[發(fā)明專利]基于X射線成像系統(tǒng)探測器特性的調(diào)制傳遞函數(shù)測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310465149.2
• 申請日: 2013-09-29
• 公開（公告）號: CN103528840A
• 公開（公告）日: 2014-01-22
• 發(fā)明（設計）人: 周仲興;高峰;趙會娟;張力新;朱慶陣
• 申請（專利權(quán)）人: 天津大學
• 主分類號: G01M99/00
• 分類號: G01M99/00
• 代理公司: 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201
• 代理人: 程毓英

1.一種基于X射線成像系統(tǒng)探測器特性的調(diào)制傳遞函數(shù)測量方法，包括下列步驟：

①設置數(shù)字放射成像系統(tǒng)的曝光參數(shù)，放置刀口測試儀器緊貼探測器，并使刀口與探測器采樣方向有一傾斜角度，連續(xù)采集多幅圖像；

②對多幅刀口圖像疊加平均，降低系統(tǒng)噪聲，而后對平均后的刀口圖像進行刀口邊界檢測，并且利用直線擬合獲得刀口邊界直線；

③對刀口邊界直線圖進行Hough變換，獲得刀口傾斜角度α，而后依據(jù)公式N＝round(1/tanα)得到該傾角對應的插值數(shù)N，構(gòu)建過采樣ESF曲線，round符號代表取整函數(shù)；

④采用C樣條曲線作為回歸樣條曲線f對ESF曲線進行分段最小二乘擬合，同時滿足約束條件，即擬合時保證ESF曲線左半部分為單調(diào)非減凹函數(shù)，右半部分為單調(diào)非減凸函數(shù)；

⑤對經(jīng)過最小二乘擬合的ESF曲線進行差分運算得到線擴散函數(shù)LSF(x)；

⑥對線擴散函數(shù)LSF(x)進行傅里葉變換再取模，得到調(diào)制傳遞函數(shù)MTF′(f)；

⑦對MTF′(f)采用零頻率位置MTF值進行歸一化，得到歸一化的調(diào)制傳遞函數(shù)MTF(f)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測量方法，其特征在于，步驟④中，采用3階C樣條曲線作為的回歸樣條曲線f，對ESF曲線進行分段擬合，所滿足的約束條件為：f′(x)≥0，f″(x)≥0,x∈[xmin,xmid]f″(x)≥0,x∈[xmid,xmax],]]>這里f′(x)和f′′(x)分別為回歸樣條曲線f的一階導數(shù)和二階導數(shù)，x_min，x_mid和x_max分別是待擬合ESF曲線的左端點，中心邊界和右端點，

λ為平滑因子，λ≥0，用于控制曲線的平滑度與誤差之間的平衡。