[發明專利]一種QR碼探測圖形的篩選方法及系統

在審

• 申請號: 201310459674.3
• 申請日: 2013-09-29
• 公開（公告）號: CN104517091A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: 張玲;關超;劉振華;劉革章;車萬毅
• 申請（專利權）人: 北大方正集團有限公司;方正移動傳媒技術（北京）有限公司
• 主分類號: G06K7/10
• 分類號: G06K7/10
• 代理公司: 北京三聚陽光知識產權代理有限公司 11250
• 代理人: 張建綱

1.一種QR碼探測圖形的篩選方法，其特征在于，包括如下步驟：

獲取多個待探測圖形；

確定每個待探測圖形的邊長；

根據每個待探測圖形的邊長，確定多個待探測圖形邊長的平均值；

根據所述平均值和每個待探測圖形的邊長，確定檢測待探測圖形的參考值；

將每個探測圖形的邊長分別與所述參考值進行比較，將符合預定條件的待探測圖形確定為探測圖形。

2.根據權利要求1所述的QR碼探測圖形的篩選方法，其特征在于，所述根據所述平均值和每個待探測圖形的邊長，確定檢測待探測圖形的參考值的處理包括：

根據所述平均值和每個待探測圖形的邊長，確定多個待探測圖形對應的標準差；

根據所述平均值和所述標準差，確定所述參考值。

3.根據權利要求2所述的QR碼探測圖形的篩選方法，其特征在于，利用下述公式確定標準差Std:

Std=1NΣi=1N(Si-Avg)2]]>

其中N為待探測圖形的個數，Si為第i個待探測圖形的邊長，Avg為所述平均值，i為整數且1≤i≤N。

4.根據權利要求2或3所述的QR碼探測圖形的篩選方法，其特征在于，利用下述公式確定參考值E：

E=max（n×Avg，Std），其中n為調整系數且0<n<1。

5.根據權利要求4所述的QR碼探測圖形的篩選方法，其特征在于，設定所述調整系數n=0.2。

6.根據權利要求1-5任一所述的QR碼探測圖形的篩選方法，其特征在于，所述將每個探測圖形的邊長分別與所述參考值進行比較，將符合預定條件的待探測圖形確定為探測圖形的處理步驟中：

所述預定條件為：|Si-Avg|≤E。

7.根據權利要求1-6任一所述的QR碼探測圖形的篩選方法，其特征在于，還包括如下步驟：

判斷所述符合預定條件的待探測圖形的數量，若為三個或三個以下則結束篩選，否則進行如下步驟：

獲取任意三個待探測圖形的中心組成的三角形；

確定每一所述三角形的形狀，將最接近等腰直角三角形的三角形所對應的三個待探測圖形確定為探測圖形。