[發(fā)明專(zhuān)利]晶體生長(zhǎng)速度檢測(cè)方法、控制方法及系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310455698.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104514030B | 公開(kāi)(公告)日: | 2017-01-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐永亮;廖永建;吳智洪;于海群 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 內(nèi)蒙古恒嘉晶體材料有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | C30B11/00 | 分類(lèi)號(hào): | C30B11/00 |
| 代理公司: | 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11363 | 代理人: | 陳蕾,許偉群 |
| 地址: | 015000 內(nèi)蒙古自治區(qū)巴彥淖*** | 國(guó)省代碼: | 內(nèi)蒙古;15 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶體生長(zhǎng) 速度 檢測(cè) 方法 控制 系統(tǒng) | ||
該專(zhuān)利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專(zhuān)利權(quán)人授權(quán)。該專(zhuān)利全部權(quán)利屬于內(nèi)蒙古恒嘉晶體材料有限公司,未經(jīng)內(nèi)蒙古恒嘉晶體材料有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專(zhuān)利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310455698.1/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專(zhuān)利網(wǎng)。
- 上一篇:LED租賃顯示屏
- 下一篇:膠球封裝式顯示屏模塊
- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
- 晶體生長(zhǎng)爐
- HTCVD法碳化硅晶體生長(zhǎng)裝置
- GdAl<sub>3</sub>(BO<sub>3</sub>)<sub>4</sub>晶體生長(zhǎng)助熔劑及GdAl<sub>3</sub>(BO<sub>3</sub>)<sub>4</sub>晶體生長(zhǎng)方法
- 一種確定溶液晶體生長(zhǎng)溶解度曲線的光學(xué)顯微技術(shù)
- 反饋晶體生長(zhǎng)狀態(tài)的方法、晶體生長(zhǎng)控制方法及控制系統(tǒng)
- 晶體生長(zhǎng)界面擾動(dòng)的原位探測(cè)方法、控制方法及控制系統(tǒng)
- 晶體生長(zhǎng)加熱系統(tǒng)
- 一種晶體生長(zhǎng)系統(tǒng)
- 晶體生長(zhǎng)裝置及方法
- 一種晶體生長(zhǎng)裝置
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
- 檢測(cè)方法、檢測(cè)裝置和檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法以及記錄介質(zhì)
- 檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)和檢測(cè)方法
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)設(shè)備及檢測(cè)方法
- 檢測(cè)芯片、檢測(cè)設(shè)備、檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)組件、檢測(cè)裝置以及檢測(cè)系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法及檢測(cè)程序
- 檢測(cè)電路、檢測(cè)裝置及檢測(cè)系統(tǒng)
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





