[發明專利]光脈沖紅外熱成像測量涂層厚度的方法有效
| 申請號： | 201310455288.7 | 申請日： | 2013-09-29 |
| 公開（公告）號： | CN103471513A | 公開（公告）日： | 2013-12-25 |
| 發明（設計）人： | 唐慶菊;齊立濤;劉元林;蘆玉梅;張志平 | 申請（專利權）人： | 黑龍江科技大學 |
| 主分類號： | G01B11/06 | 分類號： | G01B11/06;G01J5/10 |
| 代理公司： | 哈爾濱市松花江專利商標事務所 23109 | 代理人： | 張利明 |
| 地址： | 150022 黑龍江*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 脈沖 紅外 成像 測量 涂層 厚度 方法 | ||
【權利要求書】：
1.光脈沖紅外熱成像測量涂層厚度的方法，其特征在于，
步驟一：采用脈沖加熱設備在脈沖強度Q1下對被測涂層結構構件（1）進行加熱，同時使用紅外熱像儀（3）在采樣頻率fs下采集被測涂層結構構件（1）表面的熱圖序列T1(x,y,N)，其中x×y為紅外熱像儀像素點數，N為采集的圖像幀數；
步驟二：采用脈沖加熱設備在脈沖強度Q2下對被測涂層結構構件（1）進行加熱，同時使用紅外熱像儀（3）在采樣頻率fs下采集被測涂層結構構件（1）表面的熱圖序列T2(x,y,N)；
步驟三：將獲得的熱圖序列T2(x,y,N)和熱圖序列T1(x,y,N)相減，獲得熱波信號△T=T2(x,y,N)-T1(x,y,N)；
步驟四：對所有像素點的熱波信號△T(x,y,N)與采集幀數N之間的關系進行線性擬合，得到△T(x,y,N)=aN+b；
步驟五：根據步驟四獲得的a和b，結合公式求出被測涂層結構構件（1）的涂層厚度ec，其中αc為涂層的熱擴散系數。
2.根據權利要求1所述的光脈沖紅外熱成像測量涂層厚度的方法，其特征在于，所述脈沖加熱設備為高能閃光燈（2）。
3.根據權利要求1所述的光脈沖紅外熱成像測量涂層厚度的方法，其特征在于，所述步驟三、步驟四和步驟五均采用嵌入計算機4的軟件來實現。
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