[發明專利]測試和測量儀器上的多信號協方差和相關處理

在審

• 申請號: 201310465987.X
• 申請日: 2013-10-09
• 公開（公告）號: CN103713174A
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發明（設計）人: D.F.希爾特納
• 申請（專利權）人: 特克特朗尼克公司
• 主分類號: G01R13/02
• 分類號: G01R13/02
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司 72001
• 代理人: 方世棟;王忠忠

1.一種用于使多個信號相關的方法，所述方法包括：

通過測試和測量儀器的輸入接收在測試中的信號；

計算所述在測試中的信號的平均值；

從存儲器讀取數字參考信號；

將所述數字參考信號轉換為所述參考信號的模擬表示；

至少基于所述在測試中的信號、所述在測試中的信號的所述平均值以及所述參考信號生成第一信號；

至少基于所述在測試中的信號和所述在測試中的信號的所述平均值生成第二信號；

至少基于所述第一信號產生所述在測試中的信號和所述參考信號之間的協方差值；以及

至少基于所述第一信號和所述第二信號產生所述在測試中的信號和所述參考信號之間的相關值。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，產生所述協方差值包括對所述第一信號進行求和。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，產生所述相關值包括：

對所述第二信號進行求和；

計算所述被求和的第二信號的平方根；以及

將所述協方差值除以所述被求和的第二信號的所述平方根。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，接收包括在第一乘法和平方電路處接收所述在測試中的信號。

5.根據權利要求4所述的方法，進一步包括：

通過第一延遲線延遲所述在測試中的信號；以及

通過第二延遲線延遲所述在測試中的信號；

其中，接收包括在第二乘法和平方電路處接收被所述第一延遲線延遲的所述延遲的信號以及在第三乘法和平方電路處接收被所述第二延遲線延遲的所述延遲的信號。

6.根據權利要求5所述的方法，其中：

生成所述第一信號包括通過所述第一直至第三乘法和平方電路中的每個計算（X-Xbar）乘以（Y-Ybar）；以及

生成所述第二信號包括通過所述第一直至第三乘法和平方電路中的每個計算（X-Xbar）²，

其中，X表示所述在測試中的信號或相應的被延遲的在測試中的信號，Xbar表示所述在測試中的信號的所述平均值，Y表示所述參考信號，以及Ybar表示所述參考信號的平均值。

7.根據權利要求5所述的方法，其中：

生成所述第一信號包括通過所述第一直至第三乘法和平方電路中的每個輸出（X-Xbar）乘以（Y-Ybar）；以及

生成所述第二信號包括通過所述第一直至第三乘法和平方電路中的每個輸出（X-Xbar）²，

其中，X表示所述在測試中的信號或相應的被延遲的在測試中的信號，Xbar表示所述在測試中的信號的所述平均值，Y表示所述參考信號，以及Ybar表示所述參考信號的平均值。

8.一種測試和測量儀器，包括：

輸入,其被配置為接收在測試中的信號；

低通濾波器電路,其被配置為生成所述在測試中的信號的平均值；

存儲器,其被配置為存儲數字參考信號；

數字到模擬轉換器,其被配置為將所述數字參考信號轉換為所述參考信號的模擬表示；

多個乘法和平方電路，其被配置為至少基于所述在測試中的信號、所述在測試中的信號的所述平均值以及所述參考信號生成第一信號,以及至少基于所述在測試中的信號和所述在測試中的信號的所述平均值生成第二信號；

第一電路，其被配置為至少基于所述第一信號產生所述在測試中的信號和所述參考信號之間的協方差值；以及

第二電路，其被配置為至少基于所述第一信號和所述第二信號產生所述在測試中的信號和所述參考信號之間的相關值。

9.根據權利要求8所述的測試和測量儀器，其中，所述第一電路進一步包括:?第一加法器,其被配置為對所述第一信號進行求和。

10.根據權利要求8所述的測試和測量儀器，其中，所述第二電路進一步包括：

第二加法器,其被配置為對所述第二信號進行求和；

平方根電路，其被配置為計算所述被求和的第二信號的平方根；以及

除法器電路，其被配置為將所述協方差值除以所述被求和的第二信號的所述平方根。