[發明專利]測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法及其采用的試塊

有效

• 申請號: 201310455005.9
• 申請日: 2013-09-29
• 公開（公告）號: CN103454349A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發明（設計）人: 許培悠;倪鳴;顧曉輝
• 申請（專利權）人: 寶鋼軋輥科技有限責任公司
• 主分類號: G01N29/04
• 分類號: G01N29/04;G01N29/30;G01B17/00
• 代理公司: 常州市江海陽光知識產權代理有限公司 32214
• 代理人: 孫曉暉

1.一種測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法，其特征在在于：

①制作試塊；

②采用頻率為5MHz、折射角為60°的斜探頭，以1∶1的聲程在試塊上調節時基線以及靈敏度；并確定基準靈敏度、掃查靈敏度、定量線以及評定線；

③采用頻率為5MHz、折射角為60°的斜探頭，以1∶1的聲程在待測圓柱曲面上進行缺陷檢測；根據超聲波探傷儀上顯示的缺陷波長度L以及待測圓柱曲面的半徑R，計算出待測圓柱曲面近表面缺陷徑向深度H；計算公式為

2.根據權利要求1所述的測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法，其特征在在于：所確定的基準靈敏度為Φ2-6dB，掃查靈敏度為Φ2-18dB，定量線為Φ2-12dB，評定線為Φ2-18dB。

3.根據權利要求1或2所述的測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法，其特征在在于：所制作的試塊是由平面（1）和圓弧面（2）構成的柱體（3）；所述柱體（3）的軸向設有三個直徑為2mm的橫通孔（4）。

4.根據權利要求3所述的測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法，其特征在在于：所述柱體（3）的軸向長度為10～40mm；所述圓弧面（2）半徑為100～200mm；所述三個橫通孔（4）的中心自上而下與所述圓弧面（2）的弧頂的距離分別為1.5～4.5mm、8～12mm以及13～27mm。

5.根據權利要求4所述的測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法，其特征在在于：所述柱體（3）的軸向長度為25mm；所述圓弧面（2）半徑為140mm；所述三個橫通孔（4）的中心自上而下與所述圓弧面（2）的弧頂的距離分別為3mm、10mm以及19mm。

6.一種權利要求1或2所述的測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法采用的試塊，其特征在于：它是由平面（1）和圓弧面（2）構成的柱體（3）；所述柱體（3）的軸向設有三個直徑為2mm的橫通孔（4）。

7.根據權利要求6所述的測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法采用的試塊，其特征在于：所述柱體（3）的軸向長度為10～40mm；所述圓弧面（2）半徑為100～200mm；所述三個橫通孔（4）的中心自上而下與所述圓弧面（2）的弧頂的距離分別為1.5～4.5mm、8～12mm以及13～27mm。

8.根據權利要求7所述的測定圓柱曲面近表面缺陷徑向深度的方法采用的試塊，其特征在于：所述柱體（3）的軸向長度為25mm；所述圓弧面（2）半徑為140mm；所述三個橫通孔（4）的中心自上而下與所述圓弧面（2）的弧頂的距離分別為3mm、10mm以及19mm。