[發明專利]具有內部通道區段的接近傳感器裝置

有效

• 申請號: 201310454879.2
• 申請日: 2013-09-29
• 公開（公告）號: CN103727965A
• 公開（公告）日: 2014-04-16
• 發明（設計）人: 約翰·林義·龍;李凱空;譚維新
• 申請（專利權）人: 安華高科技通用IP(新加坡)公司
• 主分類號: G01D5/26
• 分類號: G01D5/26;G01S17/08
• 代理公司: 北京律盟知識產權代理有限責任公司 11287
• 代理人: 林斯凱

1.一種用于檢測外部物體的存在的接近傳感器裝置，所述接近傳感器裝置包括：

發射器，其經配置以發出輻射；

檢測器，其經配置以檢測從所述發射器發出的且從所述外部物體反射的所述輻射；及

主體，所述主體包括：

頂端；

底端；及

分隔壁，其位于所述發射器與所述檢測器之間，所述分隔壁經配置以阻擋從所述發射器發出的所述輻射直接被所述檢測器接收；

其中所述主體具有第一高度尺寸，所述第一高度尺寸從所述底端延伸到所述頂端；

其中所述主體具有平行于所述第一高度尺寸的第二高度尺寸，所述第二高度尺寸沿著所述分隔壁延伸；

其中所述接近傳感器裝置的所述第二高度尺寸比所述第一高度尺寸短以界定內部通道區段；且

其中所述內部通道區段鄰近于所述分隔壁位于所述頂端，且經配置以當所述外部物體極為接近時朝向所述檢測器傳輸所述經反射的輻射。

2.根據權利要求1所述的接近傳感器裝置，其中所述分隔壁具有頂部反射表面。

3.根據權利要求1所述的接近傳感器裝置，其中所述分隔壁包括凸塊，且所述凸塊包括所述主體的所述頂端。

4.根據權利要求3所述的接近傳感器裝置，其中所述凸塊包括頂部平坦表面，所述頂部平坦表面經配置以嚙合外表面。

5.根據權利要求1所述的接近傳感器裝置，其中所述內部通道區段包括窄部分及寬部分。

6.根據權利要求5所述的接近傳感器裝置，其中所述主體進一步包括至少一個反射表面，所述反射表面經配置以引導所述輻射的從極為接近的所述外部物體反射回來的部分朝向所述內部通道的所述寬部分。

7.根據權利要求1所述的接近傳感器裝置，其中所述第二高度尺寸大約大于所述第一高度尺寸的85％。

8.根據權利要求1所述的接近傳感器裝置，其中所述主體是有彈性的且可壓縮的。

9.根據權利要求8所述的接近傳感器裝置，其中所述主體經配置使得當所述外部物體壓縮所述接近傳感器裝置時，通過所述內部通道區段傳輸的輻射量增加。

10.一種用于檢測外部物體在外表面上的存在的接近傳感器組合件，其包括：

襯底，其具有實質上水平的平面；

光學結構，其安置在所述襯底上；

所述光學結構的頂端，其與所述外表面耦合；

所述光學結構的第一垂直高度尺寸，其從所述襯底延伸到所述光學結構的所述頂端；

第一及第二孔口，其通過所述光學結構而延伸；

發射器，其安置在所述第一孔口內用于發出輻射；

檢測器，其安置在所述第二孔口內，用于感測通過所述發射器發出的且通過所述外部物體反射的所述輻射；

其中所述光學結構的接近所述第一及第二孔口的部分具有比所述第一垂直高度尺寸更短的第二垂直高度尺寸，且在其中在所述光學結構與所述外表面之間界定內部通道區段；

其中所述內部通道區段經配置以當所述外部物體極為接近時將所述輻射從所述第一孔口傳輸到所述第二孔口。

11.根據權利要求10所述的接近傳感器組合件，其中所述光學結構包括光耦合到所述發射器及所述檢測器的至少一者的至少一個透鏡。

12.根據權利要求10所述的接近傳感器組合件，其中所述接近傳感器組合件進一步包括附接在所述襯底上的額外半導體裸片，且其中所述光學結構包括至少一個外腔，所述外腔經配置以容納所述額外半導體裸片，使得所述額外半導體裸片隱藏在所述光學結構與所述襯底之間。

13.根據權利要求10所述的接近傳感器組合件，其中所述光學結構界定凸耳部分，其用于嚙合外部罩殼的界定所述外表面的部分。

14.根據權利要求10所述的接近傳感器組合件，其中所述光學結構包括至少側內表面，用于嚙合所述襯底。

15.根據權利要求10所述的接近傳感器組合件，其中所述第一孔口包括反射表面。

16.根據權利要求15所述的接近傳感器組合件，其中所述反射表面經配置以當所述外部物體極為接近時，引導從所述外部物體反射的輻射朝向所述內部通道區段。