[發(fā)明專利]測井設(shè)備、方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310462174.5
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN103485772A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 李少華;李守哲;李智強;金志宏;柯仲英
• 申請（專利權(quán)）人: 中國電子科技集團公司第二十二研究所
• 主分類號: E21B49/00
• 分類號: E21B49/00;E21B47/00
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 吳貴明;張永明

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及油田測井領(lǐng)域，具體而言，涉及一種測井設(shè)備、方法及裝置。

背景技術(shù)

隨著油田勘探開發(fā)程度的不斷深入，薄層以及薄互層已經(jīng)成為期待被開發(fā)的油氣儲集層，由于常規(guī)雙感應(yīng)測量曲線僅適用于油基泥漿測井條件且分辨率低、曲線響應(yīng)信息少，使用常規(guī)的多線圈感應(yīng)裝置測量地層得到的地層視電阻率曲線的分辨率低，無法很好的反應(yīng)儲集層響應(yīng)特性。多電極儀器測量裝置只適用于鹽水泥漿中，但是曲線分辨率低，探測深度淺，只能反映近井眼測量信息。傳統(tǒng)的陣列感應(yīng)測井在鹽水泥漿中，井眼影響較大，對陣列感應(yīng)近子陣列測井結(jié)果精度帶來影響，在高阻地層陣列感應(yīng)測量結(jié)果影響陣列感應(yīng)長陣列測量精度，所以陣列感應(yīng)的應(yīng)用條件具有一定的局限性。

針對上述對薄層及薄互層的地層測量精確度低的問題，目前尚未提出有效的解決方案。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明實施例提供了一種測井設(shè)備、方法及裝置，以至少解決對薄層及薄互層的地層測量精確度低的技術(shù)問題。

根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面，提供了一種測井設(shè)備，包括：線圈感應(yīng)裝置，用于獲取探測地層的電導(dǎo)率信號；電極測井裝置，用于獲取探測地層的電阻率信號；處理器，連接于線圈感應(yīng)裝置與電極測井裝置之間，用于根據(jù)電導(dǎo)率信號和電阻率信號獲取探測地層的地層特性數(shù)據(jù)。

進一步地，測井設(shè)備還包括：采集電路，線圈感應(yīng)裝置和電極測井裝置分別通過采集電路與處理器連接，采集電路用于將采集到的電導(dǎo)率信號和電阻率信號發(fā)送至處理器。

進一步地，線圈感應(yīng)裝置包括：發(fā)射線圈，用于發(fā)射探測信號；接收裝置，連接于發(fā)射線圈與采集電路之間，接收裝置包括多個接收線圈，每個接收線圈分別用于接收探測地層響應(yīng)探測信號形成的電導(dǎo)率信號。

進一步地，線圈感應(yīng)裝置還包括：補償裝置，接收裝置通過補償裝置與采集電路連接，補償裝置包括多個補償線圈，每個補償線圈分別對應(yīng)一個接收線圈設(shè)置，每個補償線圈用于消除對應(yīng)的接收線圈接收到的電導(dǎo)率信號中的直耦信號。

進一步地，線圈感應(yīng)裝置還包括：第一殼體，發(fā)射線圈、補償裝置以及接收裝置依次設(shè)置在第一殼體內(nèi)。

進一步地，線圈感應(yīng)裝置還包括：第一殼體，發(fā)射線圈、補償裝置以及接收裝置設(shè)置在第一殼體內(nèi)，補償裝置中的補償線圈與接收裝置中的接收線圈交叉排列設(shè)置在第一殼體內(nèi)。

進一步地，電極測井裝置包括：發(fā)射電極，用于發(fā)射探測電流；測量電極組，包括多個測量電極，每個測量電極分別用于接收探測地層響應(yīng)探測電流形成的反饋信號；測量電路，分別與每個測量電極建立連接，測量電路用于測量相鄰兩個測量電極之間的反饋信號的電位差；接收電極，連接于測量電路與采集電路之間，用于接收測量電路測量的電位差，并將電位差作為電阻率信號發(fā)送給采集電路。

進一步地，電極測井裝置還包括：第二殼體，發(fā)射電極、測量電極以及接收電極依次設(shè)置在第二殼體內(nèi)。

進一步地，處理器包括：刻度校正儀，與采集電路連接，用于將電導(dǎo)率信號和電阻率信號進行刻度處理得到電導(dǎo)率曲線和電阻率曲線；反演計算器，與刻度校正儀連接，用于對電導(dǎo)率曲線和電阻率曲線進行反演計算得到地層電阻率剖面；正演計算器，與反演計算器連接，用于對地層電阻率剖面進行正演計算得到正演電阻率曲線和正演電導(dǎo)率曲線；作差器，與正演計算器連接，用于計算正演電阻率曲線與電阻率曲線的第一差值和正演電導(dǎo)率曲線與電導(dǎo)率曲線的第二差值；比較器，與正演計算器連接，用于根據(jù)第一差值和第二差值確定第一陣列響應(yīng)曲線和第二陣列響應(yīng)曲線；地層曲線計算器，與比較器連接，用于使用第一陣列響應(yīng)曲線、第二陣列響應(yīng)曲線以及地層電阻率剖面進行合成聚焦處理得到地層特性數(shù)據(jù)。

根據(jù)本發(fā)明實施例的一個方面，提供了一種測井方法，該方法包括：獲取探測地層的電導(dǎo)率信號和探測地層的電阻率信號；根據(jù)電導(dǎo)率信號和電阻率信號獲取探測地層的地層特性數(shù)據(jù)。

進一步地，根據(jù)電導(dǎo)率信號和電阻率信號獲取探測地層的地層特性數(shù)據(jù)的步驟包括：將電導(dǎo)率信號和電阻率信號進行刻度處理得到電導(dǎo)率曲線和電阻率曲線；對電導(dǎo)率曲線和電阻率曲線進行反演計算得到地層電阻率剖面；對地層電阻率剖面進行正演計算得到正演電阻率曲線和正演電導(dǎo)率曲線；計算正演電阻率曲線與電阻率曲線的第一差值和正演電導(dǎo)率曲線與電導(dǎo)率曲線的第二差值；根據(jù)第一差值和第二差值確定第一陣列響應(yīng)曲線和第二陣列響應(yīng)曲線；將第一陣列響應(yīng)曲線和第二陣列響應(yīng)曲線進行合成聚焦處理得到地層特性數(shù)據(jù)中的陣列感應(yīng)測井響應(yīng)曲線；使用地層電阻率剖面計算地層特性數(shù)據(jù)中的陣列側(cè)向響應(yīng)曲線。