[發明專利]用于計算機X射線斷層掃描的X射線探測器系統和CT儀

有效

• 申請號: 201310456972.7
• 申請日: 2013-09-25
• 公開（公告）號: CN103705267A
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發明（設計）人: T.弗洛爾;M.格拉斯拉克;K.施蒂爾斯托弗
• 申請（專利權）人: 西門子公司
• 主分類號: A61B6/03
• 分類號: A61B6/03
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 侯宇

1.一種用于計算機X射線斷層掃描的X射線探測器系統，具有至少一個探測器排，所述探測器排具有多個探測器模塊，所述探測器模塊分別具有多個探測器元件(13.1；13.2)，其中，沿所述至少一個探測器排，第一部分探測器元件(13.1)以相對于其各自相鄰的探測器元件的第一柵格間距(a₁)呈柵格狀布置，并且第二部分探測器元件(13.2)以相對于其各自相鄰的探測器元件的第二柵格間距(a₂)呈柵格狀布置。

2.按權利要求1所述的X射線探測器系統，其中，沿所述至少一個探測器排交替地以連續的順序布置有由至少兩個或多個第一探測器元件(13.1)以相對于其各自相鄰的探測器元件的所述第一柵格間距(a₁)排列構成的組，以及由至少兩個或多個第二探測器元件(13.2)以相對于其各自相鄰的探測器元件的所述第二柵格間距(a₂)排列構成的組。

3.按前述權利要求之一所述的X射線探測器系統，其中，所述X射線探測器系統具有探測器模塊，所述探測器模塊只具有相對于其各自相鄰的探測器元件以相同的柵格間距布置的探測器元件(13.1；13.2)。

4.按前述權利要求之一所述的X射線探測器系統，其中，所述X射線探測器系統具有探測器模塊，所述探測器模塊具有相對于其各自相鄰的探測器元件以兩個不同的柵格間距布置的探測器元件(13.1；13.2)。

5.按前述權利要求之一所述的X射線探測器系統，其中，所述X射線探測器系統具有以相對于其各自相鄰的探測器元件以至少一個與所述第一和第二柵格間距不同的另一柵格間距布置的其它探測器元件。

6.按前述權利要求之一所述的X射線探測器系統，其中，所述第一柵格間距(a₁)的所有第一探測器元件(13.1)分別并排地布置，并且所述第二柵格間距(a₂)的所有第二探測器元件(13.2)分別并排地布置。

7.按前述權利要求之一所述的X射線探測器系統，其中，對于所述兩個柵格間距適用0.5·a₁≤a₂≤0.99·a₁，尤其適用a₂=0.9·a₁。

8.按前述權利要求之一所述的X射線探測器系統，其中，所述探測器元件沿著所述至少一個探測器排尤其根據其各自的柵格間距具有至少兩種不同的長度。

9.按前述權利要求之一所述的X射線探測器系統，其中，所述探測器元件的傳感器面設計為，使得待照射表面被傳感器面基本上均勻地覆蓋。

10.一種具有按權利要求1至9之一所述的X射線探測器系統的計算機X射線斷層掃描儀，具有可旋轉的機架，其中，所述X射線探測器系統布置在機架中并且與X射線探測器系統相對地布置有X射線源。