[發明專利]光學式坐標輸入裝置

有效

• 申請號: 201310451557.2
• 申請日: 2013-09-27
• 公開（公告）號: CN104423726B
• 公開（公告）日: 2017-03-29
• 發明（設計）人: 劉侑昕;黃博亮;陳裕彥
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G06F3/042
• 分類號: G06F3/042
• 代理公司: 北京三友知識產權代理有限公司11127
• 代理人: 湯在彥

技術領域

本發明涉及一種光學式坐標輸入裝置，特別是一種可以用于超大尺寸的光學式坐標輸入裝置。

背景技術

隨著科技的進步，觸控面板已經被廣泛應用于日常生活中，使得使用者可以更直覺地操控電子產品。在現有技術中，觸控面板通常是電阻式或是電容式的架構。但電阻式或是電容式的觸控面板僅適用于小尺寸的觸控面板，若要用于大尺寸的觸控面板時，就會造成制造成本的大幅增加。

因此在現有技術中已經發明一種光學式的坐標輸入裝置，以解決利用電阻式或是電容式的大尺寸觸控面板時成本過高的問題。請先參考圖1現有技術的光學式坐標輸入裝置的示意圖。

圖1光學式坐標輸入裝置90包括檢測區域91、第一光機模塊92、第二光機模塊93、反光邊框94與處理模塊95。檢測區域91用以供物體96接觸。第一光機模塊92與第二光機模塊93會向反光邊框94發出不可見光，再擷取經由反光邊框94反射回來的信號。若檢測區域91有物體96接近或觸碰時，物體96就會遮斷反光邊框94反射回來的光線影像，因此處理模塊95可以根據此時第一光機模塊92與第二光機模塊93擷取的影像計算出物體96的坐標。

但現有技術中使用光學式的坐標輸入裝置做到大尺寸時，例如超過100英寸時，會受限于處理模塊95本身對于接收信號的解析能力和第一光機模塊92與第二光機模塊93對于對角上的反射信號太弱的問題。若要提升處理模塊95的解析能力，要增加第一光機模塊92與第二光機模塊93的透鏡數來改善成像品質和增加解析能力。但這會使得成本大幅提高。另外，若要使角落的信號增強，可以增加第一光機模塊92與第二光機模塊93的發射亮度。但如此一來會讓靠近第一光機模塊92或第二光機模塊93的觸控點的接收信號過曝。過曝信號對于處理模塊95在執行觸控演算法時，會導致造成靠近光機模塊的觸控操作區坐標不準確。

因此，需要發明一種用于大尺寸的光學式坐標輸入裝置，以解決現有技術的缺失。

發明內容

本發明的主要目的在提供一種光學式坐標輸入裝置，其具有可以用于超大尺寸的效果。

為達成上述的目的，本發明光學式坐標輸入裝置包括邊框、第一觸控檢測區域、第二觸控檢測區域、第一檢測模塊、第二檢測模塊及處理模塊。第二觸控檢測區域部分重疊于第一觸控檢測區域，其中第一觸控檢測區域及第二觸控檢測區域用以供使用者觸控。第一檢測模塊設置于邊框上，且鄰近于第二觸控檢測區域，用以檢測第一觸控檢測區域，以在使用者觸控時產生第一觸控坐標信號。第二檢測模塊設置于邊框上，且鄰近于第一觸控檢測區域，用以檢測第二觸控檢測區域，以在使用者觸控時產生第二觸控坐標信號；其中第二檢測模塊與第一檢測模塊位于邊框上的不同平面。處理模塊電連接第一檢測模塊及第二檢測模塊，用以根據第一觸控坐標信號及第二觸控坐標信號執行坐標計算程序；藉此可同時操作第一觸控檢測區域及第二觸控檢測區域。

藉由本發明光學式坐標輸入裝置，可配合所需的觸控區域大小做延伸，可以避免因面積過大而造成解析能力不足的問題，也可解決因距離過近而造成的過曝問題。

附圖說明

圖1為現有技術光學式坐標輸入裝置的示意圖。

圖2為本發明光學式坐標輸入裝置的第一實施例的架構示意圖。

圖3A為本發明光學式坐標輸入裝置的第一實施例的正面示意圖。

圖3B為本發明光學式坐標輸入裝置的第一實施例的立體示意圖。

圖4為本發明光學式坐標輸入裝置的第二實施例的架構示意圖。

圖5A為本發明光學式坐標輸入裝置的第二實施例的正面示意圖。

圖5B為本發明光學式坐標輸入裝置的第二實施例的立體示意圖。

其符號說明如下：

現有技術：

光學式坐標輸入裝置90

檢測區域91

第一光機模塊92

第二光機模塊93

反光邊框94

處理模塊95

本發明：

光學式坐標輸入裝置1a、1b

邊框10

第一觸控檢測區域21

第二觸控檢測區域22

第三觸控檢測區域23

第四觸控檢測區域24

第一檢測模塊31

第二檢測模塊32

第三檢測模塊33

第四檢測模塊34

處理模塊41

第一光機模塊51

第二光機模塊52

第三光機模塊53

第四光機模塊54