[發(fā)明專利]一種高度篩選檢具

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310456760.9
• 申請日: 2013-09-30
• 公開（公告）號: CN103480582A
• 公開（公告）日: 2014-01-01
• 發(fā)明（設計）人: 周曉紅;朱衛(wèi)進
• 申請（專利權）人: 昆山先捷精密電子有限公司
• 主分類號: B07C5/06
• 分類號: B07C5/06
• 代理公司: 南京縱橫知識產權代理有限公司 32224
• 代理人: 董建林

技術領域

本發(fā)明涉及一種高度篩選檢具，尤其涉及一種用于篩選符合高度要求的產品的簡捷工具。

背景技術

隨著電子產品小型化發(fā)展，企業(yè)對電子產品的配件要求也越來越高，在滿足各種性能參數的情況下尺寸越小越好，比如手機配件、電腦配件的體積越小越好，高度越低越好。當關鍵零配件的高度超過一個數值后會影響到整機的裝配，達不到小型化的要求。所以在工業(yè)生產中經常需要對數碼電子產品涉及的一些關鍵零配件進行高度篩選，當高度低于一個數值時是合格的，當高度高于一個數值時則不可用。傳統(tǒng)的高度篩選檢具，是在底座上垂直設置一個側板，在側板的底部位置上設置一個開孔，開孔的高度是固定的，工人使用鑷子等工具對待測物料操作，通過此開孔即滿足高度要求，否則高度超過要求。由于開孔的高度是固定的，結構不靈活，使用過程中有諸多不便，而且工人在側板的一側操作，不方便直接在兩側來回操作，單側操作時，在使用鑷子推送待測物料末端的過程中很容易導致物料的前端翹起，很可能導致本來滿足高度要求的物料因為前端翹起而未通過高度篩選檢具，造成篩選誤差。

發(fā)明內容

本發(fā)明的目的在于提供一種高度篩選檢具，結構靈活，可以調節(jié)篩選的高度，進一步的，減少操作過程中造成的誤差。

為實現上述技術目的，達到上述技術效果，本發(fā)明通過以下技術方案實現：

一種高度篩選檢具，包括底座，其特征在于，還包括二個上擋板，上擋板上均設置有螺絲孔，底座內設置有貫穿底座的螺絲帽，螺絲穿過螺絲孔插入底座的螺絲帽中，在位于上擋板和底座之間的螺絲上固定有硅膠墊圈，所述二個上擋板之間有小于待測物料的直徑的空隙且二個上擋板的底部均與底座平行，所述二個上擋板的底部與底座之間形成用于篩選物料的通道。?

首先，可以通過旋轉螺絲對高度篩選檢具的通道高度進行調整以滿足不同待測物料的需求，校準兩個上擋板使之高度相同即可進行測量，使用靈活；其次，兩個上擋板之間有小于待測物料的直徑的空隙，工作人員可以直接在待測物料上表面進行推送等操作，可以在通道兩側直接來回進行操作，而不是僅約束在通道的一側進行操作，同時也不必擔心待測物料通過空隙直接篩選到合格側，減少誤差。

本發(fā)明的有益效果是：結構靈活，可以調節(jié)篩選的高度，進一步的，減少操作過程中造成的誤差。

附圖說明

圖1是傳統(tǒng)高度篩選檢具的結構圖；

圖2是對傳統(tǒng)高度篩選檢具初步改進的結構圖；

圖3是圖2的側面圖；

圖4是本發(fā)明一種高度篩選檢具的結構圖；

圖5是圖4的側面圖；

附圖的標記含義如下：

1：底座；2：側板；3：開孔；4：上擋板；5：通道；6：螺絲；7：螺絲帽；8：硅膠墊圈；9：空隙。

具體實施方式

下面結合附圖和具體的實施例對本發(fā)明技術方案作進一步的詳細描述，以使本領域的技術人員可以更好的理解本發(fā)明并能予以實施，但所舉實施例不作為對本發(fā)明的限定。

如圖1所示，傳統(tǒng)的高度篩選檢具，是在底座1上垂直設置一個側板2，在側板2的底部有一個開孔3，工人使用鑷子等工具對物料操作，通過此開孔3即滿足高度要求，否則高度超過要求。由于開孔3的高度是固定的，結構不靈活，而且工人在側板2的一側操作，在使用鑷子推送物料末端的過程中很容易導致物料的前端翹起，很可能導致本來滿足高度要求的物料因為前端翹起而未通過高度篩選檢具，造成篩選誤差。圖2是對傳統(tǒng)高度篩選檢具初步改進的結構圖，其側面圖如圖3所示，其描述可以參照下文本發(fā)明的高度篩選檢具的結構圖，初步改進的高度篩選檢具可以對通道5的高度調節(jié)，但是工作人員的操作還是局限于上擋板4的一側，不方便直接在兩側來回操作，單側操作時，在使用鑷子推送待測物料末端的過程中很容易導致物料的前端翹起。