電路的電路圖；

圖2為本發明一實施例中，電壓調整模塊的電路圖；

圖3A至圖3C分別為本發明一實施例中，硅控整流體、金氧半二極管及雙極性接面二極管的示意圖；

圖4為本發明一實施例中，參考電壓產生電路的電路圖；

圖5為本發明一實施例中，參考電壓產生電路的電路圖；

圖6為本發明一實施例中，參考電壓產生電路的電路圖；以及

圖7A及圖7B為應用本發明一實施例之前與之后，晶圓上的晶片的良率統計圖。

主要元件標號說明