[發明專利]發光二極管模組的分光檢測裝置及檢測方法

有效

• 申請號: 201310461585.2
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN103512729A
• 公開（公告）日: 2014-01-15
• 發明（設計）人: 蘇佳檳;陳家俊;陳志威;高艷春;夏雪松
• 申請（專利權）人: 廣州硅能照明有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288
• 代理人: 湯喜友

1.發光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，包括，

工作臺，其上設置有一檢測工位和出料工位；

安裝于工作臺上的循環輸送機構，該循環輸送機構用于將裝放有發光二極管模組的夾具由檢測工位輸送至出料工位；

活動的安裝于夾具上并用于在夾具位于出料工位時將夾具上的發光二極管模組頂出的頂料桿；

位于工作臺的出料工位上且用于將位于出料工位的頂料桿向上頂壓的頂壓機構；

安裝在工作臺上的固定架，該固定架上固定有一相機以及光譜探頭；

活動安裝在工作臺上且位于檢測工位上方的遮光罩，該遮光罩的下部具有開口，相機的拍攝鏡頭及光譜探頭設置于遮光罩內部；

兩個分別用于對接發光二極管模組上的接線端子用以將發光二極管模組連通于外部電源的導電頂針；

用于帶動遮光罩和導電頂針沿高度方向相對于循環輸送機構上下運動的驅動組件；

用于控制循環輸送機構和驅動組件的控制器，光譜探頭、相機與控制器連接。

2.如權利要求1所述的發光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，循環輸送機構包括可轉動的安裝在工作臺上的分度盤、以及機體部分固定在工作臺上且用于帶動分度盤轉動的伺服電機，該伺服電機的控制端與控制器連接。

3.如權利要求2所述的發光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，分度盤的上表面可拆卸的安裝有多個夾具，該多個夾具繞分度盤的轉動軸線圓周陣列；夾具位于分度盤上表面開設的凹位內，且夾具的上表面與分度盤的上表面平齊或低于分度盤的上表面，夾具的上表面開設有一用于裝放發光二極管模組的凹槽。

4.如權利要求3所述的發光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，頂料桿沿高度方向延伸且活動的穿接在夾具上，頂料桿與夾具之間設置有一回位彈簧，該回位彈簧用于提供一個將頂料桿向下頂壓的彈性應力，頂壓機構為一安裝在工作臺出料工位上的頂料凸塊，該頂料凸塊上與分度盤轉動方向相對的一側設置有一斜面，該斜面的高度順延分度盤的轉動方向逐漸向逐漸增大。

5.如權利要求1所述的發光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，遮光罩內部設置有一分光板，光譜探頭的探測端位于分光板的正上方，分光板上設置有一位于相機的鏡頭正下方的透光孔。

6.如權利要求1所述的發光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，遮光罩內部安裝有兩個固定套，導電頂針活動的穿接于固定套內，且導電頂針與固定套之間設置有一復位彈簧，該復位彈簧用于提供一個將導電頂針向下頂壓的彈性應力。

7.如權利要求1所述的發光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，驅動組件包括機體部分固定在工作臺上的驅動電機、遮光罩以絲桿傳動的方式與驅動電機的轉軸連接。

8.如權利要求1所述的發光二極管模組的分光檢測裝置，其特征在于，遮光罩的頂壁上開設有用于供相機和光譜探頭活動穿接的通孔。

9.發光二極管模組的分光檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟A、利用遮光罩遮住待檢測的發光二極管模組；

步驟B、將發光二極管模組的接線端子與外部電源導通，使待檢測的發光二極管模組處于工作狀態；

步驟C、將光譜探頭伸入到遮光罩內部獲取發光二極管模組的光學性能參數；將相機的鏡頭伸入到遮光罩內部，對工作狀態中的發光二極管模組進行拍照，獲取發光二極管模組的光學圖像；

步驟D、將獲取的光學性能參數和光學圖像發送給A/D數據采集卡,由A/D數據采集卡將這些光學性能參數和光學圖像發送給計算機；

步驟E、計算機對接收到的光學性能參數和光學圖像進行分析，完成發光二極管模組的分光檢測。