[發(fā)明專利]一種長(zhǎng)距離平面或?qū)к壍臏y(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310461500.0 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103453856A | 公開(公告)日: | 2013-12-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐仲維;江清波;呂敬高;徐天藝;文比強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 湘潭電機(jī)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01B11/27 | 分類號(hào): | G01B11/27;G01B11/30 |
| 代理公司: | 湘潭市匯智專利事務(wù)所 43108 | 代理人: | 顏昌偉 |
| 地址: | 411101 湖南*** | 國(guó)省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 長(zhǎng)距離 平面 導(dǎo)軌 測(cè)量方法 | ||
1.一種長(zhǎng)距離平面或?qū)к壍臏y(cè)量方法,包括如下步驟:
1)將兩臺(tái)雙軸光電自準(zhǔn)直儀分別可調(diào)式橋板上,分別作為測(cè)量校準(zhǔn)儀和校準(zhǔn)儀;
2)將基點(diǎn)反射鏡置于待測(cè)量的平臺(tái)首端前作為反射基點(diǎn),然后將測(cè)量校準(zhǔn)儀置于待測(cè)量的平臺(tái)上;選取水平和縱向定位基準(zhǔn)軸線,調(diào)整基點(diǎn)反射鏡或測(cè)量校準(zhǔn)儀使測(cè)量校準(zhǔn)儀的界面上十字光標(biāo)X、Y軸校零;
3)在待測(cè)量平臺(tái)首端和測(cè)量校準(zhǔn)儀之間移動(dòng)檢測(cè)反射鏡,用測(cè)量校準(zhǔn)儀對(duì)待測(cè)量平臺(tái)進(jìn)行施工測(cè)量;
4)?在待測(cè)量平臺(tái)首端與測(cè)量校準(zhǔn)儀之間安裝校準(zhǔn)儀,調(diào)整校準(zhǔn)儀使測(cè)量?jī)x的界面上十字光標(biāo)X、Y軸校零,然后后移測(cè)量校準(zhǔn)儀并調(diào)整測(cè)量校準(zhǔn)儀使校準(zhǔn)儀界面上十字光標(biāo)X、Y軸校零;
5)撤掉校準(zhǔn)儀,并在校準(zhǔn)儀撤掉前的校準(zhǔn)儀和測(cè)量校準(zhǔn)儀之間區(qū)域內(nèi)移動(dòng)檢測(cè)反射鏡,用測(cè)量校準(zhǔn)儀對(duì)工件進(jìn)行施工測(cè)量;
6)校準(zhǔn)儀撤掉前校準(zhǔn)儀和測(cè)量校準(zhǔn)儀之間區(qū)域測(cè)量完成后,將校準(zhǔn)儀設(shè)在待測(cè)量平臺(tái)上該區(qū)域內(nèi)靠近測(cè)量校準(zhǔn)儀,調(diào)整校準(zhǔn)儀使測(cè)量?jī)x的界面上十字光標(biāo)X、Y軸校零,后移測(cè)量校準(zhǔn)儀,調(diào)整測(cè)量校準(zhǔn)儀,使校準(zhǔn)儀界面上的十字光標(biāo)的X、Y軸校零;然后再撤掉校準(zhǔn)儀,并在校準(zhǔn)儀撤掉前校準(zhǔn)儀和測(cè)量校準(zhǔn)儀之間區(qū)域內(nèi)移動(dòng)檢測(cè)反射鏡,用測(cè)量校準(zhǔn)儀對(duì)工件進(jìn)行施工測(cè)量;重復(fù)該操作,直至待測(cè)量平臺(tái)測(cè)量結(jié)束。
2.如權(quán)利要求1所述的長(zhǎng)距離平面或?qū)к壍臏y(cè)量方法,還包括精度復(fù)合步驟:將校準(zhǔn)儀設(shè)置在待測(cè)量平臺(tái)上,相距測(cè)量校準(zhǔn)儀小于雙軸光電自準(zhǔn)直儀的測(cè)量范圍,調(diào)整校準(zhǔn)儀并使測(cè)量校準(zhǔn)儀的界面上十字光標(biāo)X、Y軸校零,然后將測(cè)量校準(zhǔn)儀向待測(cè)量平臺(tái)首端移動(dòng),靠近校準(zhǔn)儀;調(diào)整測(cè)量校準(zhǔn)儀使校準(zhǔn)儀的界面上十字光標(biāo)X、Y軸校零;然后再將校準(zhǔn)儀向待測(cè)量平臺(tái)首端移動(dòng),與測(cè)量校準(zhǔn)儀的距離不超過(guò)雙軸光電自準(zhǔn)直儀的測(cè)量范圍,調(diào)整校準(zhǔn)儀并使測(cè)量校準(zhǔn)儀的界面上十字光標(biāo)X、Y軸校零,然后將測(cè)量校準(zhǔn)儀向待測(cè)量平臺(tái)首端移動(dòng),靠近校準(zhǔn)儀,調(diào)整測(cè)量校準(zhǔn)儀并使得校準(zhǔn)儀的界面上十字光標(biāo)X、Y軸校零,如此反復(fù),直至與基點(diǎn)反射鏡形成閉合測(cè)量路線。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于湘潭電機(jī)股份有限公司,未經(jīng)湘潭電機(jī)股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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