[發(fā)明專利]農(nóng)殘光譜快速檢測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310458216.8 | 申請日: | 2013-09-30 |
| 公開(公告)號: | CN103499528A | 公開(公告)日: | 2014-01-08 |
| 發(fā)明(設計)人: | 侯長軍;黃晶;霍丹群;羅小剛;法煥寶;侯經(jīng)洲 | 申請(專利權(quán))人: | 重慶大學 |
| 主分類號: | G01N21/25 | 分類號: | G01N21/25 |
| 代理公司: | 重慶博凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 50212 | 代理人: | 穆祥維 |
| 地址: | 400044 *** | 國省代碼: | 重慶;85 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光譜 快速 檢測 系統(tǒng) | ||
1.農(nóng)殘光譜快速檢測系統(tǒng),其特征在于:包括遮光板Ⅰ(1)、遮光板Ⅱ(2)、比色皿反應陣列裝置、多光源陣列裝置、農(nóng)殘樣本自動注樣器、光接收探頭(3)和光纖光譜儀(4);
所述遮光板Ⅰ(1)和遮光板Ⅱ(2)平行設置,所述比色皿反應陣列裝置設置在遮光板Ⅰ(1)的內(nèi)側(cè)和遮光板Ⅱ(2)的內(nèi)側(cè)之間,所述多光源陣列裝置設置在遮光板Ⅰ(1)的外側(cè),所述農(nóng)殘樣本自動注樣器設置在遮光板Ⅱ(2)的外側(cè),所述遮光板Ⅰ(1)和遮光板Ⅱ(2)上設有一對應的通孔(5);
所述比色皿反應陣列裝置包括直線軌道Ⅰ(6)、滾珠絲桿Ⅰ(7)、電機Ⅰ(8)、螺母滑動塊Ⅰ(9)、比色皿反應陣列支架和比色皿;所述螺母滑動塊Ⅰ(9)安裝在直線軌道Ⅰ(6)上并與直線軌道Ⅰ(6)單自由度滑動配合,所述滾珠絲桿Ⅰ(7)穿過螺母滑動塊Ⅰ(9)并與螺母滑動塊Ⅰ(9)螺紋配合,滾珠絲桿Ⅰ(7)由電機Ⅰ(8)驅(qū)動;所述比色皿反應陣列支架為頂部敞口的長方體盒體(10),所述長方體盒體(10)內(nèi)沿其長度方向均布設置多個隔板(11),相鄰隔板(11)之間以及長方體盒體(10)的兩端壁與最近的隔板(11)之間形成比色皿插入槽(12);每個比色皿插入槽(12)內(nèi)均插入一比色皿,所述長方體盒體(10)的兩側(cè)壁上并與每個比色皿的內(nèi)孔中部對應位置分別設置過光孔(13);所述過光孔(13)的運行軌跡與遮光板Ⅰ(1)和遮光板Ⅱ(2)上的通孔(5)對應;
所述多光源陣列裝置包括直線軌道Ⅱ(14)、滾珠絲桿Ⅱ(15)、電機Ⅱ(16)、螺母滑動塊Ⅱ(17)、多光源陣列支架和激光模組(19);所述直線軌道Ⅱ(14)與直線軌道Ⅰ(6)平行,所述螺母滑動塊Ⅱ(17)安裝在直線軌道Ⅱ(14)上并與直線軌道Ⅱ(14)單自由度滑動配合,所述滾珠絲桿Ⅱ(15)穿過螺母滑動塊Ⅱ(17)并與螺母滑動塊Ⅱ(17)螺紋配合,滾珠絲桿Ⅱ(15)由電機Ⅱ(16)驅(qū)動;所述多光源陣列支架為一長方體(18),所述長方體(18)的側(cè)壁上沿其長度方向均布設置多個激光模組安裝孔(20),每個激光模組安裝孔(20)內(nèi)均安裝一個激光模組(19),所述激光模組(19)的出光口的運行軌跡與遮光板Ⅰ(1)上的通孔(5)對應;
所述農(nóng)殘樣本自動注樣器包括直線軌道Ⅲ(21)、貫通步進電機(22)、滑塊(23)、注射器卡槽(24)和注射器(25);所述貫通步進電機(22)和注射器卡槽(24)分別設置在直線軌道Ⅲ(21)的兩端,所述滑塊(23)安裝在直線軌道Ⅲ(21)上并與直線軌道Ⅲ(21)滑動配合,所述滑塊(23)的一端與貫通步進電機(22)的絲桿(26)固定,滑塊(23)的另一端設置一凹槽(27);所述注射器(25)的針筒卡在注射器卡槽(24)內(nèi),所述注射器(25)的活塞端部位于滑塊(23)的另一端的凹槽(27)內(nèi),所述注射器(25)的針管穿過遮光板Ⅱ(2),針管的出口位于比色皿運行軌跡的正上方;
所述光接收探頭(3)安裝在遮光板Ⅱ(2)上的通孔(5)內(nèi),所述光接收探頭(3)與光纖光譜儀(4)連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的農(nóng)殘光譜快速檢測系統(tǒng),其特征在于:還包括用于對比色皿進行定位的激光發(fā)射器Ⅰ(28)和激光接收器Ⅰ(29),所述激光發(fā)射器Ⅰ(28)設置在遮光板Ⅰ(1)的內(nèi)側(cè),激光接收器Ⅰ(29)設置在遮光板Ⅱ(2)的內(nèi)側(cè),所述激光發(fā)射器Ⅰ(28)和激光接收器Ⅰ(29)均與長方體盒體(10)的兩側(cè)壁上相對的過光孔(13)對應。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的農(nóng)殘光譜快速檢測系統(tǒng),其特征在于:還包括用于對激光模組(19)進行定位的激光發(fā)射器Ⅱ和激光接收器Ⅱ,所述激光發(fā)射器Ⅱ安裝在多光源陣列支架上,所述激光接收器Ⅱ設置在遮光板Ⅰ(1)的外側(cè)上,所述激光發(fā)射器Ⅱ的運行軌跡與激光接收器Ⅱ?qū)?/p>
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的農(nóng)殘光譜快速檢測系統(tǒng),其特征在于:所述長方體盒體(10)的高度為比色皿高度的三分之二。
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