[發明專利]光電轉換裝置及其測試方法和成像系統及其制造方法

有效

• 申請號: 201310460127.7
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN103716554B
• 公開（公告）日: 2017-04-12
• 發明（設計）人: 樋山拓己;中村恒一;山崎和男;齊藤和宏
• 申請（專利權）人: 佳能株式會社
• 主分類號: H04N5/335
• 分類號: H04N5/335;H04N5/378
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 羅銀燕

技術領域

本公開涉及光電轉換裝置和成像系統。

背景技術

在各像素列中具有模擬/數字（A/D）轉換器和保持A/D轉換結果的存儲器的固態成像元件是已知的。日本專利申請公開No.2008-270433討論了多個存儲器被分成多個塊并且對于各塊設置列掃描電路的配置。在日本專利申請公開No.2008-270433中討論的配置中，可通過僅從屬于某個塊的存儲器讀取信號來提取成像區域中的部分區域。但是，如果從某個塊讀取信號，那么隨后級中的電路不能區分該信號是從哪個塊讀取的。

發明內容

根據本發明的一個方面，光電轉換裝置包括：像素陣列，包含以矩陣布置的多個像素；包含多個對的多個塊，每個對包含與像素陣列中的列對應地設置的比較器和與比較器對應地設置的存儲器；以及塊信息供給單元，被配置為向包含于塊中的多個存儲器供給塊信息，所述塊信息用于在從所述多個塊之中的一個塊讀取的信號與從另一塊讀取的信號之間進行區分。

根據本發明的另一方面，在光電轉換裝置的測試方法中，所述光電轉換裝置包括：像素陣列，包含以矩陣形式布置的多個像素；包含多個對的多個塊，每個對包含與像素陣列中的列對應地設置的比較器和與比較器對應地設置的存儲器；以及塊信息供給單元，被配置為向包含于塊中的多個存儲器供給塊信息，所述塊信息用于在從所述多個塊之中的一個塊讀取的信號與從另一塊讀取的信號之間進行區分，所述測試方法包括：比較預設的期望值與從光電轉換裝置輸出的塊信息；以及確定期望值是否與塊信息一致。

從（參照附圖）對示例性實施例的以下描述，本發明的進一步的特征將變得明顯。

附圖說明

圖1是示出根據第一示例性實施例的光電轉換裝置的配置的框圖。

圖2是示出像素的配置的等效電路圖。

圖3是示出放大電路的配置的等效電路圖。

圖4是示出A/D轉換單元的配置的等效電路圖。

圖5是示出塊內（intra-block）掃描電路的配置的示圖。

圖6是示出光電轉換裝置的操作的時序圖。

圖7是示出部分讀取模式中的光電轉換裝置的操作的時序圖。

圖8是示出塊信息讀取模式中的光電轉換裝置的操作的時序圖。

圖9是示出圖像顯示系統的配置的示意圖。

圖10是示出圖像顯示系統的操作的時序圖。

圖11是示出根據第二示例性實施例的光電轉換裝置的配置的框圖。

圖12是示出測試模式中的光電轉換裝置的操作的時序圖。

圖13是示出成像系統的配置的框圖。

具體實施方式

以下將參照附圖詳細描述本發明的各種示例性實施例、特征和方面。在所有的多個附圖中，共同的組件由同樣的附圖標記表示，并且將省略重復的描述。

現在將參照附圖描述第一示例性實施例。

圖1示出根據本示例性實施例的光電轉換裝置100。光電轉換裝置100包括像素陣列110、放大單元120、A/D轉換單元130、行選擇單元140、塊輸出單元150和信號輸出單元190。

像素陣列110包含以矩陣布置的多個像素111。屬于同一列的多個像素111共同與列信號線113連接。從像素111中的一個輸出到列信號線113的信號經由設置在各列上的放大單元120被輸入到A/D轉換單元130。

A/D轉換單元130包含塊信息供給單元160、與多個比較器131共同連接的基準信號產生單元170、定時控制單元195和計數器180。A/D轉換單元130在各像素列中包含比較器131、第一鎖存（latch）電路132和第二鎖存電路133。比較器131輸出指示放大單元120的輸出與從基準信號產生單元170供給的基準信號之間的大小關系的比較結果信號。定時控制單元195使計數器180與從基準信號產生單元170輸出的基準信號的改變的開始同步地開始計數操作。定時控制單元195控制計數器180的操作，并且另外還向第一鎖存電路132供給寫信號WEN1和WEN2。第一鎖存電路132通過使用比較結果信號或者寫信號WEN1或WEN2作為觸發來保持計數器180的輸出。第二鎖存電路133保持第一鎖存電路132的輸出。

供給寫信號WEN1和WEN2的信號線組構成塊信息供給單元160的一部分。